전반사 X선 형광 분광기 (TXRF) 는 액체, 부유액, 고체 및 오염물 샘플 중 주량 및 미량 (초미량 포함) 원소에 대한 신속하고 높은 감도 검사를 위해 다원소 미량 분석을 위한 과학 기기이다.
TXRF는 매우 작은 각도(일반적으로 0.1 ° 미만)의 입사 X선을 통해 시료 표면을 비추어 X선에 전체 반사 현상을 발생시킵니다.이때 입사 X선은 더 이상 샘플에 의해 산란되지 않고 샘플 표층 마이크로미터급 물질만 자극하여 특징 X선 스펙트럼을 생성한다.이 과정은 산란 광자가 탐지기 신호에 대한 간섭을 현저하게 낮추고, 배경 소음을 대폭 감소시킴 (일반 XRF에 비해 약 4체급 감소) 하여 나크 (ng) 체급 흔적 원소의 검측을 실현한다.
X선이 임계각 (보통 0.1 ° -0.5 °) 보다 작게 샘플 캐리어 (예: 쿼츠 조각) 표면에 입사되면 전체 반사가 발생하여 캐리어가 X선을 흡수하고 산란하지 않습니다.샘플 (캐리어 표면에 균일하게 전개, 두께 ≤ 100nm) 의 원소 원자가 자극되어 특징 X선 형광 (XRF) 을 발사한다;탐측기를 통해 특징인 X선의 에너지와 강도를 채집하고 에너지에 따라 원소의 종류를 식별하며 강도에 따라 정량적으로 원소의 함량을 계산한다.
특징:
고감도 및 저검출 한계: 초미세먼지 및 흔적 원소 분석에 적합합니다.
샘플 사용량이 적다: 마이크로 업그레이드 또는 마이크로 그램급 샘플만 있으면 정확한 분석을 완료할 수 있으며, 특히 샘플 양이 제한된 경우에 적합합니다.
기체 효과 없음: 전체 반사 기하학적 구성은 측정 결과에 대한 샘플 기저의 간섭을 줄이고 정량 분석이 더 간단합니다.
신속 무손실 검사: 단일 검사 시간을 5분 이내로 단축할 수 있으며 샘플을 파괴할 필요가 없습니다.
다원소분석능력: 크롬, 납 등 8대 주요중금속원소와 같은 여러가지 원소를 동시에 검측하거나 수요에 따라 근 30개 원소로 확장할수 있다.
조작이 간편하고 안전: 터치 인터페이스가 직관적이며 방사능 노출 위험이 낮아 작업자의 안전을 보장합니다.