전기화학 켈빈 프로브

전기화학 켈빈 프로브CPD(접촉 전위차) 값을 측정하고 전해질과 접촉한 전기화학 시료의 공함수를 평가한다.공함수의 측정은 반도체 물리학에서 특히 유용하다. 왜냐하면 그들은 검사된 재료에서 페르미늄급의 위치를 제공하기 때문이다.당전기화학 켈빈 프로브광원과 결합할 때 건조하거나 젖은 인터페이스가 비출 때 시료의 표면 광전압(SPV)을 측정할 수 있습니다.전기화학 켈빈 탐침에는 전용 전기화학 비색 그릇이 배합되어 있다.그곳에서 샘플은 전해질 위에 떠 있다.켈빈 프로브는 샘플의 노출 상단에 접근했다.이렇게 하면 샘플 상단에는 측정된 CPD의 전해질층에 영향을 주지 않는다.그럼에도 불구하고 시료의 밑부분은 여전히 전해질과 접촉한다.광선은 샘플의 상단 또는 하단 샘플 - 전해질 인터페이스를 밝게 비출 수 있습니다.샘플 - 전해질 인터페이스에서 발생할 수 있는 화학 반응은 CPD 측정값에 영향을 미칩니다.

프로브 모듈

프로브 키트는 다음과 같습니다.

컨트롤러 유닛,

프로브가 달린 켈빈 프로브 장비,

전기화학 비색 그릇 /

패러데이 케이지

전기 화학 켈빈 프로브 장비:

실험 후 탐침의 보호조를 주차하는 데 사용되며, 레이저 표시기는 직접 구역을 가리키며, 기기가 패러데이 케이지로 덮여 있을 때 샘플의 광원, 레이저 장벽을 처리하는 것을 돕는다. 탐침과 샘플의 거리를 정확하게 측정하는 데 사용된다. 골든 탐침, 전기화학 비색 그릇 샘플 프레임, 전기화학 비색 그릇, 샘플을 위에 놓는다.

전기화학 비색 그릇

전기화학 켈빈 탐침의 핵심 부품은 전기화학 비색 그릇 세트이며, 그 중 샘플은 비색 그릇의 상단에 직접 놓여 있다.

규격

무게: 15kg,

크기: 40x40x45cm,

PC 연결: USB 2.0,

전원 공급 장치: 230V, 50Hz 또는 115V, 60Hz,

측정 기술: 2채널 잠금 증폭기,

레이저 장벽은 자동으로 기재를 검측하고 바늘 끝이 샘플에 들어가는 것을 방지합니다.

보조 센서: 습도, 온도,

작은 램프 /

표면 지시에 사용되는 체크포인트의 레이저 표시기,

샘플 랙:

- 상단 접점 브래킷이 있는 자유형 솔리드 스테이트,

- 아래쪽 접점 브래킷,

- 전기 화학 브래킷,

패러데이 케이지:

표준 / 기밀, 불활성 가스 흐름 시스템,

측정 단위:

편향 전압 범위: -5 ¹ 5V,

전압 측정 해상도: 0.15mV,

전류 범위: 300nA, 30nA, 3nA, 300pA,

프로브:

프로브 유형: Au 구멍, 지름 2.5mm,

수직 축의 팁 위치 해상도: 20μm,

자동 공명 주파수 스캔 /

조정 가능한 진동 폭 /

자동으로 제거되는 기생 전류,

광원의 부분 투명도,

일반 CPD 측정 거리: 0.2–1mm,

XY 작업대:

소프트웨어를 통한 전기 제어,

크기: 50 x 50mm,

이동 범위: 50 x 50mm,

전기화학 비색 그릇

색상 접시 유형: 표준 / 하단 옵티컬 컴포넌트,

전극 유형: Ag/AgCl 또는 기타,

전해액 용기 재질: PTFE,

샘플 베이스: 구멍 또는 기타 Kapton 절연박,

바닥 광학 비색 그릇

광섬유: 액체 전도,

거울: 자외선 강화 또는 맞춤형,

광학 창: 석영을 녹입니다.