소형 프로브 냉열대

HCP421V-PM는소형 프로브 냉열대단독으로 사용하거나 현미경/분광기와 함께 사용할 수 있습니다.-190 ℃ ~400 ℃ 범위 내에서 온도를 조절할 수 있으며, 동시에 탐침 전기 테스트, 광학 관찰 및 샘플 가스 환경 제어를 허용한다.탐침대 위 덮개와 하각은 진공을 뽑을 수 있는 밀폐강을 구성하며, 질소 등 보호기체를 안에 충전하여 샘플이 음온에서 서리가 내리거나 고온에서 산화하는 것을 방지할 수 있다.

소형 프로브 냉열대특징:

현미경/분광기에 사용할 수 있는 미니 온도 제어 프로브

-190 ℃ ~ 400 ℃ 프로그래밍 가능한 온도 제어 (음온은 액체 질소 냉각 시스템을 배합해야 한다)

26mm 가열구역

진공 을 뽑을 수 있는 강체 를 보호 기체 에 충전하여 사용할 수도 있다

SMA 커넥터-BNC 쿼드 프로브, 수동 점침

* 6프로브 옵션 * pA 레벨 테스트용 3동축 커넥터 옵션

온도 제어 매개변수:

온도 범위 -190 ℃ ~ 400 ℃ (음온은 액체 질소 냉각 시스템을 배합해야 한다)

센서/온도 제어 방식 100º 플래티넘 RTD/PID 제어(LVDC 노이즈 감소 전원 공급 장치 포함)

최대 가열/냉방 속도 30℃/min

최소 가열/냉방 속도 ±0.01℃/min

온도 해상도 0.01℃

온도 안정성 ±0.05℃(>25℃), ±0.1℃(<25℃)

소프트웨어 기능은 온도 제어 속도를 설정할 수 있고, 온도 제어 프로그램을 설정할 수 있으며, 온도 제어 곡선을 기록할 수 있다

전기학 매개변수:

프로브는 기본적으로 텅스텐 재질의 플랭크 프로브입니다. * 다른 종류의 프로브를 선택할 수 있습니다.

프로브 받침대 레버식 프로브 브래킷, 점침 강도가 더 크고 전기 접촉성이 더 좋다

점침 수동 점침, 각 탐침 받침대는 샘플 구역의 임의의 위치에 점착할 수 있다

프로브 인터페이스는 기본적으로 SMA 커넥터에서 BNC로 변환됩니다.

* 캐비티 내 배선 기둥 추가 가능 (샘플 접전 지시선)

샘플 테이블 전위는 기본적으로 전기 접지이며, 전기 서스펜션 (백전극) 을 선택할 수 있고, 삼동축 인터페이스를 선택할 수 있다

비자성 개조 본체는 비자성 재질로 바꾸어 제조할 수 있으며, 변온 홀 효과 탐지기 테스트에 사용된다

옵티컬 매개변수:

광선로 반사 광선로 * 투사 광선로 모델 추가

분리 및 교체가 가능한 창 조각

최소 대물렌즈 작동 거리 8mm* 단면도에서 WD

투광공 상단에는 기본적으로 통광공이 없으며, 투사광로를 지원하기 위해 통광공을 증설할 수 있다

상부 덮개 창 조각 관찰 창 조각 범위18mm, 최대 시야각 ± 45 ° * 단면도 중 × 1

음온 하창 조각 서리 제거 드라이 서리 제거 파이프

구조 매개변수:

가열 영역 / 샘플 영역 26mm

샘플 캐비티 높이 5.8mm* 샘플 최대 두께는 프로브에 의해 결정됨

로프트는 뚜껑을 연 후 샘플을 넣고 바늘을 눌러, 뚜껑을 닫은 후 프로브를 움직일 수 없다

분위기 제어 진공 흡입 가능한 강체, 보호 기체 충전 사용 가능

케이스 냉각 기능은 상온에서 케이스 온도를 유지하기 위해 물을 순환시킵니다.

수평 또는 수직으로 설치 방법

台体尺寸/重量180 mm x 130 mm x 27 mm/1600g

구성 목록:

기본 구성 HCP421V-PM 온도 제어 프로브, mK2000B 온도 제어기, 케이스 순환 수냉 시스템

옵션 액세서리 장착 브래킷, 테스트 소스, 진공 시스템, 3동축 BNC 커넥터, 스탠드 전기 서스펜션, 샘플 접전 지시선