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심천시 보안구 윤선중심빌딩 T4동 2802호
Wechsler Nanosystems GmbH, Germany
개요
2600-PCT-xB 매개변수 곡선 추적기 구성은 MOSFET, IGBT, 다이오드 및 기타 고출력 부품의 개발 및 사용에 사용될 때 뚫기 전압, 통과 전류 및 커패시터와 같은 매개변수의 측정을 포함한 포괄적인 부품급 표징이 필요하다.키시리(Keithley)의 고출력 매개변수 곡선 추적 구성 시리즈는 모든 유형의 부품과 각종 테스트 매개변수의 표징 요구를 지원할 수 있다.
제품 정보
MOSFET, IGBT, 다이오드 및 기타 고출력 부품을 연구 개발하고 사용할 때, 격침 전압, 통과 전류, 커패시터 등 매개변수의 측정을 포함한 전면적인 부품 레벨 표징이 필요하다.키시리(Keithley)의 고출력 매개변수 곡선 추적 구성 시리즈는 모든 유형의 부품과 각종 테스트 매개변수의 표징 요구를 지원할 수 있다.
지시리의 매개변수 곡선 추적 구성에는 표징 엔지니어가 전체 테스트 시스템을 신속하게 구축하는 데 필요한 모든 필수 하드웨어가 포함되어 있습니다.별도로 주문해야 하는 ACS 베이스 소프트웨어는 격침 전압과 같은 기본 부품 매개변수를 신속하게 감지하는 실시간 추적 모드와 정확한 부품 매개변수를 추출하는 전체 매개변수 모드를 포함한 포괄적인 부품 표징 기능을 구현할 수 있다.
ACS 베이스 소프트웨어는 기존 커브 추적기의 인터페이스 한계를 뛰어넘어 풍부한 샘플 라이브러리를 제공합니다.무엇보다 사용자는 모든 테스트 리소스를 제어할 수 있으므로 기존의 커브 추적기보다 더 높은 수준의 테스트를 수행할 수 있습니다.
핵심 특징
・ 완벽한 솔루션은 전문적으로 설계되었으며 가격 대비 성능을 제공합니다.
・ 파라메트릭 커브 추적기(PCT)를 신뢰성 테스트 장비 또는 웨이퍼 선별 테스터로 변환할 수 있는 현장 업그레이드 및 재구성 지원
・구성 가능한 전력 범위:
– 전압: 200V ~ 3kV
- 전류: 1A ~ 100A
・넓은 동적 범위:
– 전압: 마이크로볼트(µV)에서 킬로볼트(kV)까지
– 전류: 비안(fA)에서 100A까지
・완전한 용량 – 전압(C-V) 테스트 능력:
- 커패시터: 비행법(fF)에서 마이크로법(µF)
- 2단자, 3단자 및 4단자 장치 지원
– 최대 3kV의 DC 오프셋
・다양한 패키지 유형을 지원하는 고성능 테스트 고정장치
・탐침대 인터페이스는 고압 3축(HV triax), 초고압 동축(SHV coax), 표준 3축 및 기타 유형을 포함한 대부분의 탐침 유형과 호환됩니다.
지시리의 매개 변수 곡선 추적 설정은 완전한 표징 도구로 출력 부품 표징에 필요한 핵심 요소를 포함한다.측정 채널은 키실리 SourceMeter에 의해® 소스 측정 유닛(SMU) 계측기 및 옵션인 다중 주파수 커패시터 - 전압(C-V) 계측기로 구성됩니다.이 기구들의 동적 범위와 정밀도는 전통적인 곡선 추적기를 훨씬 능가한다.
완전한 시스템 액세서리
고압 커패시터 – 전압(C-V)
테스트 부품의 용량은 직류 전압의 변화에 따라 갈수록 중요해지고 있다.지시리는 PCT-CVU 다주파 커패시터 - 전압계를 제공합니다.옵션 200V 또는 3kV 오프셋 T-커넥터와 함께 사용할 경우 2단, 3단 또는 4단 부품의 커패시터 - 전압 측정이 가능합니다.측정 가능한 용량 범위는 비행법(fF)~100나노법(nF)이며 테스트 주파수는 10kHz~2MHz이다.ACS 베이스 소프트웨어는 MOSFET의 입력 용량(Ciss), 출력 용량(Coss), 역방향 전송 용량(Crss), 그리드 누전 용량(Cgd), 그리드 소스 용량(Cgs), 누전 소스 용량(Cds), 양극 결합형 트랜지스터(BJT), 다이오드 등 기타 모든 부품을 테스트하는 60여 가지 사전 설정된 용량 – 전압 테스트를 제공합니다.이전과 마찬가지로 사용자는 ACS 베이스에서 자체 전용 테스트 알고리즘을 개발할 수 있습니다.
