켈빈 프로브 스캔

켈빈 프로브 스캔시료 단일 점의 접촉 전위차(CPD)를 측정할 수 있을 뿐만 아니라 전체 시료 표면을 스캔할 수 있다.

광원이 있는 켈빈 프로브는 시료에서 전자의 표면 상태를 검사할 수 있다.전자의 표면 상태는 전하 이동에서 중요한 역할을 하는데, 이는켈빈 프로브 스캔태양광 재료와 광전화학에서 특히
중요합니다.

시료 표면을 스캔하고 전기적 특성을 검사할 가능성은 재료의 품질, 균일성 등을 정확하게 평가할 수 있다.샘플의 많은 점에 대해 수집된 일련의 CPD 값을 보다 정확하게 평가하는 데 사용할 수 있습니다.
평가 함수.

정전기 전압계

측정 기술, 응용된 분석 방법 및 측정 기구의 설계로 인해 이 측정 기구는 측정 대역 전매의 전기 표면에 비교할 수 없게 되었는데, 여기에는 전매가 포함되어 있으며, 그 중 측정된 전위는 누적보다 높다
전하가 수천 볼트에 달할 수 있습니다!

켈빈 프로브 시스템을 스캔하면 다음을 조사할 수 있습니다.

• 재료의 함수

• 페르미 에너지 수준은 컨덕터와 가격대의 가장자리에 비해

• 반도체의 유형 n 또는 p

• 반도체의 에너지 갭 /

• 표면 전위(평대역 기술의 SPV),

• 표면 흡착과 화학 흡착이 공함수에 미치는 영향은

• 서피스 상태 밀도 정보 /

• 표면 충전 및 방전 효과 /

• 소수의 캐리어 확산 길이 /

• 캐리어 복합 속도 (특히 간접 대역 갭 반도체),

• 인터페이스 정보를 묻고,

• 온도가 공함수에 미치는 영향,

• 습도가 기능에 미치는 영향은

• 표면상의 정전하 분포.

켈빈 프로브 모듈

• 켈빈 프로브 그룹은 다음과 같습니다.

• 컨트롤러 유닛,

• 프로브가 달린 켈빈 프로브 장비,

• 패러데이 케이지.

Kelvin Probe 장비:

• 실험 후 프로브를 고정하는 데 사용되는 보호홈,

• 레이저 표시기는 영역을 직접 나타냅니다.

• 기기가 패러데이 케이지로 덮여 있을 때 샘플의 광원을 처리하는 데 도움을 줍니다.

• 레이저 장벽, 탐침과 샘플의 거리를 정확하게 측정하는 데 사용됩니다.

• 골든 프로브,

• 견본대,

• 전동 XY 작업대.

프로브

켈빈 프로브 기기의 가장 중요한 부분은 프로브입니다.비교 전극은 지름이 2.5mm인 Au망으로 만들어진다.샘플 위에서 0.5mm 떨어져 있더라도 높은 노이즈 비율을 제공합니다.
마찬가지다.따라서 검사된 샘플의 표면이 거칠었는지 광택이 났는지는 중요하지 않다.진동은 전자석에 의해 발생한다.

프로브는 Instytut Fotonowy Sp. z o.o.에서 설계 및 제조한 어셈블리입니다.

견본틀

표준 Kelvin 프로브 그룹에는 두 가지 유형의 샘플 테이블이 있습니다.

• 전기 전도 기판의 샘플에 사용되는 하단 접촉 브래킷,

• 비전도 기판을 위한 상단 접촉 브래킷

패러데이 상자

전체 기기는 패러데이 케이지로 덮여 환경광과 전자기장으로부터 보호 장치를 보호한다.

기밀 패러데이 박스, 불활성 가스 흐름 시스템

CPD의 과학적 측정은 일반적으로 온도, 습도, 먼지 및 화학 오염 물질과 같은 환경 요소에 민감하며 켈빈 프로브는 불활성 가스 흐름 시스템이 있는 패러데이 케이지에 배치 될 수 있습니다.
밀봉 버전 내.

레이저 래스터

켈빈 프로브는 레이저 장벽 시스템을 갖추고 있다.시스템 자동 검측 샘플 바닥

액체탐침이 측정된 시료에 접근할 때마다 20μm의 정밀도로 시료 표면과 탐침 사이의 정확한 거리를 측정한다.

샘플 조명

측정 중에 프로브 위에 있는 광섬유에서 시료가 조명될 수 있습니다.탐침은 빛을 통과시킨다.광섬유 입력단의 빛은 LED 회전기, 제논 및 래스터 또는
다른 유형에 필요한 모든 라이트를 결합하여 제공합니다.

일반:

• 무게: 10kg,

• 크기: 40x40x45cm,

• PC 연결: USB 2.0,

• 전원 공급 장치: 230V, 50Hz 또는 115V, 60Hz,

• 측정 기술: 2채널 잠금 증폭기,

• 레이저 장벽은 자동으로 기재를 검측하고 바늘 끝이 샘플에 들어가는 것을 방지합니다.

• 보조 센서: 습도, 온도,

• 작은 램프 /

• 표면 지시에 사용되는 체크포인트의 레이저 표시기,

샘플 랙:

• 상단 접점 브래킷이 있는 자유형 솔리드 스테이트,

• 아래쪽 접점 브래킷,

• 전기 화학 브래킷,

패러데이 케이지:

표준 / 기밀, 불활성 가스 흐름 시스템,

측정 단위:

• 편향 전압 범위: -5 ¹ 5V,

• 전압 측정 해상도: 0.15mV,

• 전류 범위: 300nA, 30nA, 3nA, 300pA,

프로브:

• 프로브 유형: Au 구멍, 지름 2.5mm,

• 수직 축의 팁 위치 해상도: 20μm,

• 자동 공명 주파수 스캔 /

• 조정 가능한 진동 폭 /

• 자동으로 제거되는 기생 전류,

• 광원의 부분 투명도,

• 일반 CPD 측정 거리: 0.2–1mm,

XY 작업대:

• 소프트웨어를 통한 전기 제어,

• 크기: 50 x 50mm,

• 이동 범위: 50 x 50mm,

시범적 성과

알루미늄 표면

샘플 표면의 전기 분포:

측정 중 주변 온도:

측정 중 공기 습도:

주기성 구멍이 있는 금속 표면 샘플

샘플 표면의 전기 분포:

지속적인 측정 중 주변 온도:

지속적인 측정 중 공기 습도:

미디어 표면의 전하 분포:

알루미늄 포일의 PTFE - 샘플 표면 전하의 전기 흐름