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상해시 포동신구 금교로 939호 207실
Shanghai Tuzhe Electronic Equipment Co., Ltd
상해시 포동신구 금교로 939호 207실

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칩급 저압 벼락 서지 발생기집적회로(IC) 또는 소형 전자부품을 위해 설계된 테스트 장비로, 뇌격, 전원 스위치 순간적 또는 기타 전자기 간섭(EMI)으로 인한 저압 서지 펄스를 시뮬레이션하여 칩의 서지 방지 능력과 보호 회로의 신뢰성을 평가한다.그 핵심 목표는 저압 작업 환경 (예: 5V, 12V, 24V 등) 의 칩을 대상으로 실제 응용 프로그램에서 발생할 수 있는 순간적 고압 충격 (예: 수천 볼트 단시간 펄스) 을 시뮬레이션하여 내성과 실효 임계값을 검증하는 것이다
응용 분야:
민간 장비 (백색 가전, AV 장비 등);
산업설비 (공업기계, 제어설비, 사무설비, 의료기기, 게임설비, 테스트설비 등);
전자부품 (제어회로기판 및 회로기판의 전자부품 등);
통신 장비 (전원 코드, 전송 회선 등);
IEC 61000-4-5EN 61000-4-5GB/T 17626.5 및관련 제품 표준 및 기업 표준