zeta 전위 분석기 입경 측정

zeta 전위 분석기 입경 측정소개:

Nicomp Z3000 시리즈 나노 레이저 입도계는 기존 클래식 모델인 380ZLS를 기반으로 업그레이드된 것으로, 동적 광 산란(Dynamic Light Scattering, DLS) 원리로 입자의 입도 분포를 감지 분석하여 입경 측정 범위가 0.3nm~10μm이다.그 부대 입도 분석 소프트웨어는 가우스 (Gaussian) 단봉 알고리즘과 * 기술을 가진 Nicomp 다봉 알고리즘을 복합적으로 채용하여 다조분, 입경 분포가 고르지 않은 분산 체계에 대한 분석에 *우세를 가지고 있다.

기술적 이점

1. 고감도 PMT 검출기;

2. 서로 다른 전력 광원을 조합할 수 있다;

3. 정확도가 높고 샘플의 실제 값에 가깝다;

4. 수상 및 유기상 샘플의 입도 및 Zeta 전위를 테스트할 수 있다;

5. 빠른 검측으로 역사 데이터를 추적할 수 있다;

6. 결과 데이터는 다양한 형식과 형식으로 나타난다.

7. USP, CP 등 여러 약전의 요구에 부합한다;

8. 교정할 필요가 없다;

9. 복합 알고리즘:

(1) 가우스(Gaussion) 정적 입도 분포와 *의 Nicomp 다봉 분포 알고리즘 자유 전환

(2) 주파수(Frequency) Zeta 전위 분석법 및 *의 위상(Phase) 분석법 자유 전환

10. 모듈식 설계는 유지 보수와 업그레이드에 편리하다;

(1) 자동 희석 가능 모듈 (옵션);

(2) 자동 샘플링 시스템 (옵션),

(3) 다각도 검출기와 함께 (옵션)

Nicomp 다봉 분포 개념

베이스라인 조정 자동 보상 기능과 고해상도 다봉 알고리즘은 Nicomp 380 시리즈 기기*의 두 가지 주요 특징이다. Nicomp 창시자 Dave Nicole은 전통적인 동적 광 산란 이론이 고스 모델의 입도 분포만 제시한다는 것을 일찍부터 인식했다. 이는 실제 생산 생활과 맞지 않는다. 왜냐하면 현실의 많은 샘플은 다분산 체계, 비단일 분산 체계이기 때문이다. 또한 고스 분포의 민감성이 부족하고 해상도가 높지 않으며 않기 때문이다. 이러한 입도 생산 생활의 실제 특징은 모두 나노미터를 사용한다.그 선구적인 개척은 Nicomp 다봉 분포 이론을 개척하여 동적 광 산란 이론의 해상도와 민감성을 크게 향상시켰다.

Nicomp 다봉 분포 우위

Nicomp 시리즈 기기는 Gaussian 분포 모드와 Nicomp 다중 피크 분포 모드에서 자유롭게 전환할 수 있습니다.이는 전통적인 DLS 시스템의 결과를 제시할 수 있을 뿐만 아니라 Nicomp 다봉 분포 모델을 통해 샘플의 정확한 상황을 구현할 수 있다.Nicomp 시리즈 기기의 우수한 알고리즘과 감도가 높은 하드웨어 설계에 기반한 Nicomp 나노 레이저 입도계는 1: 2의 다중 분산 시스템을 효과적으로 구분 할 수 있습니다.

zeta 전위 분석기 입경 측정이점:

모듈식 설계

Nicomp Z3000 나노 레이저 입도계는 전체 * 가 동적 광 산란 기술을 적용하는 데 다중 모듈 방법을 추가하는 * 입도계입니다.모듈이 업그레이드되고 증가함에 따라 Nicomp의 기능 체계는 점점 더 강력해지고 있으며 다양한 복잡한 체계의 검사 분석에 사용될 수 있습니다.

21CFR Part 11 규정 소프트웨어 옵션 - cGMP 준수

Nicomp 시리즈 기기는 미국 연방 규정 21장 11종 (21 CFR PART11) 의 요구 사항을 충족하는 소프트웨어를 갖추고 있다.데이터 자동 백업, 감사 추적, 권한 등급, 전자 서명, Lims 시스템 연결 등 다양한 기능을 제공합니다.

중국식품약품감독관리국 (NMPA) 은 의약 연구개발 기업에 대해 규범화된 GLP 관리를 실시하는 정책 추세를 보이고 있다.21 CFR PART 11 규정을 준수하는 소프트웨어를 사용하면 현재 GLP/GMP 요구 사항을 더욱 충족할 수 있습니다.