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Bowman XRF 고정밀 도금층 두께 측정기

협상 가능업데이트01/05
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin
개요
Bowman B 시리즈 XRF 고정밀 도금 측정 시스템은 보만의 기본 모델이자 일반 모델입니다.이 모델은 하향식으로 측정됩니다.고정 견본대를 갖추면 수동으로 조작할 수 있다.측정할 때 샘플을 샘플 창고에 넣고 비디오 이미지를 관찰하여 화면에 있는 십자선 안의 위치를 맞추어 측정을 완료합니다.
제품 정보

Bowman B 시리즈 XRF 고정밀 도금 측정 시스템





Bowman B 시리즈 XRF 고정밀 도금 측정 시스템 제품 소개:

Bowman B 시리즈 XRF 고정밀 도금 측정 시스템보먼의 기본 모델과 일반 모델입니다.이 모델은 하향식으로 측정됩니다.고정 견본대를 갖추면 수동으로 조작할 수 있다.측정할 때 샘플을 샘플 창고에 넣고 비디오 이미지를 관찰하여 화면에 있는 십자선 안의 위치를 맞추어 측정을 완료합니다.



Bowman B 시리즈 XRF 고정밀 도금 측정 시스템의 이점:

XRF 시스템

고해상도 솔리드 스테이트 탐지기는 2차 필터가 필요 없는 원소 분별력이 뛰어나다.피크 위치는 장시간 안정되어 있어 빈번하게 재조정할 필요가 없다.다른 같은 유형의 장비에 비해 X선 튜브와 탐지기의 폐쇄 결합 기하학적 레이아웃 광자 수가 눈에 띄게 향상되었다.

직관적인 사용자 인터페이스

Bowman 패키지 소프트웨어는 기기의 성능을 지원합니다.Bowman XR F 고정밀 도금 측정 시스템의 분석 데이터는 강력한 소프트웨어를 지원합니다. 이 소프트웨어는 직관적인 사용자 인터페이스를 가지고 조작이 간단하고 우호적입니다.측정 데이터는 배치 번호로 읽어들이고 보고서는 한 번의 클릭으로 생성할 수 있습니다.사용자는 새로운 응용 프로그램과 보고서 형식을 무제한으로 만들 수 있으며 모든 결과는 컴퓨터 데이터베이스에 자동으로 저장되고 모든 사용자 수준은 암호 보호를 설정할 수 있습니다.

광범위한 도금층 두께 측정 범위

BowmanXRF 고정밀 도금 측정 시스템은 13번 알루미늄 원소부터 92번 우라늄 원소까지 고정밀 측정 분석을 할 수 있다.

  • 싱글 레이어: Au, Ag, Ni, Cu, Sn, Zn 등

  • 합금 도금: ZnNi 합금, SnPb 합금 등 도금층 두께와 성분 비율 동시 분석

  • 이중 도금: Au/Ni/Cu, Sn/Ni/Cu, Cr/Ni/Fe 등

  • 3단 도금: Au/Pd/Ni/Cu 등

  • 최대 5 레이어 도금 분석 가능

  • 25가지 원소 성분 동시 분석 가능

  • 전기 도금 용액 중의 금속 이온 농도를 분석할 수 있다.

  • 可分析ROHS有害元素


Bowman XRF는고정밀 도금층 측정 시스템서비스 지원:

Bowman이 사용자에게 제공하는 XRF 기술 지원 및 서비스현재 Bowman은 미국 시카고 본사를 제외하고 전 세계 4대륙 20여 개국에 사무소나 기관을 설립했다.보먼은 항상 현장 기술 지원 서비스를 제공함으로써 사용자를 달성하기 위해 노력합니다.Bowman은 중국 상하이에 데모 응용 센터, 교육 센터 및 비품 부품 창고를 두고 있으며 선전, 항저우, 시안에 사무소를 두고 있다.고객에게 친절한 도금층 두께 측정 방안과 신속하고 상응하는 애프터서비스를 제공할 능력이 있다.



Bowman B 시리즈 XRF 고정밀 도금 측정 시스템 구성:

Bowman B 시리즈 XRF 고정밀 도금 측정 시스템표준 구성에는 고정 정직기, 고정 초점 거리 카메라, 고체 PIN 탐지기 및 신뢰할 수있는 품질의 마이크로 초점 X-선 튜브가 포함됩니다.다른 모델과 마찬가지로 이 모델도 여러 개의 정직기, 가변 초점 카메라 및 SDD 탐지기를 포함하도록 업그레이드할 수 있습니다.



Bowman B 시리즈 XRF 고정밀 도금 측정 시스템 측정 원리:

Bowman B 시리즈 XRF 고정밀 도금 측정 시스템은 X선 형광 원리를 이용하여 도금층과 성분을 측정한다.고에너지 X선이 금속 박막 표면을 비출 때, 입사 광자는 박막이나 기저 재료 원자의 내층 전자를 쳐서 공혈을 형성한다.외층전자가 약진하여 빈혈을 메울 때 특징적인 X선형광을 방출하는데 그 에네르기는 원소의 원자서수와 일일이 대응된다. 형광의 에네르기를 통해 우리는 견본에 어떤 원소가 존재하는가를 알수 있다. XRF의 강도를 통해 우리는 견본의 두께와 매개 원소의 성분을 분석해낼수 있다.


Bowman B 시리즈 XRF 고정밀 도금 측정 시스템 산업 응용 프로그램:

반도체

선로판

전기 도금

자동차

항공 우주

장신구/보석

커넥터

고정 부품

전자 부품

지시선 프레임

파이프

절삭 도구



Bowman B 시리즈 XRF 고정밀 도금 측정 시스템 제품 매개변수:

요소 측정 범위:

13번 알루미늄부터 92번 우라늄까지

엑스선 튜브:

50W(50kV 및 1mA) 마이크로포커스 텅스텐 표적 방사선관

탐지기:

정확도: 실리콘 솔리드 스테이트 탐지기, 해상도 190eV 이상
광학 소자: 해상도가 190eV 이상인 대형 창 실리콘 고체 탐지기

분석 능력:

5층 (4층 + 기초), 층당 10개 요소.최대 25개 원소의 성분을 동시에 분석

추가 매개 변수는 문의하여 얻을 수 있습니다.