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Physical and Chemical Co., Ltd
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반도체 동력학 테스트 시스템

협상 가능업데이트05/06
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개요

반도체 역학 테스트 시스템 $r$n$r$n 이화학회사가 제공하는 일대일 솔루션 및 기술 지원

제품 정보

반도체 동력학 테스트 시스템

반도체 소재/부품(Si/SiC/GaN/유기/칼슘 티타늄)을 위한캐리어 동력학 + 순식간 광전 + 전력 부품 동적 특성통합 테스트 플랫폼,이화 기기 는 일대일 전속 방안 과 전 주기 기술 지원 을 제공한다

1. 캐리어 동력학(재료급)

  • 순간광전압/광전류(TPV/TPC), 시간분별형광(TRPL), 비행시간(TOF) 이동률.

  • DLTS(깊은 에너지 레벨 순간적 스펙트럼), 전하 추출(CE), 선형 증압 하중(CELIV).

  • 해석 매개변수: 캐리어 수명, 마이그레이션, 확산 길이, 결함 밀도, 인터페이스 복합 속도.

2. 파워 유닛 동적 특성 (부품 레벨)

  • 이중 펄스 테스트(DPT): 개통/종료 시간, 상승/하강 시간, 스위치 손실, 역회복 특성.

  • 동적 Rds(on), 그리드 전하 Qg, 단락 내성(SCSOA), 바디 다이오드 퇴화 테스트.

  • 적합성: MOSFET/IGBT/SiC-MOSFET/GaN-HEMT(600V–10kV, 10A–1kA)

그림은 부분적으로만 표시

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