MiniSIMS-ToF 비행 시간 이차 이온 분광기

협상 가능업데이트05/13

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개요

MiniSIMS-ToF 비행 시간 이차 이온 질량 분광기는 R D 100 어워드 등 국제적으로 상을 받은 여러 가지 탁상 2차 이온 스펙트럼은 사이언 (SAI) 사가 혁신적으로 개발했다.이는 전통적으로 대형 초고진공 시스템이 필요한 SIMS 능력을 데스크탑 설비에 통합하여 실험실 공간과 부대 시설에 대한 요구가 매우 낮으며, 단일 샘플의 검사 비용은 기존 설비에 비해 최고 90% 절감할 수 있다.

제품 정보

비행시간 이차이온질량분석(ToF‐SIMS)은 현재 표면분석 분야에서 가장 정보가 풍부한 기술 중 하나다.그것은 펄스 이온 빔을 이용하여 샘플 표면을 폭격하여 2차 이온을 튀기고, 비행 시간 질량 분석기를 통해 이온의 질량을 정확하게 측정한다.이 기술은 시료의 가장 바깥쪽 (아나노 깊이) 의 원소, 동위원소 및 분자 구조 정보를 동시에 얻을 수 있으며, 마이크로미터급에서 밀리미터급 영역까지의 영상 분석 및 깊이 방향의 성분 분포 (깊이 분석) 를 실현할 수 있다.일반적인 원소분석수단과 달리 ToF‐SIMS는 유기물, 무기물에 대해 모두 극-좋은 검측능력을 갖고있는데 특히 미지물식별, 표면개성연구, 실효분석 및 나노박막표징 등 장면에 적합하다.

MiniSIMS-ToF 비행 시간 이차 이온 분광기R&D 100상 등 다양한 국제 수상의 영예를 안은 데스크탑 이차 이온 질량 분광기로, 세인스 (SAI) 사가 혁신적으로 개발했다.이는 전통적으로 대형 초고진공 시스템이 필요한 SIMS 능력을 데스크탑 설비에 통합하여 실험실 공간과 부대 시설에 대한 요구가 매우 낮으며, 단일 샘플의 검사 비용은 기존 설비에 비해 최고 90% 절감할 수 있다.

ToF 분석기는 전통적인 쿼드 밴드 SIMS에 비해 속도, 정보량 및 알 수 없는 사물 발견 능력에서 천연적인 이점을 가지고 있습니다.그리고 MiniSIMS-ToF는 이러한 * 기능을 데스크탑화, 낮은 운영 비용으로 구현하여 더 많은 실험실 및 산업 사용자들이 진정한 SIMS 분석에 대한 부담과 혜택을 누릴 수 있도록 합니다.

MiniSIMS-ToF飞行时间二次离子质谱仪

MiniSIMS-ToF 비행 시간 이차 이온 분광기핵심 이점:

1. 1기 다능
정적 SIMS (표면 단일 분자 계층 분석), 이미지 SIMS (공간 분포 시각화) 및 동적 SIMS (심층 분석) 의 세 가지 작업 모델을 지원하여 과학 연구에서 산업 실효 분석에 이르는 광범위한 수요를 포괄한다.

2. 비행시간 질량 분석기
ToF 기술을 채용하여 준병렬 검측을 실현하고 모든 품질 수를 동시에 채집한다.각 스펙트럼, 각 픽셀 또는 각 깊이 레이어에는 완전한 질량 스펙트럼 정보가 포함되어 있으며 분석이 완료된 후에도 데이터를 거슬러 올라갈 수 있으며 알 수 없는 성분이 누락되지 않습니다.

3. 데스크탑 컴팩트형 디자인
전체 기계의 부지면적은 0.5평방메터보다 작고 중량은 약 60킬로그람에 불과하여 일반실험대에 쉽게 설치할수 있으며 특수한 수랭이나 고공률로 전력을 공급할 필요가 없다.

4. 빠른 시작과 높은 통량
대기에서 작업 진공까지 몇 분밖에 걸리지 않으며, 효율적인 데이터 수집 능력과 함께 일상적인 분석 효율을 현저하게 향상시키며, 특히 여러 차례의 샘플 선별 검사에 적합하다.

5. 미지의 물건 식별 능력
실효 분석 및 최전방 연구에 대해 미지의 성분의 발견은 종종 돌파구이다.MiniSIMS-ToF는 전체 스펙트럼 수집 특성을 바탕으로 알려지지 않은 오염, 잔류물, 첨가물 또는 분해물을 발견하고 감정하는 강력한 도구입니다.

MiniSIMS-ToF飞行时间二次离子质谱仪