상온 반도체 테스트 기민 테스트 대기 탐지대

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온라인 상담

개요

상온반도체시험기민시험대기탐침대는 반도체부품의 전기성능시험에 사용되는 중요한 설비로서 일반적으로 정밀한 기계구조, 고성능의 탐침침과 전기성능시험기구로 구성된다.탐침대는 반도체 칩, 집적 회로 및 기타 마이크로 전자 부품에 대한 직접적인 전기 성능 테스트를 수행하여 연구 및 생산에 가치 있는 정보를 제공 할 수 있습니다.탐침대는 주로 웨이퍼 가공 후, 패키징 공정 이전의 CP 테스트 단계에 사용되며, 웨이퍼의 수송과 위치를 책임지고, 웨이퍼 표면에서 정밀 기기로 더욱 안정적인 신호를 수송하여 더욱 정확한 데이터 테스트 측정을 실현한다.

제품 정보

상온 반도체 테스트 기민 테스트 대기 탐지대

상온 반도체 테스트 기민 테스트 대기 탐지대기술 매개변수;

차폐상자
소재	탄소강 분사 플라스틱
상자 크기	180mmX120의mmX80mm
상자 크기	약2KG의
상자의 창 크기	Φ42mm
견본대
견본대 재질	알루미늄 합금 (확장 가능한 진공 흡착) (확장 가능한 대지 절연)
견본대 크기	φ30.0mm
프로브
전신번호 커넥터	하네스 변환 BNC는이음매 BNC는삼동축 조인트 SMA이음매 바나나 플러그 그 중 하나를 선택하다 선 길이1.2쌀
전기성능	절연 저항 ≥5000MΩ 매체 내압 ≤500V는 전류 소음 ≤10pA의
프로브 수	4프로브 (확장 가능6프로브)
프로브 재질	텅스텐합금 프로브 (기타재료 옵션）
프로브 팁	50μm 또는10μm(기타 사양옵션）
수동 프로브 모바일 플랫폼
이동 방법	온 손에 바늘을 좀 움직이다.
X축 이동 스트로크	15mm±7.5mm(슬라이더를 수동으로 밀어야 함)
X축 제어 정밀도	≥500μm
R축 이동 스트로크	120° ±60°(프로브 스틱을 수동으로 회전해야 함)
R축 제어 정밀도	≥500μm
Z축 이동 스트로크	5mm
Z축 제어 정밀도	≤50μm(수동 스레드 조절 프로브 스틱 필요)

현재 회사는 이미 10여 개의 시리즈 수십 개의 제품을 연구 개발하여 생산하고 있으며, 제품은 실험 전기로 CVD 가스 공급 시스템 플라즈마 세척기 소형 이온 사출기 소형 도금기 석영관 진공 봉인 반도체 등을 망라하고 있다.주로 과학 연구 대학 및 광공업 기업이 신소재, 신에너지 등 분야의 물리적 특성 및 화학적 특성에 대한 연구에 적용되며, 각 대학 및 재료 연구소에 널리 판매된다.

회사와 국내 대학교, 과학 연구원의 모든 다차원적인 협력 관계, 개방 실험실을 건설하고 관련 분야의 교수, 엔지니어, 박사가 회사 제품의 연구와 개발에 참여한다.우리는 회사의 발전리념을 계승하고 엄밀한 기술연구개발능력, 과학적이고 합리적인 생산공예, 더욱 정교한 제조요구에 의거하여 제품의 품질과 봉사사업을 전심전력으로 잘하며 과학탐측기기는 시시각각 진실한 마음을 품고 당신과의 협력을 기대한다.

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