체이스 ZEISS 초점 이온 빔 전경 Crossbeam 시리즈

체이스 ZEISS 초점 이온 빔 전경 Crossbeam 시리즈자세한 설명:

체이스 ZEISS 초점 이온 빔 전경 Crossbeam 시리즈대형 크기에서 나노 정밀도 절단에 이르는 새로운 FIB 가공 방법을 살펴보십시오.

lon-sculptor FIB 렌즈의 저전압에서의 뛰어난 성능을 활용하여 샘플의 품질을 향상시킵니다.정밀 시료의 비정화 정도를 낮추면 얇게 광택을 낸 후 뛰어난 시료 효과를 얻을 수 있으며, 동시에 빔 흐름을 빠르게 전환할 수 있는 장점이 있어 FIB의 응용을 가속화할 수 있다.

또한 FIB-SEM 3D 응용 프로그램의 채집 속도를 두 배로 향상시키는 뛰어난 빔 스트림 성능을 선택할 수 있습니다.이미지 수집 과정은 매우 안정적이며 정확하고 반복 가능한 결과를 얻을 수 있습니다.렌즈는 빔 스트림 범위가 1pA부터 100nA까지 다섯 개의 개수 레벨에 걸쳐 있도록 설계되었습니다. 100nA에 달하는 빔 스트림은 재료를 빠르고 정확하게 제거하고 절단 프로세스를 완료하는 동시에 낮은 빔 스트림에서는 3nm 미만의 높은 FIB 해상도를 얻을 수 있습니다.2μA의 발사 전류에서 작동할 때 갈륨은 LMIS (액체 금속 이온 소스) 의 일반적인 사용 수명이 3000uAh보다 높은 이온 빔에 초점을 맞춘다.자동 이온 소스 가열 기능을 통해 Crossbeam 시리즈 제품은 초장기 지속 시간의 실험을 완료 할 수 있습니다.