Ophir 레이저 반점 윤곽 분석기 센서 산업 검측

빔 분석기, 고해상도 CMOS, 넓은 스펙트럼 커버리지, USB3.0 고속 전송, 실시간 정확한 레이저 반점/에너지 분포 측정, 과폭 방지, 그림자 없음, 레이저 생산라인 품질 검사, 설비 통합, 플러그 앤 플레이, 안정적이고 내구성, 전문 소프트웨어 패키지, 산업 배치 검사 수요를 만족시킨다.Ophir 레이저 반점 윤곽 분석기 센서 산업 검측

이스라엘 Ophir가 만든공업급 레이저 빔 윤곽 검측 설비레이저 제조, 레이저 가공 설비 부대, 생산 라인 품질 검사, 과학 연구 실험 등 장면을 위해 특별히 제작되었으며, 고정밀도, 높은 안정성, 집적하기 쉬운 특성으로 레이저 업계 품질 관리 통제의 핵심 검측 도구가 되었다.장비는 1/1.8인치 2048 × 1536 고해상도 글로벌 셔터 CMOS, 3.45 μm 작은 픽셀을 사용하여 최소 34.5 μm에서 최대 5.3mm의 레이저 반점을 포착할 수 있으며, 스펙트럼은 190-1100nm를 커버하며, 자외선, 가시광선, 근적외선 연속과 펄스 레이저를 호환하여 전통적인 카메라의 근적외선 끌기, 노출 문제를 해결하고 측정의 진실성과 신뢰성을 보장한다.USB3.0 고속 인터페이스, 전체 해상도 24fps 실시간 이미징, 데이터 전송 지연 없음, 외부 트리거 동기화 지원, 생산 라인 자동화 검사에 적합;컴팩트한 사각형 본체, C형 인터페이스, 센서 내부 오목 설계로 장비 내부나 좁은 작업 공간에 쉽게 설치할 수 있어 통합 유연성을 높일 수 있다.BeamGage 전문 빔 분석 소프트웨어를 표준으로 장착하여 클릭 한 번으로 반점 크기, 타원도, 균일성, 발산각 등 매개변수 측정을 완료하고 데이터를 내보내고 추적할 수 있으며 업계 표준에 부합한다;설비는 높은 손상 방지 능력, 넓은 온도 작업 (0-50 ℃) 을 갖추고 있으며, 여러 가지 국제 규정 준수 인증을 통과하여 장기 운행이 안정적이고 유지보수가 간단하다.수입 원장 검측 설비로서 성능이 안정적이고 정밀도가 믿을 만하며 레이저 생산 양률을 효과적으로 향상시키고 품질 검사 원가를 낮추는 것은 공업과 과학 연구 분야의 레이저 검측의 우수한 방안이다.