전자현미경을 스캔하다

전자현미경을 스캔하다

고품질 이미징 및 고급 현미분분석 기능 FE-SEM

체이스 Sigma 시리즈 제품군장스캐닝 전자 현미경을 발사하다.(FE-SEM) 기술은 우수한 사용자 경험과 함께 이미지 및 분석 프로그램을 쉽게 구현하고 생산성을 향상시킵니다.새로운 재료 및 입자의 품질 모니터링 또는 생물 및 지질 샘플 연구에 사용할 수 있습니다.저전압으로 1kV 이하의 전압에서 더 나은 해상도와 라이닝을 제공하는 고해상도 이미징 기능뛰어난 EDS 기하학적 설계로 고급 현미경 분석을 수행하여 분석 데이터를 두 배의 속도와 정밀도로 얻을 수 있습니다.

·시그마 360직관적인 이미징 및 분석FE-SEM은분석 테스트 플랫폼에 이상적입니다.

· Sigma 560은 *의 EDS 기하학적 설계를 사용하여 자동 제자리 실험을 위한 높은 통량 분석을 제공합니다.

Gemini 1의 광학 시스템

Gemini 1의 광학 시스템은 물안경, 전자빔 추진기, Inlens 탐지 원리를 가진 탐지기 등 세 가지 소자로 구성되어 있다.그중 물경의 설계는 정전장과 자기장의 작용력을 결합시켜 광학성능을 크게 최적화하는 동시에 견본이 처한 장의 영향을 낮추었다.이렇게 하면 자성 재료 등 도전적인 샘플에 대한 고품질 영상도 실현할 수 있다.인렌즈 탐지 원리는 2차 전자(SE) 및/또는 배산란 전자(BSE) 탐지를 통해 효율적인 신호 탐지를 보장하는 동시에 이미지 획득 시간을 대폭 단축한다.전자빔 추진기는 작은 크기의 전자빔 반점과 높은 신호 잡음비를 보장한다.

유연한 프로브

Sigma는 새로운 탐지 기술을 통해 샘플을 표징하는 다양한 탐지기를 갖추고 있습니다.ETSE 및 Inlens 탐지기의 고진공 모드를 사용하여 표면 형태에 대한 고해상도 정보를 얻을 수 있습니다.VPSE 또는 C2D 탐지기의 가변 압력 모드를 사용하여 선명한 이미지를 얻을 수 있습니다.aSTEM 탐지기를 사용하여 고해상도 투사 전자 영상을 만들 수 있습니다.aBSD 탐지기와 같은 다양한 옵션 BSE 탐지기를 사용하여 샘플의 성분과 표면 형태를 깊이 연구할 수 있습니다.

NanoVP lite 모드

NanoVP lite 모드를 사용하여 분석 및 이미징을 수행하면 저전압 조건에서 더 높은 이미지 품질과 더 정확한 분석 데이터를 더 빠르게 얻을 수 있습니다.

·NanoVP lite 모드에서는 스커트 효과가 감소하고 빔 스트림의 경로 길이(BGPL)가 감소합니다.스커트를 줄이면 SE와 BSE 이미지의 노이즈가 높아집니다.

·5단 호가 있는 신축식 aBSD는 뛰어난 재료 성분 라이닝을 제공합니다. NanoVP lite 작업 과정에서 이 탐지기는 극화 아래에 설치된 빔 스트림 튜브를 장착하여 높은 통화량 및 낮은 전압의 성분과 표면 형상의 높은 라이닝 이미지를 제공하며 가변 압력과 높은 진공 조건에 적용됩니다.

생명 과학

원생동물 또는 곰팡이에 대한 미시적 및 나노 구조에 대한 자세한 정보를 얻고 절단면 샘플이나 얇은 조각의 초미세 구조를 얻습니다.

지구과학과 자연자원

암석, 광석, 금속을 탐색하다.

공업 응용

금속, 합금 및 분말을 연구하는 방법을 알아봅니다.