고정밀 XRF 요소 분석기

고정밀 XRF 원소 분석기는 X선을 이용하여 시료의 원자를 자극하여 특징 형광 X선을 발사한다.각 원소는 탐지기에 의해 수신 된 후 데이터 분석을 통해 샘플의 다양한 원소의 농도를 결정할 수있는 특정 형광 X선 에너지를 가지고 있습니다.

1.자극원: 기기 내부에 고에너지 X선관을 자극원으로 설치하여 고에너지 X선을 생성하여 샘플을 자극한다.

2.샘플 분석: 샘플은 샘플 실내에 배치되어 X선이 샘플을 비추고 원소의 형광 복사를 일으킨다.

3. 신호 탐지: 탐지기는 시료가 발사하는 형광 X선을 포착하여 전기 신호로 변환합니다.

4. 데이터 처리: 전문적인 소프트웨어를 통해 신호를 분석하고 샘플의 각 원소의 함량 보고서를 생성한다.

1.고정밀 및 고감도: 고정밀 XRF 요소 분석기는 고해상도 탐지기를 사용하여 낮은 농도의 요소를 감지 할 수 있으며 흔적 분석과 같은 응용 프로그램 요구를 충족시킵니다.

2. 무손실 분석: 다른 분석 방법에 비해 XRF 분석 과정은 샘플에 손상을 주지 않고 귀중한 재료와 진귀한 문물의 검측에 사용할 수 있다.

3.빠른 분석: 기기는 빠른 응답 특성을 갖추고 분석 과정은 보통 몇 분 이내로 작업 효율을 현저하게 향상시킬 수 있다.

4.광범위한 적용성: 이 기구는 금속, 합금, 광석, 도자기, 플라스틱, 도료 등 다양한 재료를 분석할 수 있으며 적용 범위가 넓다.

5.사용자 친화적 인 인터페이스: 현대 XRF 기기는 직관적인 조작 인터페이스를 갖추고 있어 사용자가 쉽게 접근할 수 있고 조작의 난이도를 낮춘다.

테스트 시간30초. - 1200초.

측정 범위AI-U는

데이터 저장 및 출력내부 스토리지 및 USB, USB 및 WiFi 출력

네트워크 연결 방법제한된 네트워크 또는 무선 WiFi

작동 온도-5 °C~50 °C

작동 습도≤85%

무게9kg 미만

치수30cmW*23cmL*26cmH