초고속 지능 입도 분석기

초고속 지능형 입도분석기는 입자의 연사 또는 산란 광선의 공간 분포를 통해 입자 크기를 분석하는 기기로, Furanhofer 연사 및 Mie 산란 이론을 사용하여 온도 변화, 매체 점도, 시료 밀도 및 표면 상태 등 여러 요소의 영향을 받지 않고 측정 대기 시료를 레이저 빔에 균일하게 보여주면 얻을 수 있는 테스트 결과이다.

초고속 지능형 입도분석기는 입자의 연사 또는 산란 광선의 공간 분포를 통해 입자 크기를 분석하는 기기로, Furanhofer 연사 및 Mie 산란 이론을 사용하여 온도 변화, 매체 점도, 시료 밀도 및 표면 상태 등 여러 요소의 영향을 받지 않고 측정 대기 시료를 레이저 빔에 균일하게 보여주면 얻을 수 있는 테스트 결과이다.

현재초고속 지능 입도 분석기테스트 과정에서 모두 차광도의 선택에 직면한다. 통속적으로 차광도는 초고속 지능 입도 분석기를 사용하여 샘플을 테스트할 때 배치된 샘플 부유액의 농도이다. 차광도의 정확한 선택은 초고속 지능 입도 분석기가 입도 테스트 과정에서 중요한 절차이다. 차광도가 적합한지 또는 측정된 샘플의 농도가 적합한지는 입도 측정 결과의 대표성과 심각하게 관계된다.

초고속 지능 입도 분석기의 측정 원리는 테스트 과정에서 샘플의 농도는 샘플 중 입자 간에 서로 2차 산란이 발생하지 않는 것을 원칙으로 한다. 이론적으로 부유액이나 공기 중 입자 간의 거리가 입자 직경의 3배가 되도록 요구한다. 그러나 이 요구는 매우 파악하기 어렵기 때문에 실제 입도 테스트에서 차광비의 수치를 조정하여 입자 간에 2차 산란이 발생하지 않도록 한다.차광비는 너무 크거나 너무 작아서는 안 된다. 차광비가 너무 크면 입자의 농도가 너무 높아 2차 산란이 발생하기 쉬워 측정 결과의 오차가 커진다.차광비가 너무 낮고 시료중의 립자의 농도가 너무 낮으며 립자수가 너무 적어 시험결과의 대표성이 매우 낮으며 심지어 시험결과가 무효화될수도 있기에 시험과정에서 차광비에 대한 선택은 반복시험을 통해 정확한 측정결과를 얻어야 한다.

일반적으로 비교적 굵은 견본품의 경우 차광이 10~20% 와 같이 선택할수 있는 것보다 비교적 높으며 정상상황은 5~20% 로 될수 있다.극세사 시료의 경우 시료의 차광비를 적당히 낮출 수 있지만 일반적으로 40% 를 넘지 말아야 한다. 이는 모두 실험에서 얻은 경험수치이지만 반복적인 실험을 통해 시료시험시 차광비에 대응하는 *수치를 찾아야 한다.