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Inframet ST 단파 적외선 카메라 테스트 시스템

협상 가능업데이트01/02
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개요

ST 테스트 시스템은 일련의 다른 표적을 사용하여 표준 표적 도형을 테스트된 단파 적외선 카메라에 투영한다. 단파 적외선 카메라가 왜곡된 표적 이미지를 생성하는 것은 컴퓨터가 수집하고 사람의 주관적 또는 소프트웨어로 단파 적외선 카메라의 중요한 매개변수를 계산한다.ST 테스트 시스템은 반사식 평행 광관, 대역폭 광원, 중온 흑체, 회전 표적 바퀴, 표적 세트, 필터 세트,PC,이미지 수집 카드 및 테스트 소프트웨어로 구성되어 있습니다.

제품 정보

    개요:
    SWIR 카메라(단파 적외선)는 중요한 감시용 광전 카메라다.첫째, InGaAs 기술의 발전과 성숙은 저비용 단파 적외선 카메라의 발전을 촉진했습니다.둘째, InGaAs 카메라는 매우 어두운 밤에 매우 민감하기 때문에 더 선명한 이미지를 생성할 수 있습니다.다시 한번, 가시광선/근적외선 대역에서 작동하는 단파 적외선 카메라는 TV/LLTV 카메라에 비해 깨끗한 공기 환경에서 쉽게 손상되지 않습니다;또 단파 적외선 카메라는 적외선 열화상기보다 작은 광학 시스템을 사용하면 더 높은 해상도의 이미지를 생성할 수 있다.


    Inframet ST 短波红外相机测试系统
  • ST 테스트 시스템 원리도


  • 단파 적외선 카메라는 TV/LLTV 카메라와 원리가 유사하며, 관찰된 목표물에서 발생하는 방사선 반사를 이용하여 이미지를 얻는다.이와 동시에 단파적외선카메라도 피시험목표에서 산생된 열복사를 리용하여 적외선열화상기와 류사한 영상을 생성할수 있다.이상의 기능 설명에 따르면, 단파 적외선 카메라의 테스트는 TV/LLTV 카메라의 원리를 테스트하거나 적외선 열화상 카메라의 테스트 원리에 따라 진행할 수 있다.InGaAs FPAs의 매개변수는 단파 적외선 카메라를 나타내는 데 사용될 수도 있습니다.
    ST 테스트 시스템은 일련의 다른 표적을 사용하여 표준 표적 도형을 테스트된 단파 적외선 카메라에 투영한다. 단파 적외선 카메라가 왜곡된 표적 이미지를 생성하는 것은 컴퓨터가 수집하고 사람의 주관적 또는 소프트웨어로 단파 적외선 카메라의 중요한 매개변수를 계산한다.ST 테스트 시스템은 반사식 평행 광관, 대역폭 광원, 중온 흑체, 회전 표적 바퀴, 표적 세트, 필터 세트,PC,이미지 수집 카드 및 테스트 소프트웨어로 구성되어 있습니다.
    피쳐:

    1. 세 가지 다른 상황을 시뮬레이션할 수 있습니다.
    1) 반사 다색 복사 구조(시스템은 SAL 광원을 사용함).
    2) 방사선 배치 발사(시스템은 MTB 중온 흑체를 사용);
    3) 단색 라이트 구성(SAL 라이트 구성에는 패스 필터가 있음).
    2. 광학 구경이 100mm 미만인 단파 적외선 카메라의 테스트를 지원한다;
    3. 매우 어두운 밤 환경과 매우 밝은 낮 환경을 시뮬레이션할 수 있다;
    4. 시뮬레이션 목표를 지원하는 온도는 600에 달한다oC;
    5. 모듈: CDT1000 평행 광관, SAL 광원, MTB-2D 중온 흑체, MRW-8 회전 표적 바퀴, 표적 세트, 1550nm 대역 통과 필터, 이미지 수집 카드, MTB 제어 프로그램, SAL 제어 프로그램, TAS-S 프로그램;
    6. 컴퓨터화 테스트 시스템, 반자동 테스트 단파 적외선 카메라의 중요한 매개변수;
    1) Mode I: 해상도, MRC(최소 분별 명암비), MTF(전달 함수로 조정), Distortion(기형), FOV(시각), 민감도, SNR(신음 비율), NEI(소음 동등성 입력), FPN(고정 그래픽 노이즈), non-uniformity(비균등성) 등성;
    2) Mode II: MRTD(최소 분별 온도차, MDTD(최소 탐지 온도차), MTF(전달 함수로 조정), NETD(소음 등가 온도차), FPN(고정 그래픽 소음) 등;
    3) Mode III: (Mean Detectivity(평균 탐지율), Noise Equivalent Irradiance(노이즈 등가 스포크 밝기), 노이즈, 동적 범위 등.