프로필 전자 FS800 반도체 파라미터 분석기

프로필 전자 FS800 반도체 파라미터 분석기소개:

FS800 부품 파라미터 분석기는 개륜전자의 차세대 반도체 부품 전기학적 특성 분석 설비로 기능이 전면적으로 배치되는 유연성 등의 특징을 가지고 있으며, 한 설비에서 전류전압 (IV) 테스트, 용량전압 (CV) 테스트, 빠른 파형 발생 및 테스트, 저주파 소음 테스트 및 고속 시역 신호 수집을 실현하여 신소재 및 신부품 연구, 전성 파라미터 테스트, 부품, 데이터 모델 테스트 등 분야에 널리 응용할 수 있다.

직관적인 18.5인치 터치스크린 인터페이스를 갖춘 이 기기는 자체 개발한 테스트 하드웨어 아키텍처와 데이터 버스를 사용하며, 고효율 확장 가능한 반도체 표징 시스템 본체는 최대 24개의 자체 연구 고정밀 SMU, 또는 132채널의 저누전 매트릭스 스위치를 장착할 수 있다.또한 필요에 따라 고속 파형 발생 및 테스트 키트 및 고정밀 LCR 모듈을 옵션으로 장착할 수 있으며, 단일 장치를 통해 다양한 웨이퍼 레벨 전기 매개변수 자동화 테스트 솔루션을 제공합니다.기기에 내장된 LabExpress 테스트 소프트웨어는 풍부한 내장 테스트 알고리즘 라이브러리를 갖추고 있으며, 개론 테스트 장비, 타사 계기, 반자동 및 전자동 탐침대 등의 설비를 효율적으로 협동 제어할 수 있다.

FS800의 포괄적이고 유연한 테스트 분석 능력은 반도체 부품과 공정의 연구 개발 평가 과정을 크게 가속화하여 각종 반도체 실험실과 생산 라인 테스트 수요를 만족시킬 수 있다.

응용 분야:

•CMOS는매개변수 테스트

- MOSFET와BJT는트랜지스터 파라미터 테스트

-다이오드와PN매듭 매개변수 테스트

- MEMS및 센서 매개변수 테스트

• 신소재 신부품 매개변수 테스트

-박막 트랜지스터, 디스플레이 부품 파라미터 테스트

-2차원 재료, 광전 탐지기 파라미터 테스트

-비휘발성 스토리지 및 재료 매개변수 테스트

-신경형태 부품, 기억저항기 등 파라미터 테스트

-플렉시블 전자 부품, 웨어러블 전자 부품 파라미터 테스트

• 반도체 부품 특성 분석

• 반도체 부품 모델링

• 반도체 부품 신뢰성 테스트

• 생산라인 테스트

• 확장성이 뛰어난 하드웨어 플랫폼

-자체 개발한 테스트 하드웨어 아키텍처 및 데이터 버스

-최대 지원 24 개SMU는, 또는 132 채널 매트릭스 스위치

-동시 지원 가능SMU는단일 데스크탑 장치에서 웨이퍼 구현을 위한 매트릭스 스위치 모듈

레벨 전기 매개변수의 자동화 테스트

-다중 채널 병렬 및 다중 지점 병렬 테스트 지원

-확장 가능GPIB는인터페이스

-확장 가능PXI는섀시

•FS810은고정밀SMU는

- 0.1fA고해상도

-최대 전류 측정 정밀도15fA는

-최대 전압200V, 최대 전류1A는, 최대 DC 전력20W

- 1.5MS/s샘플링 속도의 시역 신호 수집

•FS821은저누전 매트릭스 스위치 출력 모듈

- 12삼동축 출력 커넥터 개

- 200V부하 전압,1A는부하 전류

- 100fA오프셋 전류

- 30MHz의대역폭

•FK401B는빠른 파형 발생 및 테스트 키트

- 2개 빠른IV채널, 최대 전압10V, 최대 전류10mA의

- 100MS/s샘플링 속도의 고속 시역 신호 수집

-빠른 펄스IV테스트, 최소 펄스 폭130ns

-지원SMU는직통

-최대 확장 가능 5 개 모듈 (10 通道）

•FS338/FS339의고정밀LCR는모듈

- 40V직류 편압 범위

- FS338대역폭:20Hz ~ 2MHz

- FS339대역폭:20Hz ~ 10MHz