X형광 탁상 도금층 두께 측정기

X 형광 스펙트럼 데스크탑 도금층 두께 측정기: 정확한 두께 측정, 다원적 업종 부여

X형광 스펙트럼 데스크탑 도금 두께 측정기는 * 기술과 편리한 조작이 일체화된 고성능 분석 장비로 도금 두께 측정 분야에서 중요한 역할을 하고 있다.

작업 원리와 특성

이 기구는 X선 형광 원리를 바탕으로 고에너지 X선이 샘플 표면에 비출 때 도금층의 원소가 자극되어 특징적인 X선 형광을 생성한다.이러한 형광의 에너지와 강도를 정확하게 분석함으로써 도금층의 두께를 정확하게 계산할 수 있다.그것은 무손실 검측의 현저한 우세를 가지고 있으며, 샘플을 파괴할 필요가 없고, 신뢰할 수 있는 데이터를 얻을 수 있으며, 검측 원가와 샘플에 대한 손실을 크게 줄일 수 있다.이와 동시에 그 측정속도가 빠르여 짧은 시간내에 여러 점에 대한 측정을 완성할수 있어 검측효률을 대폭 제고시킬수 있다.

정밀 측정 능력

기기 구비좋아의 측정 정밀도와 해상도는 금속 및 비금속 기체의 각종 도금층의 두께를 정확하게 측정할 수 있으며, 단층 도금층이든 복잡한 다층 도금층 구조든 모두 자유자재로 대응할 수 있다.측정범위가 광범위하여 나노급에서 밀리메터급까지의 도금층의 두께를 모두 정확하게 측정할수 있어 부동한 업종과 응용의 다양한 수요를 만족시킬수 있다.

편리한 운영 및 설계

데스크탑 설계로 컴팩트한 구성과 적은 설치 공간으로 실험실이나 생산 현장에 유연하게 배치할 수 있습니다.조작 인터페이스가 우호적이고 직관적이며 큰 사이즈의 컬러 터치스크린을 갖추고 있어 조작자가 복잡한 교육 없이 쉽게 시작할 수 있다.기기는 측정 결과의 정확성과 안정성을 확보하고 인위적인 오차와 장비 고장이 측정 작업에 미치는 영향을 줄이기 위한 자동 보정 및 고장 진단 기능도 갖추고 있다.

광범위한 응용 분야

전기 도금 업계에서 기업이 도금층의 두께를 엄격히 통제하고 제품 품질의 일치성과 안정성을 보장하는 것을 도울 수 있다;전자제조 분야에서는 회로기판, 칩 등 미소 부품의 도금층 두께를 정확하게 측정하여 전자제품의 성능과 신뢰성을 확보할 수 있다;철물, 자동차, 항공우주 등 업종에서도 부품의 도금층 품질검측에 광범위하게 응용되어 제품 연구개발, 생산과정 통제와 품질통제에 강력한 데이터 지원을 제공한다.

다음은심천시 천창미과학기술유한공사가 판매하는X 형광 분광기는 도금층을 측정하는 기구이다자세히 소개：

도금 체크:

일반적인 금속 도금층은 다음과 같습니다.

단일 레이어 두께 범위:

금도금층 0-8um,

크롬 도금층 0-15um,

나머지는 보통 0-30um 이내,

최소 0.001um까지 측정할 수 있습니다.

다중 레벨 두께 범위:

Au/Ni/Cu: Au 분석 두께: 0-8um Ni 분석 두께: 0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn 분석 두께: 0-30um Ni 분석 두께: 0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr 분석 두께 0-15um Ni 분석 두께: 0-30um

도금 층수 1-6 층

도금층의 정밀도 상대적인 차이는 보통 <5%입니다.

도금층 성분 함량: Sn-Pb합금 성분 분석;Zn-Ni 합금 성분 분석.

도금 분석 이점: 분석 PCB 골드 손가락 최소 크기 최대 0.2mm

Ni의 경우 단일 레이어 분석 정밀도(상대 차치)

요소 성분 분석:

도금 분석, 현재 흔히 볼 수 있는 도금 원소 분석은 금, 은, 주석, 동, 니켈, 크롬, 아연이다.

ROHS 및 무할로겐 검사, 고성능 SDD 탐지기는 무할로겐을 검사하여 도금층과 친환경 1기 다용도를 실현할 수 있다.

금속성분분석은 ROHS를 검측하는 동시에 금속중의 기타 각 원소의 성분함량을 검측할수 있다.

검사 정밀도:

Cr, Cd, Hg, Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn 등의 중금속

검사 한도가 1ppm에 달한다.

이러한 금속 테스트 분석에 대한 안정적인 읽기 허용 차이 측정 기기는 다음 기준에 도달했습니다.

A. 5% 이상 검출된 요소의 안정적인 테스트 읽기 상대 차이 1% 미만

B. 0.5~5% 함유된 원소를 안정적으로 검사하는 테스트 읽기 상대적 차이는 2% 미만이다

C. 검출 함량이 0.1~0.5%인 원소의 안정적인 테스트 읽기 상대적 차이는 5% 미만이다

D. 0.1% 미만의 검출 요소 테스트 읽기 상대 차이 변화율 10% 미만

측정 정밀도:

1) 정밀도 (단일 레이어):

두께 측정기의 측정 정밀도계

테스트 방법: 동일한 작동 조건에서 동일한 표준 템플릿을 5회 검사하여 측정된 평균 데이터와 표준 템플릿의 실제 데이터를 비교합니다.측정 정밀도는 측정 평균과 표준 샘플의 실제 값의 차이입니다 (평균 오차).

2) 2 층 이상:

두 층 이상의 첫 번째 층의 정밀도는 한 층의 테스트 결과에 부합하지만 두 번째 층 이상은 비교적 복잡하므로 위 층의 두께에 따라 결정해야 한다.한 층의 두께가 2um보다 작을 때, 한 층과 두 층의 테스트 정밀도는 기본적으로 한 층의 정밀도에 부합하며, 아래의 테스트 보고서를 참조하여 한 층의 금 표본 두께는 0.101um이고, 두 번째 층의 니켈 표본 두께는 4.52um이다.

에서 한 층의 두께가 2~5um일 때 두 번째 층과 세 번째 층의 테스트 정밀도를 크게 낮출 수 있으며, 두 번째 층의 오차율은 5~10%, 세 번째 층의 오차율은 15% 미만이다.

반복성:

반복 값 보장:≤±5%

반복성 검사는 계측기 교정 후: 같은 조작 조건에서 같은 검사 템플릿을 사용하여 연속 반복 검사를 하고, 연속 측정은 반드시 같은 검사점 위치에서 같은 시료를 60초 간격으로 사용해야 하며, 측정은 모두 10회 진행되며, 매번 측정값은 10회 평균값과 대비된다.

반복성 = 평균 오차 ¹ 평균값 × 100* %.

보고서 인쇄:

PDF 가능, Excel 형식으로 보고서 출력, 히스토리 데이터 조회 용이

안전한 사용, 유지 보수

기기가 매우 정밀하기 때문에, 허락 없이 기기의 케이스를 열지 마십시오. X선 소스와 탐지기를 변경하지 마십시오. 사용자 자신의 원인으로 기기가 파손되면 본사는 무책임할 것입니다.

계기의 설치는 반드시 평온해야 한다. 계기 뒤의 벽과의 거리는 30센티미터 이상이어야 한다. 반드시 표준의 220V 교류전기를 사용해야 한다. 전압이 불안정한 상황은 안정된 전원을 배치해야 한다. 콘센트는 반드시 접지가 양호해야 한다. 사용자의 전원이 요구에 맞지 않아 손실을 초래하면 사용자가 책임진다.

젖은 손으로 전원 공급 장치 부분을 만지지 마십시오. 물이 있는 손도 감전이 발생하지 않도록 기기 케이스를 만지지 마십시오.

측정할 때 고전압이 X선 소스로 흐르기 때문에 기기가 작동할 때 뚜껑을 열거나 만지려 하지 말아야 한다.고전압 소스는 자동으로 실행되거나 사용자 설명서에 따라 중단되어야 하기 때문입니다.

계기환경요구: 계기사용환경은 청결해야 하며 온도는 15 ℃ ~30 ℃ 에 적합하며 습도는≤80%, 전원 공급 장치: AC: 220V ± 5V.

이상의 세부 사항은 모두 예측할 수 없는 결과를 초래할 수 있으므로 구매자는 기본적으로 준수해야 한다.

X형광 탁상 도금층 두께 측정기