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일본 전자 JEOL 쇼트키장 발사 스캐닝 렌즈 IT800

협상 가능업데이트05/07
모델
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제품 카테고리
원산지 Place of Origin

개요

일본 전자 JEOL 쇼트 기장 발사 스캐닝 렌즈 IT800$r$n 반침몰식 물경은 일반 물경의 하부에 유출 자장으로 형성된 강한 자장 렌즈가 하나 더 있는 것을 말한다.JEOL의 반침몰식 물거울은 전자빔의 초점 능력을 높여 초고해상도를 실현할 수 있다.또한 샘플에서 자극된 저에너지 2차 전자를 더욱 효율적으로 수집하여 UID 검출기의 검출 효율을 높일 수 있다.

제품 정보

일본 전자 JEOL 쇼트키장 발사 스캐닝 렌즈 IT800제품 소개:

日本电子JEOL肖特基场发射扫描电镜IT800日本电子JEOL肖特基场发射扫描电镜IT800

하나,일본 전자 JEOL 쇼트키장 발사 스캐닝 렌즈 IT800고해상도 이미징

JSM-IT800은 침몰식 쇼트키 플러스장에서 전자총을 발사하고 저상차 집광렌즈와 Neo Engine 전자광학 제어 시스템을 결합해 나노급 해상도를 구현했다.2차 전자 이미지 해상도는 15kV 가속 전압에서 0.5nm에 달하며, 1kV 저전압에서도 0.7nm의 고해상도를 유지한다.이 특성은 나노 재료, 반도체 부품 등 미시적 구조를 관찰할 때 10nm 미만의 촉매 입자 분포를 선명하게 나타낼 수 있는 등 뚜렷한 장점을 가진다.

2. 유연한 모듈식 설계

다양한 물경 선택: 범용 혼합 렌즈 (HL), 고해상도 슈퍼 혼합 렌즈 (SHL/SHLs) 및 반도체를 위해 특별히 설계된 반침몰식 물경 (i/is) 을 포함한 다섯 가지 물경 모듈을 제공하여 자성 재료에서 절연체에 이르는 다양한 분석 요구를 만족시킨다.

확장 가능한 탐지기 시스템: 신형 플래시 백산란 탐지기 (SBED) 와 다기능 백산란 탐지기 (VBED) 를 장착하여 SBED는 저전압에서도 선명한 성분 대비 이미지를 포착할 수 있으며, VBED는 3D 형상과 성분 정보의 동시 획득을 지원하여 복잡한 샘플의 다차원 분석에 적합하다.

3. 지능화 조작과 효율적인 분석

통합 제어 플랫폼: SEM Center 그래픽 인터페이스를 통해 에너지 색산 X선 분광기(EDS)를 원활하게 통합하여 실시간 성분 분석과 이미지 디스플레이의 원활한 전환을 실현하고 분석 효율을 향상시킵니다.

AI 보조 기능: LIVE-AI 필터를 도입하여 실시간 이미지 품질을 최적화하고 빠른 초점과 픽셀 조정을 지원합니다.Smile Navi와 같은 옵션 소프트웨어는 초보자에게 조작 네비게이션을 제공하여 사용 문턱을 낮춘다.

자동화 조절: 자동 합축, 초점, 소상산 등 기능을 갖추고 5축 모터 구동 샘플대 (360 ° 회전 및 기울기 지원) 와 결합하여 복잡한 조작 절차를 간소화한다.

4. 광범위한 적용성과 공업 호환성

JSM-IT800은 나노기술, 반도체, 소재과학, 바이오메디컬 등의 분야에서 zhuoyue를 나타내고 있다.예를 들어, 그 슈퍼 하이브리드 렌즈 (SHL) 는 모드를 전환할 필요 없이 자성 재료를 효율적으로 분석할 수 있습니다.반침몰식 물경 (i/is) 은 반도체 부품의 횡단면 고장 분석에 뛰어나다.또한 장치는 큰 빔 흐름에서 고해상도 이미지를 지원합니다 (예:100nA@5kV), 고속 원소면 분석과 EBSD (전자 백산란 연사) 기능을 결합하여 산업 품질 검사의 빠른 검사 수요를 만족시킨다.