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HELMUT FISCHER 피셔 에이전트 X선 XDL230

협상 가능업데이트05/07
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개요

HELMUT FISCHER 피셔 에이전트 X선 XDL230, FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230은 독일 Helmut Fischer사가 출시한 고성능, 에너지 색산형 X선 형광 (XRF) 도금 두께 측정기로서 산업 품질 제어와 공급 재료 검사를 주력으로 XDL 시리즈의 중립 가격 비율이 높은 주류 모델이다.

제품 정보

HELMUT FISCHER 피셔 에이전트 X선 XDL230

피셔 X선 두께 측정기 XDL230 핵심 기술 매개변수

측정 원리: X선 형광 분광법(XRF), 무손실 검측.

원소 분석 범위: 염소 (Cl, 원자 서수 17) 에서 우라늄 (U, 원자 서수 92).

측정 능력:

최대 24개의 요소, 23개의 도금을 동시에 분석할 수 있습니다.

두께 범위: 나노미터 ~ 밀리미터.

정밀도: 재현성 변이 계수 <0.5%;두께 ≥ 0.5 μm 시, 최상위 정밀도 ≤ 5%.

HELMUT FISCHER 피셔 에이전트 X선 XDL230엑스선 시스템:

방사선관: 텅스텐 표적, 베릴륨 창문.

고압: 30kV / 40kV / 50kV 3단 조정 가능.

준직기:0.3mm 표준,0.1mm/0.2mm 및 직사각형 옵션.

최소 플레어: 약 0.2mm(0.1mm 정직기).

탐지기: 축척 카운터(PC).

샘플 테이블:

수동 XY 축: 이동 범위 95 × 150mm.

전기 Z축: 스트로크 140mm.

DCM 거리 보정: 0-80mm 깊이 캐비티 측정을 지원합니다.

포지셔닝 시스템: 40-160배 고해상도 CCD 카메라 + 레이저 포지셔닝.

분석 방법: 비샘플 측정을 지원하는 피셔 기본 매개변수(FP).

크기 및 무게: 570 × 760 × 650 mm, 107 kg.