HMS-5000/5500홀 효과 측정기

홀 효과 측정기는 주로 반도체 재료의 캐리어 농도, 이동률, 저항률, 홀 계수, 전도성 유형 등 중요한 매개변수를 측정하는 데 사용되며, 이러한 매개변수는 반도체 재료의 전기적 특성을 이해하려면 반드시 미리 통제해야 하기 때문에 홀 효과 측정기는 반도체 부품과 반도체 재료의 전기적 특성을 이해하고 연구하는 도구이다.

ECOPIA사의 HMS 시리즈 홀 효과 측정 시스템은 주로 항전류원, 밴더버그 법칙 단말기 변환기, 저온 (77K) 측정 시스템 및 자기장 강도 입력 시스템으로 구성되어 있으며, 반도체 재료 홀 효과의 모든 부품과 구성을 연구하는 매우 성숙한 기기 시스템이다.동시에 HMS 시리즈 기기는 여러 가지 홀 효과 측정 시스템, 측정 방법을 획득한 것으로 홀 효과 측정의 * 품질 및 합리적인 제품 가격을 대표하며 * 고객에게 인정받았다.이 제품은 2004년 7월 CE 인증을 획득했습니다.

제품 특징:

1. 신뢰할 수 있는 정밀도 및 재현성

항전류원(1nA~20mA)은 6단계 전류 범위 설정을 적용해 수신 가능한 오차를 낮춘다.반드버그의 법칙 전환은 비접촉 장치를 사용하여 기기의 소음을 효과적으로 낮춘다;소프트웨어와 하드웨어의 목적성 있는 설계는 각 실험 데이터가 여러 차례 테스트한 평균치인지 확인하여 기기가 매우 좋은 데이터 재현성을 가지도록 한다.

2. 제품 소형화 및 조작 단순화

작은 크기의 자기장 강도 입력 시스템은 영구 자기체와 액체 질소 저온 측정 시스템 (77K) 을 사용하여 기기 조작이 매우 간단하도록 보장합니다.두 가지 서로 다른 사이즈의 전통 견본판 (20 * 20mm, 6 * 6mm) 과 스프링 클립이 달린 견본판 (SPCB) 은 서로 다른 사이즈의 서로 다른 재료의 박막 견본품을 더욱 쉽게 측정할 수 있게 하고, 전통 견본판과 구별되는 스프링 클립 견본판은 홀 전극 제작을 더욱 편리하게 하며 견본품에 대한 손상을 더욱 작게 한다.

3. I-V 커브 및 I-R 커브 측정

도표의 방식으로 탐침의 4점 (A, B, C, D) 간의 전류-전압 및 전류-저항 관계를 측정하고, 이를 통해 샘플의 옴 접촉의 좋고 나쁨을 평가하며, 샘플의 기본적인 전기학적 특성을 이해한다.

4. 다양한 실험 결과

실험 결과는 소프트웨어에 의해 자동으로 산출되며, 몸 캐리어 농도(Bulk Carrier Concentration), 표면 캐리어 농도(Sheet Carrier Concentration), 이동률(Mobility), 저항률(Resistivity), 홀 계수(Hall Coefficient), 자기 저항(Magnetoresistance), 저항의 종횡무진/Verital 등을 동시에 얻을 수 있다.

제품 구성:

본체 (정밀 항전류원 + 밴더버그 법칙 단말기 변환기) / 마그네틱 패키지 (견본판 포함) / 소프트웨어 등.

제품 사양:

1. 주요 기기 파라미터

입력 전류: 1nA ~ 20mA;

저항률: 10exp(-5) ~ 10exp7º.cm;

캐리어 농도: 10exp7 ~ 10exp21 cm-3;

마이그레이션 속도: 1 ~ 10exp7 cm2/Volt.sec;

자기장 강도: 0.37T, 0.55T, 1T, 0.25~1T 변장 자기;

시료 측정판: PCB 시료판, SPCB 스프링 시료판, 웨이퍼 시료판 등;

샘플 크기: 5mmX5mm~20mmX20mm(30mm 또는 2inch 대형 견본판 옵션 가능);

측정 온도: 상온, 77K 액체 질소 목욕;

2. 소프트웨어 운영 환경

XP / Win7 / Win8 / Win10 환경에서

3. 실험 결과

체 캐리어 농도, 표면 캐리어 농도;

마이그레이션 비율

홀 계수;

저항률, 블록 저항;

자기 저항;

저항의 종횡 비율;

4. 계기 크기와 무게

호스트 크기: 360 × 300 × 105 mm (W × H × D) 자기 키트 크기: 200 × 120 × 110 mm (W × H × D);

순중량: 7.7kg,

5. 측정재료

Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO 등 모든 반도체 필름(P형과 N형);