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퉁안, 하문, 푸젠성
소형 HAST 노후화 시험함(HAST 노화 시험 장치), 초가속 수명 시험기라고도 하며, 고온, 고습, 고압 환경을 통해 제품의 노화 과정을 가속화하는 산업 설비로, 주로 전자 부품, 반도체, PCB 보드 등 제품의 가속 수명 테스트 및 실효 분석에 사용된다.
소형 HAST 노후화 시험함환경 응력 (예: 온도) 및 작동 응력 (제품에 가해지는 전압, 부하. 등) 을 향상시키고, 시험 과정을 가속화하고, 제품 또는 시스템의 수명 시험 시간을 단축하며, 전자 부품이 언제 발생하는지, 기계 부품의 소모와 사용 수명의 문제, 사용 수명의 고장 분포 함수가 어떤 모양을 보이는지, 비효율 상승의 원인을 분석하기 위한 시험에 사용되며, IC 반도체, 커넥터, 고분자성 재료, 자판EVA、태양광 부품 등 업계 관련 제품은 노화 수명 가속화 시험을 한다.










