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분자형광 분광기

협상 가능업데이트02/12
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin
개요
FL820 형광 분광기는 우리 회사가 새로 개발한 분자 형광 분광 분광 분석 기기로 분자 정성과 정량 분석에 사용할 수 있다.이 기기는 자극 스펙트럼, 발사 스펙트럼 및 형광 강도, 양자 생산율, 형광 수명, 형광 편광 등 매개변수를 테스트할 수 있어 효율적이고 정확한 형광 분석을 실현하기 위해 강력한 보장을 제공한다.이밖에 FL820 형광분광기는 액체, 분말, 박막 등 여러가지 견본형태와 호환되여 재료연구, 약품분석, 생화학 및 림상검사, 수질검측, 식품안전검측 등 분야에서 정성정량분석수요를 쉽게 실현할수 있다.
제품 정보

1. 계기의 특징

1. 정해진 시간 내에 형광 강도 스캐닝을 할 수 있다.

2. 파장 스캔은 반복 스캔을 측정하고 0-180분 동안 반복 주기를 설정합니다.

3.정발사 파장, 자극 단색기는 설정 파장 범위 내에서 스캔한다.

4.정격발파장, 발사단색기는 설정파장범위내에서 스캔한다.

5. 동기화 스캔: 발사 및 발사 파장을 동시에 입력하고, 발사 단색기와 발사 단색기는 동시에 설정된 파장 범위와 샘플링 간격에서 스캔한다.

6. 시간 스캔이 끝나면 신호 잡음비를 계산할 수 있다.

7. 파장법을 사용하여 정량하고 표준 농도의 각 점을 통해 다각형 표준 곡선을 그립니다.

8. 알려진 표준 데이터를 수동으로 입력하여 표준 커브를 그릴 수 있습니다.

9. 측정 데이터와 표준 곡선을 화면 창에 동시에 표시할 수 있으며, 표준 곡선을 획득하여 동시에 샘플 측정을 수행하고 농도를 계산할 수 있다.

10.표준 곡선을 준비할 경우 단일 파장, 이중 파장, 3 파장의 계산을 수행 할 수 있습니다.

11. 데이터 수집의 간격 파장을 설정할 수 있습니다.

12.3차원 스펙트럼, 자극, 발사된 2차원 스펙트럼은 파장과 피크를 동시에 표시하고 추적할 수 있다.

2. 부대

1. 소프트웨어