안과 렌즈용 레이저 윤곽계

협상 가능업데이트01/08

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개요

PF-60LS 안과렌즈용 레이저 프로파일러는 안과렌즈 업계에 적합한 비접촉식 프로파일러로 접촉경(콘택트렌즈, RGP, 공막경, OK거울, 각종 반제품 및 금형 등), 인공수정체 IOL, ICL, 안경편 등의 표면윤곽형태와 거친도 등 다양한 안과렌즈를 측정할 수 있으며 측정범위가 넓고 측정정밀도가 높으며 조작방법 등의 특징이 있다.

제품 정보

대면적 고속측량

반경이 0.5um에 불과한 레이저 반점은 고정밀 XY 전기 플랫폼과 함께 마이크로미터급(XY=0.1um, Z=0.01um)의 정밀도에서 최대 60x60x10mm의 물체를 한 번에 측정할 수 있다.

예를 들어, NIST 간격 표준 블록을 측정할 때 0.8mm 사각형 영역 (128000포인트) 을 6분 만에 측정할 수 있어 기존 장비의 1시간 20분보다 측정 시간을 크게 단축할 수 있다.

眼科镜片用激光轮廓仪

절삭 후 렌즈 표면 측정

眼科镜片用激光轮廓仪

기본 호 곡률 반지름 측정

眼科镜片用激光轮廓仪

기본 호 곡률 반지름 측정의 재현성

眼科镜片用激光轮廓仪

맞춤 다호 세그먼트 프로파일의 곡률 반지름 및 지름 분석

眼科镜片用激光轮廓仪

서피스 플랫 측정

眼科镜片用激光轮廓仪

표면 거친도 측정

眼科镜片用激光轮廓仪

기술 매개 변수:

기계적 부분
동작 축	X축	Y축	Z1은축 (측정용)	Z2는축 (위치용)
측정 범위	60mm	60mm	10mm	60mm
해상도	0.1um	0.1um	0.01um의	0.1um
눈금자 방식	광학 눈금자	광학 눈금자	광학 눈금자	펄스 제어
측정 정밀도 (L= 거리 측정mm)	(2+4L/100) um	(2+4L/1000) um	(0.3+0.5L/10) um	-
자동 초점 시스템	재현성	σ= 0.03μm(미러 반사 샘플)
	초점 반점	Φ= 1um（100X물경)
	라이트	반도체 레이저 (635nm, 최대1mW，클래스-2）
	측량물경	100X(작업 거리3.4mm, 숫자 구멍 지름0.8） 관찰 배율 약1100X는（19인치 디스플레이 시)
	포지셔닝 렌즈	5X(슬라이딩 전환)【뷰】
	조명	콜러 조명 광로(흰색LED는광원)
기타	XY는적재대	210 * 210mm
	샘플 높이	최대70mm
	샘플 무게	최대4kg
	장치 크기	호스트400 * 400 * 450mm
	방진 기능	3점 지원 패드(고유 주파수: 수평 방향2.1Hz의, 수직 방향3.3Hz의）
	장치 무게	31Kg의
제어 부분
작업 인터페이스		컴퓨터 (윈도우운영 체제)
모션 컨트롤러		4축 컨트롤러 (MSCN-4N의）
총 전력 소비량		250W

다양한 측정 원리 장치에 대한 비교 표:

항목 비교	PF-60LS는	is-830은

측정 원리	비접촉식	비접촉식
측정 방법	단일 레이저 자동 초점 반사식	광학 상간 단층 스캐닝 (OCT는) 계층 구조
측정 객체	최종 품목 렌즈, 반제품, 몰드	최종 품목 렌즈, 반제품, 몰드
렌즈 측정	하드 미러 (RGP는, 뿔 플라스틱, 공막 거울 등)	하드 미러 (RGP는, 뿔 플라스틱, 공막 거울 등) 소프트 미러 (하이드로겔, 실리콘 하이드로겔 등)
측정 매개변수	서피스 프로파일, 플랫 및 굵기	서피스 프로파일
측정 매체	공기 중	공기 중 또는 용액 중
표면 윤곽선 맞춤	있다	있다
비구면 측정 및 맞춤	있다	없음
표면 조잡도 기능	있다	없음
측정 광원	635nm레이저 (최대1mW）클래스-2	830nm레이저 (2x3mW）클래스-3R
측정 영역 (범위)	60 * 60 * 10mm	Φ20mm * 10mm
해상도 측정	수평0.1um, 수직0.01um의	수평1um, 수직0.1um
측정 정밀도	수평2um, 수직0.35um의	수평5um, 수직0.5um (용액 중 50 ~ 곱하기100배）
반복성 측정	σ= 0.03μm	수평10um, 수직0.5um (용액 중 곱하기10~20배）
바디 치수	400 * 400 * 450mm	160 * 360 * 240mm
바디 무게	31Kg의	5Kg의
구성	바디 측정하기+모션 컨트롤러+ PC	바디 측정하기+레이저 캐비닛+ PC

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