고해상도 스캐닝 렌즈

Quattro SEM은 환경 진공 기능을 갖춘 매우 유연하고 다기능고해상도 스캐닝 렌즈이미징 및 분석 전체 성능을 환경 모드 (ESEM) 와 결합하여 샘플 연구를 자연 상태에서 수행 할 수 있습니다.

Quattro SEM은고해상도 스캐닝 렌즈매개변수:

발사원: 고안정형 쇼트키장 전자총 발사

해상도:

확대 배율: 6 ~ 2500000 x
가속 전압 범위: 200V ~ 30kV
프로브 전류 범위: 1pA – 200nA, 연속 조정 가능
X-Ray 작동 거리: 10mm, EDS 체크 아웃 각도 35°
샘플실: 왼쪽에서 오른쪽으로 340mm 너비의 큰 저장 공간, 샘플실은 12개의 인터페이스 수를 확장할 수 있으며, 스펙트럼 인터페이스 3개를 포함한다 (그 중 2개는 180도 대각 위치에 있다)

견본대 및 견본:

탐지기 시스템:

최대 4개의 신호를 동시에 감지

샘플실 고진공 2차 전자탐지기 ETD
저진공 2차 전자 탐지기 LVD
가스 SED(GSED, 환경 스캔 모드용)
견본실 내 IR-CCD 적외선 카메라(견본대 높이 관찰)
샘플 탐색용 컬러 옵티컬 카메라 Nav-Cam™

제어 시스템:
운영 체제: 64: GUI(Windows10), 키보드, 옵티컬 마우스
이미지: 24인치 LCD 모니터, WUXGA 1920 × 1200
최대 4개의 뷰를 동시에 활성화할 수 있는 맞춤형 이미지 사용자 인터페이스
내비게이션 몽타주
Undo 및 Redo 기능을 지원하는 소프트웨어