스파이크 X 형광 분광기 XEPOS 기술 매개변수

스파이크 X 형광 분광기 XEPOS 기술 매개변수

독일 스파이크 분석 기기 회사는 편광 X선을 형광 분석에 응용하는 매우 성공적인 기술을 개발했다.오늘날 고품질 사진을 촬영할 때 편광 필터가 대체할 수 없는 도구인 것처럼, 이러한 분석 기술은 이미 실험실에서 주량, 차량, 흔적 원소를 측정하는 대체할 수 없는 수단이 되었다.스파이크 분석 기기 회사는 이 기술을 지속적으로 발전시키고 있으며, 차세대 기기인 SPECTRO XEPOS 데스크탑 편광 X선 형광 분광기를 출시하였다.
스파이크 X 형광 분광기 XEPOS 기술 매개변수

SPECTRO XEPOS는 내부적으로 고성능 부품을 사용하여 뛰어난 감도와 정확성을 제공합니다.* 좋은 자극을 보장하기 위해 편광 보조 표적, 12비트 샘플 자동 교환기, 미리 설치된 어플리케이션 패키지 및 스마트 소프트웨어 모듈을 사용하여 SPECTRO XEPOS를 진정한 다기능 요소 분석기로 만듭니다.

SPECTRO XEPOS에는 공장에서 적절한 하드웨어 및 분석 방법을 미리 교정하는 등 미리 설치된 어플리케이션 패키지가 포함되어 있습니다.적합 분석: 토양, 슬러지, 오일 첨가물, 시멘트, 슬래그, 내화재, 전자 부품 RoHS 검사 등.

XEPOS형 X선 형광분광기는 각종 전자재료 및 플라스틱에서 납, 카드뮴, (수은) 등 원소분석에 널리 응용될수 있으며 검출하한선이 낮고 민감도가 높으며 안정성이 좋아 유럽 WEEE, RoHS 지령에 대응할수 있다.