x광도금층 두께 측정기

X 스펙트럼 도금층 두께 측정기: 정밀 측정, 다원 공업 검측 능력 부여

X스펙트럼 도금층 두께 측정기는 * X선 형광 스펙트럼 분석 기술을 기반으로 한 고정밀 측정 장비로 도금, 도장, 반도체, 철물 제조 등 많은 업계에 널리 응용되어 도금층 두께의 정확한 측정에 신뢰할 수 있는 솔루션을 제공한다.

작동 방식 및 핵심 이점

이 장비의 작동 원리는 X선과 물질이 상호 작용하여 발생하는 형광 효과에 기반합니다.고에너지 X선이 샘플 표면에 비추면 도금층의 원소가 자극되어 특정 에너지를 가진 2차 X선, 즉 특징 X선을 방출한다.이러한 특징인 X선의 에너지와 강도를 정확하게 분석함으로써 장비는 도금층의 두께를 정확하게 계산할 수 있다.그 핵심적인 우세가 뚜렷하고 비파괴성검측이 그 큰 하이라이트로서 견본을 절단하거나 파손하지 않고도 두께수치를 얻을수 있으며 견본의 완전성을 보존할수 있으며 특히 진귀하거나 견본에 대한 검측에 적합하다.이와 동시에 측정속도가 빠르고 짧은 시간내에 단점 또는 다점측정을 완성할수 있어 검측효률을 크게 제고하고 대규모생산의 품질통제수요를 만족시킬수 있다.

다원적 기능 및 정확한 측정

X스펙트럼 도금층 두께 측정기는 강력한 기능을 갖추고 있어 단층, 다층 및 합금 도금층의 두께를 측정할 수 있으며 도금층의 성분도 분석할 수 있다.나노미터급부터 밀리미터급까지 도금층의 두께를 정확하게 측정할 수 있는 광범위한 측정 범위를 가지고 있으며 정밀도는 ±0.01μm에 달해 측정 결과의 정확성과 신뢰성을 확보했다.직관적인 운영 인터페이스와 지능적인 소프트웨어 시스템을 갖춘 장비로 작업자는 전문 지식이 풍부하지 않고 간단한 교육을 통해 쉽게 작업할 수 있습니다.또한 데이터 저장, 분석 및 보고 생성 기능을 통해 사용자가 측정 데이터를 관리하고 추적할 수 있습니다.

다양한 환경 및 신뢰할 수 있는 보장

환경에 적응하는 면에서 이 설비는 뛰여나 부동한 온도, 습도와 분진환경에서 안정적으로 작업할수 있으며 작업장, 실험실 등 여러가지 장소에 적용된다.또한 장비는 고품질의 X선 튜브와 탐지기를 사용하여 긴 수명과 우수한 안정성을 갖추고 있으며 장비의 유지 보수 비용과 가동 중지 시간을 줄일 수 있습니다.이와 동시에 엄격한 안전방호설계는 X선의 루출을 효과적으로 방지하고 조작인원의 안전을 보장하였다.

X 스펙트럼 도금 두께 측정기는 * 의 기술로좋아의 성능과 편리한 조작은 공업생산에서 도금층의 두께검측의 리상적인 선택으로 되였으며 제품의 품질을 제고하고 생산공정을 최적화하는데 유력한 지지를 제공해주었다.

다음은심천시 천창미과학기술유한공사가 판매하는X 형광 분광기는 도금층을 측정하는 기구이다자세히 소개：

도금 체크:

일반적인 금속 도금층은 다음과 같습니다.

단일 레이어 두께 범위:

금도금층 0-8um,

크롬 도금층 0-15um,

나머지는 보통 0-30um 이내,

최소 0.001um까지 측정할 수 있습니다.

다중 레벨 두께 범위:

Au/Ni/Cu: Au 분석 두께: 0-8um Ni 분석 두께: 0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn 분석 두께: 0-30um Ni 분석 두께: 0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr 분석 두께 0-15um Ni 분석 두께: 0-30um

도금 층수 1-6 층

도금층의 정밀도 상대적인 차이는 보통 <5%입니다.

도금층 성분 함량: Sn-Pb합금 성분 분석;Zn-Ni 합금 성분 분석.

도금 분석 이점: 분석 PCB 골드 손가락 최소 크기 최대 0.2mm

Ni의 경우 단일 레이어 분석 정밀도(상대 차치)

요소 성분 분석:

도금 분석, 현재 흔히 볼 수 있는 도금 원소 분석은 금, 은, 주석, 동, 니켈, 크롬, 아연이다.

ROHS 및 무할로겐 검사, 고성능 SDD 탐지기는 무할로겐을 검사하여 도금층과 친환경 1기 다용도를 실현할 수 있다.

금속성분분석은 ROHS를 검측하는 동시에 금속중의 기타 각 원소의 성분함량을 검측할수 있다.

검사 정밀도:

Cr, Cd, Hg, Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn 등의 중금속

검사 한도가 1ppm에 달한다.

이러한 금속 테스트 분석에 대한 안정적인 읽기 허용 차이 측정 기기는 다음 기준에 도달했습니다.

A. 5% 이상 검출된 요소의 안정적인 테스트 읽기 상대 차이 1% 미만

B. 0.5~5% 함유된 원소를 안정적으로 검사하는 테스트 읽기 상대적 차이는 2% 미만이다

C. 검출 함량이 0.1~0.5%인 원소의 안정적인 테스트 읽기 상대적 차이는 5% 미만이다

D. 0.1% 미만의 검출 요소 테스트 읽기 상대 차이 변화율 10% 미만

측정 정밀도:

1) 정밀도 (단일 레이어):

두께 측정기의 측정 정밀도계

테스트 방법: 동일한 작동 조건에서 동일한 표준 템플릿을 5회 검사하여 측정된 평균 데이터와 표준 템플릿의 실제 데이터를 비교합니다.측정 정밀도는 측정 평균과 표준 샘플의 실제 값의 차이입니다 (평균 오차).

2) 2 층 이상:

두 층 이상의 첫 번째 층의 정밀도는 한 층의 테스트 결과에 부합하지만 두 번째 층 이상은 비교적 복잡하므로 위 층의 두께에 따라 결정해야 한다.한 층의 두께가 2um보다 작을 때, 한 층과 두 층의 테스트 정밀도는 기본적으로 한 층의 정밀도에 부합하며, 아래의 테스트 보고서를 참조하여 한 층의 금 표본 두께는 0.101um이고, 두 번째 층의 니켈 표본 두께는 4.52um이다.

에서 한 층의 두께가 2~5um일 때 두 번째 층과 세 번째 층의 테스트 정밀도를 크게 낮출 수 있으며, 두 번째 층의 오차율은 5~10%, 세 번째 층의 오차율은 15% 미만이다.

반복성:

반복 값 보장:≤±5%

반복성 검사는 계측기 교정 후: 같은 조작 조건에서 같은 검사 템플릿을 사용하여 연속 반복 검사를 하고, 연속 측정은 반드시 같은 검사점 위치에서 같은 시료를 60초 간격으로 사용해야 하며, 측정은 모두 10회 진행되며, 매번 측정값은 10회 평균값과 대비된다.

반복성 = 평균 오차 ¹ 평균값 × 100* %.

보고서 인쇄:

PDF 가능, Excel 형식으로 보고서 출력, 히스토리 데이터 조회 용이

안전한 사용, 유지 보수

기기가 매우 정밀하기 때문에, 허락 없이 기기의 케이스를 열지 마십시오. X선 소스와 탐지기를 변경하지 마십시오. 사용자 자신의 원인으로 기기가 파손되면 본사는 무책임할 것입니다.

계기의 설치는 반드시 평온해야 한다. 계기 뒤의 벽과의 거리는 30센티미터 이상이어야 한다. 반드시 표준의 220V 교류전기를 사용해야 한다. 전압이 불안정한 상황은 안정된 전원을 배치해야 한다. 콘센트는 반드시 접지가 양호해야 한다. 사용자의 전원이 요구에 맞지 않아 손실을 초래하면 사용자가 책임진다.

젖은 손으로 전원 공급 장치 부분을 만지지 마십시오. 물이 있는 손도 감전이 발생하지 않도록 기기 케이스를 만지지 마십시오.

측정할 때 고전압이 X선 소스로 흐르기 때문에 기기가 작동할 때 뚜껑을 열거나 만지려 하지 말아야 한다.고전압 소스는 자동으로 실행되거나 사용자 설명서에 따라 중단되어야 하기 때문입니다.

계기환경요구: 계기사용환경은 청결해야 하며 온도는 15 ℃ ~30 ℃ 에 적합하며 습도는≤80%, 전원 공급 장치: AC: 220V ± 5V.

이상의 세부 사항은 모두 예측할 수 없는 결과를 초래할 수 있으므로 구매자는 기본적으로 준수해야 한다.

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