X선 흡수 정밀 구조 스펙트럼 RapidXAFS

오랫동안 X선 흡수 정밀 구조 스펙트럼 (XAFS) 은 각 동기 방사 광원에서만 테스트할 수 있었다.광원기는 시간이 제한되어 있기 때문에 많은 과학 연구자들의 테스트 수요를 만족시킬 수 없다.최근 몇 년 동안 XAFS 데이터는 최고의 저널의"표준"이 되어 점점 더 많은 과제 그룹이 XAFS 테스트를 필요로 하고 있습니다.XAFS를 모든 실험실에 진입시키는 이념을 가지고 중국과학원 고에너지 물리연구소와 중국과학기술대학은 공동으로 새로운 X선 흡수 정밀구조 스펙트럼 (RapidXAFS) 을 내놓았다.

X선 흡수 정밀 구조 스펙트럼 RapidXAFS제품 이점:

다음과 같은 특징이 있습니다.

• 최대 광선속 제품

  광자 통량은 1000000 광자/초/eV-4000000 광자/초/eV보다 높으며 스펙트럼 효율은 다른 제품보다 몇 배입니다.동기식 방사선과 동일한 데이터 품질 제공

• 우수한 안정성

  광원 단색광 강도 안정성 0.1% 우수, 반복 채집 에너지 드리프트 < 50 meV

• <1% 탐지 한계

  높은 광선속량, 우수한 광선로 최적화 및 광원 안정성으로 측정된 요소 함량이 >1% 일 때 여전히 고품질 EXAFS 데이터를 얻을 수 있음

• 쌍로란원 구조

  획기적으로 쌍로란원 구조를 사용하여 하나의 X선 소스 상황에서 동시에 2개의 원소 국역 구조를 표징한다
  

X선 흡수 정밀 구조(X-ray absorption fine structure, XAFS)는 재료의 국역 원자 또는 전자 구조를 연구하는 강력한 도구로 촉매, 에너지, 나노 등 인기 분야에 널리 응용된다.

X선 흡수 정밀 구조 스펙트럼 RapidXAFS주요 이점은 다음과 같습니다.

1. 장거리 질서 구조에 의존하지 않고 비결정 재료 연구에 사용할 수 있다;

2. 다른 원소의 간섭을 받지 않고 같은 재료의 다른 원소를 각각 연구할 수 있다.

3. 샘플에 대한 파괴 없이 대기 환경에서 테스트하여 제자리 테스트를 진행할 수 있다;

4. 시료 상태의 영향을 받지 않고 고체(결정체, 분말), 액체(용액, 용융상태)와 기체 등을 측정할 수 있다.

5. 배위원자의 종류, 배위수 및 원자간격 등 구조매개변수를 얻을 수 있으며 원자간격의 정확도는 0.01A에 달한다.

더블 로렌 원 구조 설계

동기식 방사선 해상도에 필적할 수 있음

XES 테스트는 N, C, O를 구분합니다.

XAFS 스펙트럼은 주로 X선 흡수 근접 구조 (XANES) 와 확장 X선 흡수 정밀 구조 (EXAFS) 의 두 부분을 포함한다.EXAFS의 에너지 범위는 대략 흡수 모서리 뒤의 50eV에서 1000eV로 X선이 자극한 내층 광전자가 주변 원자와 흡수 원자 사이의 단일 전자 단일 산란 효과의 결과에서 비롯된다.XANES는 흡수 모서리 앞의 약 10eV에서 흡수 모서리 뒤의 약 50eV까지의 범위를 포함하며, 주로 X선이 자극하는 내각층 광전자가 주변 원자와 흡수 원자 사이의 단일 전자 다중 산란 효과에서 비롯된다.

측정 가능 요소: 녹색 부분은 K 모서리, 노란색 부분은 L 모서리 측정 가능

XAFS 애플리케이션:

• 공업 촉매

• 에너지 저장 재료

• 나노 재료

• 환경독리

• 도질 분석

• 요소 분석