필름 두께 측정 키트

협상 가능업데이트02/09

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개요

NS-OEM 시리즈(필름 두께 측정 키트)는 NS-20 필름 두께 측정기를 기반으로 개발되었습니다.광학 프로브는 다양한 설치 환경에 적합하도록 컴팩트하게 설계되었습니다.측정이 정확한지 확인하기 위해 광학 프로브는 샘플 표면과 수직을 유지해야 하며, 우리가 갖춘 각도 조절 도구를 사용하여 설치 각도를 정확하게 조절하는 것이 좋습니다.광학 프로브는 광섬유를 통해 호스트에 연결되며, 광섬유의 길이는 유연하고 가변적이며, 서로 다른 배치의 설치 수요를 만족시킬 수 있다.

제품 정보

NS-OEM 시리즈(필름 두께 측정 키트)는 NS-20 필름 두께 측정기를 기반으로 개발되었으며태양열 칼슘 티타늄 다층막 두께 측정,광학 프로브는 다양한 설치 환경에 적합하도록 컴팩트하게 설계되었습니다.측정이 정확한지 확인하기 위해 광학 프로브는 샘플 표면과 수직을 유지해야 하며, 우리가 갖춘 각도 조절 도구를 사용하여 설치 각도를 정확하게 조절하는 것이 좋습니다.광학 프로브는 광섬유를 통해 호스트에 연결되며, 광섬유의 길이는 유연하고 가변적이며, 서로 다른 배치의 설치 수요를 만족시킬 수 있다.

- 파장 범위: 190-1000nm 또는 350-1100nm.

- 광학 프로브는 자동화 장비, 온라인 시스템, 진공 챔버, 기본 성장 챔버 및 기타 특수 환경에 통합하도록 설계되어 다양한 어플리케이션 요구를 충족합니다.

매개변수 사양

参数规格

1. 측정된 샘플 재료 및 선택된 주파수 대역 범위에 달려 있다;

2. 실리콘 웨이퍼에 있는 이산화규소 표준 두께 샘플 (두께 범위 500~1000nm) 을 선택한다;

3. 500nm SiO2 표준 슬라이스의 1배 표준 편차를 100회 측정하여 유효 측정일 20배의 표준 편차를 평균한다;

4. 조제의 복잡도에 따라 표준 사례는 실리콘 웨이퍼의 이산화규소 표준 두께 측정 조제이다.

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