Xradia 410 Versa 선 현미경

Xradia 410 Versa 선 현미경고성능 X선 현미경과 기능이 약한 컴퓨터단층촬영(CT) 시스템 간 격차를 보완했다.Xradia 410 Versa는 업계 * 의 우수한 해상도, 명암비 및 기본 기능을 갖춘 비파괴적 3D 이미징을 제공하여 * 광범위한 샘플 양에 대한 획기적인 연구를 수행할 수 있습니다.다양한 랩 환경에서도 강력한 성능과 비용 효율적인 "주력" 솔루션으로 이미지 워크플로우 향상
유연한 샘플 크기 및 산업 유형의 4D 및 기본 기능
Xradia 410 Versa X선 현미경은 비용 효율적이고 유연한 3D 이미징을 제공하여 다양한 샘플과 연구 환경을 처리할 수 있습니다.시간이 지남에 따라 비파괴 X선 이미징은 귀중한 샘플의 사용 범위를 유지하고 확장할 수 있습니다.이 기기는 0.9μm의 실제 공간 해상도를 구현했으며 * 작은 구현 가능한 체소 크기는 100nm입니다. 고급 흡수 및 위상 대비(연질 또는 낮은 Z 소재용)는 기존 컴퓨터 단층 촬영(산업 CT) 방법의 한계를 극복하기 위해 더 많은 기능을 제공합니다.
Xradia Versa 솔루션은 프로젝션 기반 마이크로미터 및 나노 CT 시스템의 한계를 넘어서도록 과학 연구를 확장합니다.전통적인 단층 촬영은 단일 레벨 증폭 배율에 의존하며 Xradia 410 Versa는 동기식 가속기-구경 광학 시스템을 기반으로 하는 2단계 프로세스를 사용합니다.사용이 간편하고 유연한 명암비를 제공합니다.원거리 돌파 해상도(RaaD)를 사용하면 기본 환경과 다양한 현장 드릴에서 광범위한 샘플 크기의 마이크로미터 해상도를 유지할 수 있습니다.비파괴적 다중 길이 척도 기능을 사용하면 다양한 증폭 배율에서 동일한 샘플을 이미징할 수 있으므로 연속 처리(4D) 간 또는 아날로그 환경 조건의 영향을 받았을 때 재료의 미시적 구조 특성의 변화(원위치)를 나타낼 수 있습니다.
또한 Scout-and-Scan 제어 시스템은 레시피 기반 설정을 통해 효율적인 워크플로우 환경을 구현하여 Xradia 410 Versa가 다양한 경험 수준의 사용자에게 편의를 제공하기 쉽습니다.
　　Xradia 410 Versa 선 현미경우위
Xradia Versa 아키텍처는 2단계 확대 기술을 사용하여 먼 거리(RaaD)에서도 해상도를 구현할 수 있습니다.기존의 마이크로 CT와 마찬가지로 기하학적 확대를 통해 샘플 이미지를 확대합니다.두 번째 단계에서 플래시는 X선을 가시광선으로 변환한 다음 광학적으로 확대합니다.기하학적 증폭률에 대한 의존도를 줄이면 Xradia Versa 계측기가 큰 작동 거리 내에서 마이크로미터 해상도를 유지할 수 있습니다.이렇게 하면 제자리 실내를 포함하여 * 광범위한 샘플의 양을 효과적으로 연구할 수 있습니다.
비파괴 3D 이미징을 통해 가치 있는 샘플의 사용을 보존하고 확장
고공간 해상도는 <0.9μm, 체소 크기는 100nm로 낮음
낮은 Z 소재 및 소프트웨어 조직을 위한 고급 비교 솔루션
유연한 샘플링 및 유형을 위한 업계 4D 및 기본 기능
Scout-and-Scan 제어 시스템, 사용하기 쉬운 워크플로우 설정, 다중 사용자 환경에 이상적
샘플 스테이션 및 확장 소스 및 탐지기 스테이션 재로드
* 샘플 제조 필요 없음
여러 확대 감지 시스템을 통한 간편한 탐색
자동 다중 스윕 및 반복 스윕을 통한 연속 작업