계기 표면 과립물 분석기

Fastmicro는계기 표면 과립물 분석기(SAS)

Fastmicro는계기 표면 과립물 분석기,"테이프 접착"샘플링 기술을 기반으로 한 표면 오염 검사 도구로, 간접 측정 방식을 통해 0.5um까지 작은 입자 오염물을 식별할 수 있다.전용 PMC 샘플링 카드가 장착되어 있어 닿기 어려운 영역과 거친 표면을 포함한 다양한 표면에서 유연한 샘플링을 구현할 수 있으며 감지 가능한 흔적이 남지 않습니다.이 장치는 225 mm2 샘플링 영역의 분석을 수초 내에 완료하여 정확한 검사 결과를 신속하게 얻을 수 있습니다.2인치 웨이퍼 브래킷을 조합하면 침강 입자를 검사할 수도 있어 업계 간 복잡한 장면의 검사 수요를 만족시킬 수 있다.

제품 특징

• ISO 14644-9 준수: 사용자 인터페이스에서 인증된 PDF 보고서 생성

• 검사 범위: 0.5um 미만의 입자 검사 가능

• 안정성: 90% 채집 효율 <>90% 반복성

• 신속: 10초 이내에 테스트 완료

수초 내에 표면 청결도 측정 완료

신속성:몇 초 이내에 이미징 가능

정량:추적 가능한 정량화 결과

간편한 운영:작업 결과는 작업자의 영향을 받지 않습니다.

•생산 라인의 품질 관리 통제에 사용되는 즉각적인 판정

• 개발자를 위한 추가 데이터 분석

• 모니터링, 신속한 검증 및 통계 프로세스 제어

정확성:고해상도 측정 (수량, 위치, 크기)

안정:다중 측정 결과 높은 반복성

하이패스:즉시 합격 / 불합격 결과를 주다

계측 표면 미세먼지 분석기(SAS)

해당 학과이 기구는 샘플링기를 통해 표면의 과립 오염 수준을 간접적으로 측정한다.샘플러 사용 편의성사용자는 수시로 각종 제품과 부품에서 과립오염견본을 채집한다.

샘플러를 사용한 간접 측정

샘플러를 사용하면 닿기 어려운 부분과 상대적으로 거친 표면까지측량에 의지하다.인증된 공급업체로부터 샘플링이 교차 오염되지 않습니다.

분석기는 몇 초 이내에 샘플링 테스트를 완료하여 테스트 워크플로우를 제어할 수 있습니다.1분 이내.샘플러는 샘플러 브래킷에서 운송, 재측정 및 이송 가능단계 분석.

간접 테스트를 위한 접착 샘플링 (스탠드 포함) 및먼지 감지용 2인치 웨이퍼 키트

이러한 적응성을 통해 여러 행에 적용 가능업계의 다양한 테스트 시나리오는 신뢰할 수 있는 측정 데이터를 제공하고 오염 수준을 깊이 있게 통찰할 수 있다.