소개

매개 전기 상수 (ε) 란 절연 재료가 전장 작용으로 극화되는 것을 가리키며, 콘덴서 극판 사이에 전기 매체가 존재할 때의 용량 Cx와 같은 형태와 사이즈의 진공 전기 용량 C0의 비율을 말한다.손실각(델타)은 변환 전장 아래에서 전매질 내에 흐르는 전류 벡터와 전압 벡터 사이의 협각(출력 인수각사이의 여각을 말한다.손실각의 양절(tan 델타)도 매체 손실인수라고 하는데, 매체 손실각의 양절값을 가리킨다.

황화고무 매전 상수와 매체 손실각 정절값의 측정 시험 방법은 GB/T1693~2007"황화고무 매전 상수와 매체 손실각 정절값의 측정 방법"에 따라 진행할 수 있다.

테스트 전극

1. 전극 재료
   

   

2. 전극 크기

   (1) 판상 시료 전극

   1) 방법 A: 판상 시료 전극은 그림과 같다.

   

   판상 시료 전극 설정

   1 - 측정 전극 2 - 보호 전극 3 - 시료 4 - 고압 전극

판상 시료 전극 크기 (단위: mm)

2) 방법 B: 2전극 시스템을 사용한다.전극 크기가 시료 크기와 같거나 전극이 시료 크기보다 작습니다.판상 시료의 전극 지름은38.0mm ± 0.1mm, 50.0mm ± 0.1mm, 70.0mm ± 0.1mm이다.

(2) 관상 시료 전극

1) 방법 A: 파이프 시료 전극은 그림과 같다.

파이프 시료 전극 구성 (공동 주파수)

1 - 보호 전극 2 - 측정 전극 3 - 고압 전극 4 - 시료

2) 방법 B: 파이프 시료 전극 구성은 그림과 같다.튜브 시료의 전극 길이는 50.0mm±0.1mm 또는 70.0mm±0.1mm이다.

튜브 시료 전극 구성 (고주파) 1 - 시료 2 - 상단 전극 3 - 하단 전극

전극 장치

고주파 테스트를 진행할 때 테스트 주파수와 테스트 요구에 따라 스탠드 전극을 사용할 수 있다.주파수가 1MHz보다 크거나 같거나 10MHz보다 작을 경우 마이크로전극을 측정하는 것이 좋습니다.주파수가 10MHz보다 크거나 같을 경우 스탠드 전극을 적용합니다.

스탠드 전극

미전극을 측정하다

테스트 기기

1. 방법 A:

1) 테스트 기기는 작업 주파수 고압 브리지이며, 그 원리도는 그림과 같다.

작업 주파수 이압 브리지 원리도

T - 시험 변압기 Cs - 표준 콘덴서 Cx - 시료

R3 - 가변 저항 C2, C4 - 가변 커패시터

R4 - 고정 저항 G - 브리지 균형 표시기 P - 방전기

2) 측정범위: 손실각 정절(tan델타)은 0.001~1;용량(C)은 40~2000pF이다.

3) 브리지 측정 오차: 측정 시 오차가 10%를 초과하지 않는다.시료 tan델타가 0.001보다 작을 때 측정 오차는 0.001을 초과하지 않고 용량의 측정 오차는 5%를 초과하지 않는다.표준 콘덴서의 tan델타는 0.0001보다 작아야 합니다.

4) 브리지는 반드시 좋은 차폐 접지 장치가 있어야 한다.

2. 방법 B:

방법 B의 테스트 기기는 두 가지가 있다: 하나는 공명 상승법 (Q표) 이고, 다른 하나는 변전 나트륨법이다.

1) 공명상승법(Q표)의 원리도는 그림과 같다.계기 채택황화고무 매전 상수와 매질 손실각 정절값 측정기LDJD-B 입니다.

① 측정 범위: 주파수는 10kHz~160MHz, 용량은 30~540pF, Q값은 1~1000이다.

공명 상승법(Q표) 원리도

A - 전류계 Rt - 결합 저항 L - 보조 코일 C - 표준 커패시터

Cx - 샘플 V, V1 - 전압계(Q 비트)

② 측정 오차:황화고무 매전 상수와 매질 손실각 정절값 측정기LDJD-B는용량 오차는 ±1%C, Q값 ±5%입니다.관련 기기의 측정 오차는 모두 ± 10% 이다.

2) 변전나트륨법 원리도는 그림과 같다.

변전 나트륨법 원리도

C - 조절 가능 커패시터 L - 공명 코일 Cr - 튜브 마이크로 조절 커패시터

Cu - 기본 커패시터 Cx - 샘플