테라헤르츠 시역 분광기

테라헤르츠 시역 분광기 2018/12/13 그래핀 및 2D 재료 표징 Onyx는 그래핀, 필름 및 기타 2D 재료의 전 영역 비파괴 표징을 제공하기 위해 시장에서 설계된 시스템이다.Onyx는 거시 도구와 나노 도구 사이의 공백을 보완하고 0.5mm2에서 대면적(m2)까지의 특징을 감지하여 연구 재료의 산업화 수준을 향상시킬 수 있다.Onyx는 4프로브 방법과 같은 다른 대면적 테스트 방법과 비교하여 샘플 품질의 공간 분포를 측정할 수 있습니다.라만, SEM 및 TEM과 같은 현미경 방법과 달리 수백 마이크로미터의 공간 해상도로 넓은 면적의 샘플을 빠르게 나타낼 수 있습니다.이동성 및 캐리어 밀도 Onyx는 새로운 결과를 제공하기 위해 지속적으로 기능을 개선하여 잠재력을 극대화합니다.Onyx는 이동성 및 캐리어 밀도 분석을 이전 기능에 통합합니다.이 시스템은 한 번의 측정만으로 다음과 같은 물리적 속성을 정확하게 제공합니다.σDC、직류 저항,RDC、캐리어 산란 시간, 캐리어 이동률, μ표류