필름 두께 측정기

협상 가능업데이트02/09

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제조업체의 성격: 생산자

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개요

필름 두께 측정기 본 설비는 반사 간섭의 원리를 이용하여 무손상 측정을 진행하며, 흡수 또는 투명 라이닝 바닥에 있는 필름의 두께 및 굴절률을 측정하고, 동시에 샘플 반사율을 제공하며, 측정 정밀도가 이집트급 해상도에 도달하고, 측정이 신속하며, 조작이 간단하고, 인터페이스가 우호적이며, 측정 시간은 1초도 안 된다.광저항, 반도체재료, 고분자재료 등 박막층의 두께측정에 응용할수 있으며 반도체, 태양에네르기, 액정패널과 광학업종, 과학연구원과 대학교에서 모두 광범한 응용과 극히 큰 호평을 받았다.

제품 정보

필름 두께 측정기측정 시스템 사양:

기본 기능: 필름 두께 값 및 R, N/K 등의 스펙트럼 획득

스펙트럼 분석 범위: 380nm-1000nm

측정 플레어 크기: 표준 1.5mm, 최소 0.5mm

필름 두께 반복성 측정 정밀도: 0.02nm(100nm 실리콘 기반 SiO2 샘플, 100회 반복 측정)

필름 두께 정밀도: 0.2% 또는 2nm 사이가 큰 사람

필름 두께 측정 범위: 15nm-70μm

n 및 k 값 두께 측정 요구 사항: 100nm 이상

단일 측정 시간: ≤ 1s

라이트: 표준 할로겐 램프 라이트(라이트 수명 2000시간)

분석 소프트웨어: 수백 가지에 달하는 광학 재료 상수 데이터베이스와 사용자 정의 광학 재료 라이브러리를 지원합니다.다층 각방향 동성 광학 박막 모델링 및 분석 기능 제공