E4980BL 미국 KEYSIGHT는 독일 LCR 브리지입니다.

"정"-상하이시 선진기업!

"전문" - 16년 동안 산업 테스트에 집중!

"특" - 독일 라인 TUV 인증 공급업체!

"신"-등록자본은 실제로 1000만원을 납부한다!실납 자금 업계 중 선두를 차지한다!금융 리스크에 강한 저항력!

E4980BL 미국 KEYSIGHT는 독일 LCR 브리지입니다.

E4980BL 20Hz ~ 300kHz 대역 DCR(직류 저항)

E4980BL 20Hz~300kHz, DCR(DCR) 측정 기능 및 프로세서 인터페이스 포함

E4980BL 20Hz~500kHz 대역 DCR(직류 저항)

E4980BL 20Hz ~ 1MHz 대역 DCR(직류 저항)

E4980B 20Hz~2MHz 대역 DCR(직류 저항)

주파수 20Hz~300kHz/500kHz/1MHz, 모든 범위에서 4비트 해상도

0.05% 의 기본 정밀도로 저임피던스와 고임피던스 조건에서 모두 우수한 측정 중복성을 갖추고 있다

100마이크로볼트~2볼트 균방근;1마이크로암페어 ~ 20밀리암페어 가변 테스트 신호

직류 편압 1.5 / 2 V

자동 레벨 제어

직류 저항

201 점 목록 측정 스윕

다기능 PC 연결(LAN, USB 및 GPIB)

주파수 업그레이드 가능성

이더테크놀로지 E4980BL 정밀 LCR 테이블은 업계 표준의 LCR 측정기로서 정밀도, 속도와 다기능성을 일체화하여 광범위한 소자 측정에 적용된다.그 선택적인 주파수 업그레이드 방안은 사용자에게 강력한 투자 선택과 자산 이용률 향상 방안을 제공한다.

E4980BL 기반은 부품 및 소재의 일반적인 개발 및 제조 테스트에 적용되며 낮은 임피던스와 높은 임피던스 범위 내에서 빠른 측정 속도와 우수한 성능을 제공합니다.

다양한 LAN, USB 및 GPIB PC 연결 기능을 통해 설계 및 테스트 효율성을 높일 수 있습니다.재료 측정의 경우 E4980BL은 리드 N1500A-005/006 재료 측정 키트와 함께 사용되며 고정장치 설정에서 보고서 생성에 이르는 전체 프로세스를 단순화합니다.

측정 매개변수

Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp

Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs

Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc

Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc

– R-X는

Z-QD, Z-QR

G-B

Y-QD, Y-QR

- Vdc-Idc1

정의

Cp가 병렬 동등한 회로 모델을 통해 측정한 용량 값

Cs가 직렬 등가 회로 모델을 통해 측정한 용량 값

Lp가 병렬 등가 회로 모델을 통해 측정한 감지 값

Ls가 직렬 등가 회로 모델을 통해 측정한 감지 값

D 손실 인수

Q 품질 인수 (D의 카운트다운)

G 병렬 동등한 회로 모델을 통해 측정된 동등한 병렬 전도

Rp가 병렬 동등한 회로 모델을 통해 측정한 동등한 병렬 저항

Rs가 직렬 등가 회로 모델을 통해 측정한 등가 직렬 저항

Rdc 직류 저항

R 저항

X 저항

Z 임피던스

Y 리더

qd 임피던스 / 리드 위상 각도 (각도)

qr 임피던스 / 리드 위상 각도 (라디안)

B 전납

Vdc DC 전압

Idc 직류 전류

편차 측정 기능: 참조값 편차 및 참조값 편차 백분율을 결과로 내보낼 수 있습니다.

동등한 회로 측정: 병렬, 직렬

임피던스 범위 선택: 자동 (자동 범위 모드), 수동 (범위 유지 모드)

트리거 모드: 내부 트리거(INT), 수동 트리거(MAN), 외부 트리거(EXT), GPIB 트리거(BUS)

E4980BL 미국 KEYSIGHT는 독일 LCR 브리지입니다.기본 기술 지표

1. 트리거 지연 범위 0 s - 999 s

해상도 100 µs (0 s - 100 s)

1 ms (100 s - 999 s)

표 2.단계 도약 시연

범위 0 s - 999 s

해상도 100 µs (0 s - 100 s)

1 ms (100 s - 999 s)

측정 단자: 4단자 쌍

테스트 케이블 길이: 0 m, 1 m, 2 m, 4 m

측정 시간 모드: 짧은 시간(SHORT) 모드, 중간 길이(MED) 모드, 긴 시간(LONG) 모드.

표 3.평균값

범위 1-256회 측정

해상도 1

테스트 신호

표4.테스트 빈도

테스트 주파수 20Hz - 2MHz(E4980B)

20 Hz - 1 MHz (E4980BL-102)

20 Hz - 500 kHz (E4980BL-052)

20 Hz - 300 kHz (E4980BL-032)

해상도 0.01Hz(20Hz - 99.99Hz)

0.1 Hz (100 Hz - 999.9 Hz)

1 Hz (1 kHz - 9.999 kHz)

10 Hz (10 kHz - 99.99 kHz)

100 Hz (100 kHz - 999.9 kHz)

1 kHz (1 MHz - 2 MHz)

측정 정밀도 ±0.01%

표5.테스트 신호 모드

일반적으로 단자의 회로 또는 단락을 측정할 때 프로그램에서 개별적으로 선택하는 전압 또는 전류입니다.

상수는 피측 부품의 임피던스가 어떻게 변하든 피측 부품에서 선택된 전압이나 전류를 유지한다.

표 6.테스트 신호 전압

범위 0 Vrms - 2.0 Vrms

分辨率 100 µVrms (0 Vrms - 0.2 Vrms)

200 µVrms (0.2 Vrms - 0.5 Vrms)

500 µVrms (0.5 Vrms - 1 Vrms)

1 mVrms (1 Vrms - 2 Vrms)

정밀도 일반 ±(10% + 1 mVrms) 테스트 주파수 ≤ 1 MHz: 기술 지표

테스트 빈도 > 1MHz: 일반

상수 1 ± (6% + 1 mVrms) 테스트 주파수 ≤ 1 MHz: 기술 지표

테스트 빈도 > 1MHz: 일반

표7.테스트 신호 전류

범위 0 Arms - 20 mArms

해상도 1 µArms(0 Arms - 2 mArms)

2µArms（2 mArms-5 mArms）

5µArms（5 mArms-10 mArms）

10µArms（10 mArms-20 mArms）

정밀도 일반 ±(10% + 10µArms) 테스트 주파수 ≤ 1MHz: 기술 지표

테스트 빈도 > 1MHz: 일반

상수 1 ± (6% + 10 µ Arms) 테스트 주파수 ≤ 1 MHz: 기술 지표

테스트 빈도 > 1MHz: 일반

출력 임피던스: 100 (표준값)

테스트 신호 레벨 모니터링 기능

- 테스트 신호의 전압과 전류를 모니터링할 수 있습니다.

- 레벨 모니터링 정밀도:

표8.테스트 신호 전압 모니터링 정밀도(Vac)

테스트 신호 전압 2 테스트 주파수 기술 지표

5 mVrms - 2 Vrms ≤ 1 MHz ± (판독의 3% + 0.5 mVrms)

> 1MHz±(판독의 6% + 1mVrms)

표 9.테스트 신호 전류 모니터링 정밀도(lac)

테스트 신호 전류 2 테스트 주파수 기술 지표

50 µArms - 20 mArms ≤ 1 MHz

> 1 MHz의

±(판독의 3% + 5µArms)

±(판독의 6% + 10µArms)

1. 자동 레벨 제어 기능이 켜졌을 때.

2.이것은 출력 값이 아니라 표시된 테스트 신호 레벨입니다.

표 10에는 화면에 표시할 수 있는 측정값 범위가 나열되어 있습니다.유효한 측정 범위의 경우 그림 1의 임피던스 참조

측정 정밀도의 예

표10.허용되는 측정값 표시 범위

매개변수 측정 표시 범위

Cs, Cp ± 1.000000 aF ~ 999.9999 EF

Ls, Lp±1.000000aH ~ 999.9999 EH

D ± 0.000001 ~ 9.9999999

Q ± 0.01 ~ 99999.99

R, Rs, Rp, X, Z, Rdc ± 1.000000 aΩ ~ 999.9999 EΩ

G, B, Y ± 1.000000 aS ~ 999.9999 ES

Vdc ± 1000000 aV - 999.9999 EV

Idc ±1.000000 aA 至 999.9999 EA

qr±1.000000 arad ~ 3.141593 rad

QD ±0.0001 도至 180.0000 deg

%±0.0001% ~ 999.99999%

a： 1 x 10-18、 E: 1 x 1018

절대 측정 정밀도

절대 정밀도는 다음 방정식을 사용하여 계산됩니다.

○ Z ○, ○ Y ○, L, C, R, X, G, B의 절대 정밀도 Aa(Dx ≤ 0.1에서 L, C, X 및 B의 정밀도가 적당함

사용, Qx ≤ 0.1 시 R 및 G 정밀도 적용)

Dx≥0.1이 되면 Acal에 1+D2x를 곱하여 L, C, X, B 정밀도를 얻는다

Qx≥0.1이 되면 Acal에 1+Q2x를 곱하여 R과 G 정밀도를 얻는다

AC 자기장에서는 다음 방정식을 사용하여 측정 정밀도를 계산할 수 있습니다.

A x (1 + B x ( 2 + 0.5 / Vs))

여기서 A 절대 정밀도

B 자기 감지 강도 [Gauss]

VS 테스트 신호 전압 레벨 [V]

방정식 1: Aa = Ae + Acal

Aa 절대 정밀도 (% 읽기)

Ae 상대 정밀도 (% 읽기)

Acal 정렬 정밀도(%)

여기서 G 정밀도는 G-B 측정에만 적용됩니다.

D 정밀도(Dx ≤ 0.1일 경우)

방정식 2: De +qcal

Dx 측정된 D 값

De D의 상대 정밀도

qcal q의 교정 정밀도(라디안)

0.1 <Dx ≤ 1일 때 qcal 곱하기 (1 + Dx)

Q 정밀도(Qx x Da < 1일 경우)

방정식 3: (Qx2×Da)

± ————————————

(1 ± Qx × Da)

Qx 측정된 Q 값

Da D의 절대 정밀도

q 정밀도

방정식 4:qe + qcal

qe q의 상대 정밀도(각도)

qcal q의 교정 정밀도(각도) G 정밀도(Dx ≤ 0.1일 경우)

방정식 5: Bx + Da(S)

1

BX=2πfcx=--------

2πfLx는

Dx 측정된 D 값

Bx 측정된 B 값(S)

Da D의 절대 정밀도

f 주파수 측정(Hz)

Cx에서 측정된 C 값(F)

Lx 측정된 L 값(H)

여기서 G 정밀도는 Cp-G 측정에 적용됩니다.

Rp의 절대 정밀도(Dx ≤ 0.1일 경우)

방정식 6: Rpx×Da

±—————————(Ω)

Dx±의

Rpx에서 측정한 Rp 값(

Dx 측정된 D 값

Da D의 절대 정밀도

Rs의 절대 정밀도(Dx ≤ 0.1일 경우)

방정식 7:Xx × 다의(Ω)

1

Xx = ——————= 2πfLx

2πfcx

Dx 측정된 D 값

Xx 측정된 X 값(Ω)

Da D의 절대 정밀도

f 테스트 주파수(Hz)

Cx에서 측정된 C 값(F)

Lx 측정된 L 값(H)

1. 계산 결과가 음수이면 0 A를 적용합니다.

상대 정밀도

상대 정밀도에는 안정도, 온도 계수, 선형도, 반복도 및 보간 오차가 포함됩니다.상대 정밀도는 다음 조건을 모두 충족할 때 지정됩니다.

– 예열 시간: 30분

– 테스트 케이블 길이: 0 m, 1 m, 2 m 또는 4 m(Keysight 16048A/D/E)

- 신호 소스 과부하 경고가 표시되지 않습니다.

테스트 신호 전류가 아래 표 11의 값을 초과하면 LCR 표에 "신호 소스 과부하" 경고가 표시됩니다.

표11.

테스트 신호 전압 테스트 주파수 조건 1

≤ 2 Vrms - -

> 2 Vrms ≤ 1 MHz 110 mA或 130 mA - 0.0015 × Vac × (Fm/1 MHz) ×

(L_cable + 0.5)，작은 값 가져오기

> 1 MHz 70 mA - 0.0015 × Vac × (Fm/1 MHz) × (L_cable + 0.5)

Vac [V] 테스트 신호 전압

Fm [Hz] 테스트 빈도

L_cable [m] 케이블 길이

- 경로 설정 및 단락 보정이 완료되었습니다.

- 오프셋 전류 분리: 끄기

- DC 오프셋 전류는 각 DC 오프셋 전류 범위의 설정값을 초과하지 않습니다.

- 측정된 부품의 임피던스를 유효한 측정 범위와 일치시킴으로써 최적의 임피던스 범위를 선택합니다.

○ Z ○, ○ Y ○, L, C, R, X, G 및 B 정밀도(Dx ≤ 0.1에서는 L, C, X 및 B 정밀도가 적용됩니다.Qx ≤ 0.1에서 R 및 G 정밀도 적용)

Dx > 0.1이면 Ae에 1+D2x를 곱하여 L, C, X, B 정밀도를 얻는다

Qx > 0.1이면 Ae에 1+Q2x를 곱하여 R과 G 정밀도를 얻는다

상대 정밀도 Ae 누름 계산:

방정식 8: Ae = [Ab + Zs /⑥ Zm⑥ × 100 + Yo × ⑥ Zm⑥ × 100] × kt

Zm 피측 부품 임피던스

Ab 기본 정밀도

Zs 단락 편향

Yo 오프로드

kt 온도 계수

D 정밀도

Dx ≤ 0.1에서 D 정밀도 De 누름 계산:

방정식 9: De = ±Ae/100

Dx 측정된 D 값

Ae ○ Z ○, ○ Y ○, L, C, R, X, G 및 B의 상대 정밀도

0.1 <Dx ≤ 1이면 De 곱하기 (1 + Dx)

Q 정밀도(Q x De < 1일 경우)

Q 정밀도 Qe 누름 계산:

방정식 10: (Qx2×De)

Qe = ± —————————————

(1 ± Qx × De)

Qx 측정된 Q 값

De 상대 D 정밀도

q 정밀도

q 정밀도 × e 누름 계산:

방정식 11: 180 × Ae

QE = (도)

π × 100

Ae ○ Z ○, ○ Y ○, L, C, R, X, G 및 B의 상대 정밀도

G 정밀도(Dx ≤ 0.1일 경우)

G 정밀도 Ge 누름 계산:

방정식 12: Ge = Bx x De(S)

1

BX=2πfcx=--------

2πfLx는

Ge G 상대 정밀도

Dx 측정된 D 값

Bx 측정된 B 값

De D 상대 정밀도

f 테스트 주파수(Hz)

Cx에서 측정된 C 값(F)

Lx 측정된 L 값(H)

Rp 정밀도(Dx ≤ 0.1일 경우)

Rp 정밀도 Rpe 누름 계산:

방정식 13: Rpx x De(Ω)

Rpe = ± ———————————

Dx ± De

Rpe Rp 상대 정밀도

Rpx에서 측정된 Rp 값(Ω)

Dx 측정된 D 값

De D의 상대 정밀도

Rs 정밀도(Dx ≤ 0.1일 경우)

Rs 정밀도 Rse 누름 계산:

방정식 14:Rse = Xx × De(Ω)

1

Xx = ————————= 2πfLx

2πfcx

Rse Rs의 상대 정밀도

Dx 측정된 D 값

Xx 측정된 X 값(Ω)

De D의 상대 정밀도

f 테스트 주파수(Hz)

Cx에서 측정된 C 값(F)

Lx 측정된 L 값(H)

C-D 정밀도 계산의 예

측정 조건

테스트 주파수: 1kHz

측정된 C 값: 100nF

테스트 신호 전압: 1 Vrms

측정 시간 모드: MED

측정 온도: 23°C

Ab = 0.05%

|Zm| = 1 / (2π × 1 × 103 × 100 × 10-9) = 1590Ω

Zs = 0.6 미터Ω × (1 + 0.400/1) × (1 + √(1000/1000) = 1.68 mΩ

유 = 0.5 nS × (1 + 0.100/1) × (1 + √ (100/1000) = 0.72 nS

C 精度：Ae = [0.05 + 1.68 m/1590 × 100 + 0.72 n × 1590 × 100] × 1 = 0.05%

D 정밀도: De = 0.05/100 = 0.0005

피측 부품 임피던스 효과

표 14측정된 부품의 임피던스가 30º 이하일 경우 다음 값을 추가합니다.

테스트 주파수 [Hz] 피측 부품 임피던스

1.08 Ω ≤ |Zx| < 30 Ω |Zx| < 1.08 Ω

20 - 1 M 0.05% 0.10%

1 M - 2 M 0.10% 0.20%

표 15측정된 부품의 임피던스가 9.2k이상일 경우 다음 값을 추가합니다.

테스트 주파수 [Hz] 피측 부품의 임피던스

9.2 kΩ < |Zx| ≤ 92 kΩ 92 kΩ < |Zx|

10 k - 100 k 0% 0.05%

100 k - 1 M 0.05% 0.05%

1 M - 2 M 0.10% 0.10%

케이블 연장 효과

케이블이 길어지면 1m마다 다음 요소가 추가됩니다.

0.015 % × (Fm/1 MHz) 2 × (L_cable) 2

Fm [Hz] 테스트 빈도

L_cable [m] 케이블 길이

단락 편향 Zs

표16.피측 부품 임피던스 > 1.08Ω

테스트

주파수 [Hz]

측정 시간 모드

SHORT MED 및 LONG

20 - 2 M 2.5 mΩ × (1 + 0.400/Vs) ×

(1 + √(1000/Fm))

0.6 mΩ × (1 + 0.400/Vs) ×

(1 + √(1000/Fm))

표 17.피측 부품 임피던스 ≤ 1.08Ω

테스트

주파수 [Hz]

측정 시간 모드

SHORT MED 및 LONG

20 - 2 M 1 mΩ × (1 + 1 / Vs) × (1 + √ (1000 / Fm)) 0.2 mΩ × (1 + 1 / Vs) × (1 + √ (1000 / Fm))

Vs [Vrms] 테스트 신호 전압

Fm [Hz] 테스트 빈도

케이블 연장 효과 (단락 오프셋)

표 18케이블이 길어지면 Zs는 측정 시간 모드와 관계없이 다음 값을 추가합니다.

테스트

주파수 [Hz]

케이블 길이

0m 1m 2m 4m

20 - 1 M 0 0.25 mΩ 0.5 mΩ 1 mΩ

1 M - 2 M 0 1 mΩ 2 mΩ 4 mΩ

오프로드 Yo

표 19테스트 신호 전압 ≤ 2.0 Vrms

테스트

주파수 [Hz]

측정 시간 모드

SHORT MED 및 LONG

20 - 100 k 2 nS × (1 + 0.100/Vs) × (1 + √ (100/Fm)) 0.5 nS × (1 + 0.100/Vs) × (1 + √ (100/Fm))

100 k - 1 M 20 nS × (1 + 0.100/Vs) 5 nS × (1 + 0.100/Vs)

1 M - 2 M 40 nS × (1 + 0.100/Vs) 10 nS × (1 + 0.100/Vs)

표 20.테스트 신호 전압 > 2.0 Vrms

테스트

주파수 [Hz]

측정 시간 모드

SHORT MED 및 LONG

측정 정밀도

다음 임피던스 측정 계산의 예는 절대 측정 정밀도의 결과입니다.

그림 1.임피던스 측정 정밀도(테스트 신호 전압 = 1Vrms, 케이블 길이 = 0m, 측정 시간 모드 = MED)

보상 기능

표 28.E4980A는 개선 보정, 합선 보정, 로드 보정 등 3가지 보정 기능을 제공합니다.

보상 유형 설명

회로 보상 보상 테스트 클램프의 잡산도납(C, G)으로 인한 오차.

단락 보상 테스트 클램프의 남은 임피던스(L, R)로 인한 오차를 보상합니다.

로드 보정은 사용자가 필요로 하는 측정 조건에서 실제 측정값과 알려진 표준값 사이의 오차를 보상합니다.

목록 검색

포인트: 최대 포인트는 201점입니다.

첫 번째 스캔 매개변수 (1차 매개변수): 주파수 테스트, 신호 전압 테스트, 신호 전류 테스트, 직류 편향 신호의 테스트 신호 전압, 직류 편향 신호의 테스트 신호 전류, 직류 전원 전압.

두 번째 스캔 매개변수(2차 매개변수): 없음, 임피던스 범위, 테스트 주파수, 테스트 신호 주파수, 테스트 신호 전압, 테스트 신호 전류, 직류 편향 신호의 테스트 신호 전압, 직류 편향 신호의 테스트 신호 전류, 직류 전원 전압

트리거 모드

순서 모드: E4980A가 트리거되면 모든 스캔 지점에서 장치를 측정합니다./EOM/INDEX는 한 번만 출력됩니다.

스텝 모드: E4980A를 트리거할 때마다 스캔 지점이 증가합니다.각 점에서 /EOM/INDEX가 출력되지만 마지막 /EOM이 출력된 경우에만 목록 스캔의 비교기 기능이 결과를 제공합니다.

설명

두 매개변수 중 하나를 선택한 매개변수는 다른 매개변수에 대해 더 이상 선택할 수 없습니다.테스트 신호 전압과 테스트 신호 전류 조합을 설정할 수 없거나 직류 편향 신호의 테스트 신호 전압과 직류 편향 신호의 테스트 신호 전류 조합 중 하나입니다.

2차 매개변수는 SCPI 명령을 통해서만 설정할 수 있습니다.

목록 스캔에 대한 비교기 기능: 비교기 기능은 각 측정 지점에 대해 상하한 쌍을 설정할 수 있습니다.

선택 사항: 첫 번째 스캔 매개 변수를 통해 판단 / 두 번째 매개 변수를 통해 판단 / 쌍당 사용하지 않음

제한값.

타임 스탬프 기능: 순서 모드에서 FW가 트리거 신호를 감지한 시간을 0으로 정의하여 각각을 기록할 수 있습니다.

측정 시점의 측정 시작 시간이 SCPI 명령으로 표시됩니다.

비교기 기능

Bin 정렬: 한 번에 9개의 BIN, OUT_OF_BINS, AUX_BIN 및 LOW_C_ 매개변수로 정렬할 수 있습니다.

REJECT。2차 매개변수는 HIGH, IN 및 LOW로 정렬됩니다.순서 모드와 허용 한도 모드를 분류 모드로 선택할 수 있습니다.

한계 설정: 절대, 편차 값,% 편차 값을 설정에 사용할 수 있습니다.

BIN 개수: 0에서 999999로 기록할 수 있습니다.

직류 편향 신호

표29.테스트 신호 전압

범위 0V ~ +2V

해상도 0V / 1.5V / 2V 전용

精度 0.1% + 2 mV (23°C ± 5°C)

(0.1% + 2 mV) × 4

(0 ~ 18°C 또는 28 ~ 55°C)

출력 임피던스: 100 Ω(정칭)

보조 측정 기능

데이터 캐시 기능: 로트당 최대 201개의 측정 결과를 읽을 수 있습니다.

저장 / 호출 기능:

내장 비휘발성 스토리지에 최대 10개의 설정 조건을 쓰거나 읽을 수 있습니다.

- USB 스토리지에 최대 10개의 설정 조건을 쓰거나 읽을 수 있습니다.

- USB 메모리의 레지스터 10에 설정 조건을 기록할 때 자동 호출 기능을 수행합니다.

키 잠금 기능: 전면 패널 키를 잠글 수 있습니다.

GPIB: 핀 D-Sub(D-24형), 헤드;IEEE488.1, 2 및 SCPI 준수

USB 호스트 포트: 범용 직렬 버스 콘센트, Type-A (터치 위치 4개, 터치 1 왼쪽),

헤드(USB 스토리지만 연결).

USB 커넥터 포트: 범용 직렬 버스 소켓, Type Mini-B(접점 4개 위치);USBTMC-USB488 및 USB 2.0 준수흐린 머리;외부 컨트롤러를 연결하는 데 사용됩니다.

USBTMC: USB 테스트 및 측정 분류의 약어

LAN: 10/100 BaseT 이더넷, 핀 8개(속도 옵션 2개)

LXI 일관성: C-클래스(고체 소프트웨어 버전 A.02.00 이상 장치에만 해당)

설명

다음 USB 스토리지를 사용할 수 있습니다.

USB 1.1 준수대용량 스토리지 범주,

FAT16/FAT32 형식최대 소비 전류는 500 mA 미만입니다.

권장 USB 스토리지: 4GB USB 플래시

(Keysight PN 1819-0637) 및 16GB USB 플래시

저장(Keysight PN 1819-1235).

E4980A에 권장되는 USB 스토리지를 사용하여

그렇지 않으면 이전에 저장한 데이터가 지워질 수 있습니다.그렇지 않다면

권장 USB 스토리지를 사용하는 경우 데이터가 없을 수 있음

법은 정상적으로 저장되거나 호출됩니다.

E4980A 사용으로 인한 USB 메모리 데이터 손실에 대해서는 독일 테크놀로지가 책임을 지지 않는다.

주파수 옵션

E4980A 20Hz ~ 2MHz

E4980AL-032 20 Hz 至 300 kHz

E4980AL-052 20 Hz 至 500 kHz

E4980AL-102 20Hz ~ 1MHz

표 30.설치 가능 옵션

옵션 E4980A E4980AL

전원 및 DC 오프셋 개선 사항(001) 설치 가능 설치 불가능

DCR 측정(200) 설치 가능 1 설치 불가능2

기계식 손 커넥터(201) 장착 가능

스캐너 커넥터(301) 설치 가능

인터페이스 옵션

옵션 201(기계 손 커넥터)

매직 핸드 커넥터 추가.

옵션 301(스캐너 커넥터)

스캐너 인터페이스를 추가합니다.

옵션 710(인터페이스 없음)

인터페이스가 없는 옵션입니다.

후면 패널의 인터페이스 커넥터에 최대 2개의 인터페이스 옵션을 설치할 수 있습니다.

인터페이스를 설치하지 않을 경우 710 옵션 2개를 설치합니다.인터페이스를 설치할 때 이 옵션 번호의 인터페이스와 1을 설치합니다.

옵션 710.

추가 옵션

옵션 001 (전원 및 DC 오프셋 향상)

테스트 신호의 전압을 증가하고 가변 직류 편향 전압을 증가시킵니다.

옵션 007(표준 모델)

엔트리 레벨 모델을 표준 모델로 업그레이드(E4980AU에만 해당)

옵션 200(DCR 측정)

DCR 측정을 추가합니다.

1. 필수 옵션

2. 기본적으로 DCR 측정 기능이 제공됩니다.

설명

옵션 007은 옵션 005와 함께 E4980A에만 설치할 수 있습니다.

중.

설명

E4980A-200/001 및 E4980AL-032/052/102는 DCR 측정 기능을 지원합니다.

전력 및 DC 오프셋 향상 기술 지표

테스트 신호 전압을 높이고 가변 직류 편향 전압 기능을 추가합니다.

Vdc-Idc 측정 기능은 옵션 001을 설치한 후 제공됩니다.

측정 매개변수

다음 매개변수를 사용할 수 있습니다.

- Lp-Rdc

– Ls-Rdc

- Vdc-IDC

그 중

Rdc DCR(직류 저항)

Vdc DC 전압

Idc 직류 전류

테스트 신호

신호 레벨

표31.테스트 신호 전압

범위 0 Vrms ~ 20 Vrms(테스트 주파수 ≤ 1 MHz)

0 Vrms ~ 15 Vrms(테스트 주파수 > 1 MHz)

分辨率 100 µVrms (0 Vrms - 0.2 Vrms)

200 µVrms (0.2 Vrms - 0.5 Vrms)

500 µVrms (0.5 Vrms - 1 Vrms)

1 mVrms (1 Vrms - 2 Vrms)

2 mVrms (2 Vrms - 5 Vrms)

5 mVrms (5 Vrms - 10 Vrms)

10 mVrms (10 Vrms - 20 Vrms)

설정 정밀도 일반 ±(10% + 1 mVrms)(테스트 신호 전압 ≤ 2 Vrms)

(테스트 주파수 ≤ 1 MHz: 기술 지표, 테스트 주파수 > 1 MHz: 일반)

±(10% + 10 mVrms) (테스트 주파수 ≤ 300 kHz,

테스트 신호 전압 > 2 Vrms)(기술 지표)

±(15% + 20 mVrms)(테스트 주파수 > 300kHz,

테스트 신호 전압 > 2 Vrms)

(테스트 주파수 ≤ 1 MHz: 기술 지표, 테스트 주파수 > 1 MHz: 일반)

고정 1 ± (6% + 1 mVrms) (테스트 신호 전압 ≤ 2 Vrms)

(테스트 주파수 ≤ 1 MHz: 기술 지표, 테스트 주파수 > 1 MHz: 일반)

± (6% + 10 mVrms) (테스트 주파수 ≤ 300 kHz,

테스트 신호 전압 > 2 Vrms)(기술 지표)

±(12% + 20 mVrms)(테스트 주파수 > 300kHz,

테스트 신호 전압 > 2 Vrms) (테스트 주파수 ≤ 1 MHz: 기술 지표,

테스트 빈도 > 1MHz: 일반)

1. 자동 레벨 제어 기능이 켜졌을 때.

테스트 신호 전류

범위 0 Arms - 100 mArms

해상도 1 µArms(0 Arms - 2 mArms)

2µArms（2 mArms-5 mArms）

5µArms（5 mArms-10 mArms）

10µArms（10 mArms-20 mArms）

20µArms（20mrms-50mrms）

50µArms（50 mArms-100 mArms）

설정 정밀도 일반 ±(10% + 10µArms)(테스트 신호 전압 ≤ 20 mArms)

(테스트 주파수 ≤ 1 MHz: 기술 지표, 테스트 주파수 > 1 MHz: 일반)

±(10% + 100 µArms)(테스트 주파수 ≤ 300 kHz,

테스트 신호 전류 > 20 mArms)(기술 지표)

±(15% + 200µArms)(테스트 주파수 > 300kHz,

테스트 신호 전압 > 20 mArms) (테스트 주파수 ≤ 1 MHz: 기술 지표,

테스트 빈도 > 1MHz: 일반)

고정 1 ± (6% + 10 µ Arms) (테스트 신호 전압 ≤ 20 mArms)

(테스트 주파수 ≤ 1 MHz: 기술 지표, 테스트 주파수 > 1 MHz: 일반)

±(6% + 100 µArms)(테스트 주파수 ≤ 300 kHz,

테스트 신호 전압 > 20 mArms)(기술 지표)

±(12% + 200µArms)(테스트 주파수 > 300kHz,

테스트 신호 전압 > 20 mArms) (테스트 주파수 ≤ 1 MHz: 기술 지표,

테스트 빈도 > 1MHz: 일반)

테스트 신호 레벨 모니터링 기능

- 테스트 신호 전압을 모니터링하고 테스트 신호 전류를 측정할 수 있습니다.

- 레벨 모니터링 정밀도:

표33.테스트 신호 전압 모니터링 정밀도(Vac)

테스트 신호 전압 2 테스트 주파수 기술 지표

5 mVrms ~ 2 Vrms ≤ 1 MHz ± (판독의 3% + 0.5 mVrms)

> 1MHz±(판독의 6% + 1mVrms)

> 2 Vrms ≤ 300kHz±(판독의 3% + 5 mVrms)

> 300kHz±(판독의 6% + 10mVrms)3

표 34.테스트 신호 전류 모니터링 정밀도(Iac)

테스트 신호 전류 2 테스트 주파수 기술 지표

50 µArms ~ 20 mArms ≤ 1 MHz ± (판독의 3% + 5 µArms)

> 1MHz±(판독의 6% + 10µArms)

> 20 mArms ≤ 300 kHz±(판독의 3% + 50 µArms)

> 300kHz±(판독의 6% + 100µArms)

1. 자동 레벨 제어 기능이 켜졌을 때.

2.이것은 출력 값이 아니라 표시된 테스트 신호 레벨입니다.

3. 테스트 주파수 > 1MHz 및 테스트 신호 전압 >

10Vrms의 일반적인 값입니다.

직류 편향 신호

표 35.테스트 신호 전압

범위 – 40V ~ +40V

해상도 설정 해상도: 100 µV, 유효 해상도:

330 µV ±(0 V - 5 V)

1 mV ±(5 V - 10 V)

2 mV ±(10 V - 20 V)

5 mV ±(20 V - 40 V)

정밀도 테스트 신호 전압 ≤ 2 Vrms 0.1% + 2 mV(23°C ± 5°C)

(0.1% + 2 mV) x 4

(0 ~ 18°C 또는 28 ~ 55°C)

테스트 신호 전압 > 2Vrms 0.1% + 4mV(23°C±5°C)

(0.1% + 4 mV) x 4

(0 ~ 18°C 또는 28 ~ 55°C)

표 36.테스트 신호 전류

범위 – 100 mA - 100 mA

해상도 설정 해상도: 1 µA, 유효 해상도:

3.3 µA ±(0 A - 50 mA)

10 µA ±(50 mA - 100 mA)

직류 편향 전압 레벨 모니터링 Vdc

(판독의 0.5% + 60 mV) × kt

Vdc-Idc 측정을 사용하는 경우: (기술 지표)

레벨 모니터링을 사용하는 경우: (일반)

kt 온도 계수

직류 편향 전류 레벨 모니터링 Idc

(측정값의 A [%] + B [A]) × kt

Vdc-Idc 측정을 사용하는 경우: (기술 지표)

레벨 모니터링을 사용하는 경우: (일반)

A [%] 측정 시간 모드가 SHORT인 경우: 2%

측정 시간 모드가 MED 또는 LONG인 경우: 1%

B [A]는 아래에서 제공합니다.

kt 온도 계수

측정 시간 모드가 SHORT인 경우 다음 값이 두 배로 증가합니다.

테스트 신호 전압 ≤ 0.2 Vrms (측정 시간 모드 = MED, LONG)

직류 편향

전류 범위

임피던스 범위 [오메가]

< 100 100 300, 1 k 3 k, 10 k 30k, 100 k

20 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 45 nA

200 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 300 nA

2 mA 150 µA 30 µA 3 µA 3 µA 3 µA

20 mA 150 µA 30 µA 30 µA 30 µA 30 µA

100 mA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA

표 38.0.2 Vrms <테스트 신호 전압 ≤ 2 Vrms(측정 시간 모드 = MED, LONG)

직류 편향

전류 범위

임피던스 범위 [오메가]

< 100 100, 300 1k, 3 k 10k, 30 k 100 k

20 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 45 nA

200 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 300 nA

2 mA 150 µA 30 µA 3 µA 3 µA 3 µA

20 mA 150 µA 30 µA 30 µA 30 µA 30 µA

100 mA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA

표 39.테스트 신호 전압 > 2 Vrms(시간 측정 모드 = MED, LONG)

직류 편향

전류 범위

임피던스 범위 [오메가]

≤ 300 1 k, 3 k 10k, 30 k 100 k

20 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA

200 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA

2 mA 150 µA 30 µA 3 µA 3 µA

20 mA 150 µA 30 µA 30 µA 30 µA

100 mA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA

표40.임피던스 입력 (정명값)

임피던스 조건 입력

0Ω 이하 조건은 제외됩니다.

20 Ω 테스트 신호 전압 ≤ 0.2 Vrms, 임피던스 범위 ≥ 3 kΩ, 직류 편향 전류 범위 ≤ 200 µA

테스트 신호 전압 ≤ 2 Vrms, 임피던스 범위 ≥ 10 kΩ, 직류 편향 전류 범위 ≤ 200 µA

테스트 신호 전압 > 2 Vrms, 임피던스 = 100kΩ, 직류 편향 전류 범위 ≤ 200 µA

DC 전원 신호

표 41.테스트 신호 전압

범위 – 10V ~ 10V

해상도 1mV

精度 0.1% + 3 mV（23 °C ±5 °C）

（0.1% + 3 mV） x 4

(0 ~ 18°C 또는 28 ~ 55°C)

표 42.테스트 신호 전류

범위 – 45mA ~ 45mA(공칭)

출력 임피던스

100 Ω (표준)

직류 저항(Rdc) 측정 기능은 E4980A-001/200 또는 E4980AL-032/052/102 설치 후 제공됩니다.

직류 저항(Rdc) 정밀도

절대 측정 정밀도 Aa

절대 측정 정밀도 Aa 누름 계산

방정식 15: Aa = Ae + Acal

Aa 절대 정밀도 (% 읽기)

Ae 상대 정밀도 (% 읽기)

Acal 교정 정밀도

상대 측정 정밀도 Ae

상대 측정 정밀도 Ae 누름 계산

方程式 16：Ae = [Ab + (Rs / |Rm|+ Go × |Rm|) × 100 ] × Kt

Rm 측정값

Ab 기본 정밀도

Rs 短路偏置 [Ω]

Go 오프로드 [S]

kt 온도 계수

교정 정밀도 Acal

교정 정밀도 Acal은 0.03%입니다.

기본 정밀도 Ab

표 43.기본 정밀도 Ab는 아래에 제공됩니다.

측정 시간 모드 테스트 신호 전압

≤ 2개의 Vrms > 2개의 Vrms

SHORT 1.00% 2.00%

MED 0.30% 0.60%

오프로드 Go

표 44.오프로드 Go는 아래에서 제공합니다.

측정 시간 모드 테스트 신호 전압

≤ 2개의 Vrms > 2개의 Vrms

짧은 50 nS 500 nS

MED 10 nS 100 nS

단락 오프셋 Rs

표 45.단락 편향 Rs는 아래에 제공됩니다.

측정 시간 모드 테스트 신호 전압

≤ 2개의 Vrms > 2개의 Vrms

짧은 25 mΩ 250 mΩ

MED 5 미터Ω 50 mΩ

케이블 길이 효과 (단락 오프셋)

표 46.케이블이 길어지면 Rs에 다음 값이 추가됩니다.

케이블 길이

1미터, 2미터, 4미터.

0.25 mΩ 0.5 mΩ 1 mΩ

온도계수kt

표47.온도계수 kt는 아래에서 제공합니다.

온도[°C]kt

0 - 18 4

18 - 28 1

28 - 55 4

전원

전압 90VAC - 264VAC

주파수 47Hz - 63Hz

전력 소비량 최대 150VA

표 49.작업 환경

온도 0 - 55°C

습도(≤40°C, 비응축) 15% - 85% RH

고도 0m-2000m

표 50.저장 환경

온도 – 20 - 70°C

습도(≤60°C, 비응축) 0% - 90% RH

고도 0m - 4572m

외부 크기: 375(너비) x 105(높이) x 390(깊이) mm(공칭)

유효한 픽셀은 99.99% 이상입니다.0.01% (대략 7

개 픽셀) 이하의 픽셀이 손실되거나 항상 밝게 표시되지만

장벽.

그림 6.크기 (측면 뷰, 손잡이 및 버퍼 장착, 밀리미터 단위, 공칭)

그림 7.크기 (측면 뷰, 손잡이 및 버퍼 없음, 밀리미터 단위, 공칭)

무게: 5.3 kg (표준)

디스플레이: LCD, 320x240(픽셀), RGB 색상

다음 항목을 표시할 수 있습니다.

- 측정값

- 측정 기준

– 비교 한계 및 판단 결과

– 목록 검사 테이블

– 자체 테스트 메시지

보충 정보

EMC는

EU 이사회 지침 2004/108/EC

IEC 61326-1:2012

EN 61326-1:2013

CISPR 11:2009 +A1:2010

EN 55011: 2009 +A1:2010

그룹 1, 클래스 A

IEC 61000-4-2:2008

EN 61000-4-2:2009

4kV CD / 8kV AD

IEC 61000-4-3:2006 +A1:2007 +A2:2010

EN 61000-4-3:2006 +A1:2008 +A2:2010

3 V/m, 80-1000 MHz, 1.4 - 2.0 GHz / 1V/m, 2.0 - 2.7 GHz, 80% AM

IEC 61000-4-4:2004 +A1:2010

EN 61000-4-4:2004 +A1:2010

1kV 전원 코드 / 0.5kV 신호 코드

IEC 61000-4-5:2005

EN 61000-4-5:2006

0.5kV 선간 전압 / 1kV 선지 전압

IEC 61000-4-6:2008

EN 61000-4-6:2009

3 V, 0.15-80 MHz, 80% AM

IEC 61000-4-8:2009

EN 61000-4-8:2010

30A/m, 50/60Hz

IEC 61000-4-11:2004

EN 61000-4-11:2004

0.5-300회, 0% / 70%

설명:

계기 주파수가 송신된 교란 신호 테스트 주파수 (반송 주파수 주변 주파수 및 변조 주파수 주변 주파수) 와 동일하지 않는 한, EN61000-4-3에 따라 3V/m 조건에서 측정할 때 측정 정밀도는 전체 교란 방지 테스트 주파수 범위 내에서 기술 지표에 부합한다.

ICES/NMB-001 ICES-001: 2006 그룹 1, 클래스 A

AS/NZS CISPR11: 2004년

그룹 1, 클래스 A

KN11, KN61000-6-1 및 KN61000-6-2

그룹 1, 클래스 A

안전

EU 이사회 지침 2006/95/EC

IEC 61010-1:2001/EN 61010-1:2001

측정 카테고리 I, 오염도 2, 실내 사용

IEC60825-1: 1994 클래스 1 LED

CAN/CSA C22.2 61010-1-04

측정 카테고리 I, 오염도 2, 실내 사용

환경

본 제품은 WEEE 지침(2002/96/EC) ID를 준수합니다.

요구.이 레이블을 붙이면 전기 / 전자 제품을 생활 쓰레기에 버리지 마십시오.

제품 분류: WEEE에 따라

지침 부록 I의 장비 유형 분류, 본 제품은 "모니터링 기기" 범주에 속합니다.

표 51.테스트 빈도 설정 시간

테스트 주파수 설정 시간 테스트 주파수(Fm)

5 ms Fm ≥ 1 kHz

12 ms 1 kHz > Fm ≥ 250 Hz

22 ms 250 Hz > Fm ≥ 60 Hz

42 ms 60 Hz > Fm

표 52.테스트 신호 전압 설정 시간

테스트 신호 전압 설정 시간 테스트 주파수(Fm)

11 ms Fm ≥ 1 kHz

18 ms 1 kHz > Fm ≥ 250 Hz

26 ms 250 Hz > Fm ≥ 60 Hz

48 ms 60 Hz > Fm

임피던스 스레드 전환 시간은 다음과 같습니다.

≤ 5 ms/ 스레드 전환

측정 회로 보호

최대 방전 내성 전압은 아래에서 제공합니다.이 매개 변수는 알 수 없는 단자에 전기 컨테이너를 연결할 때 내부 회로의 가장 큰

대안전 전압 값.

표53.최대 방전 내성 전압

최대 방전 내성 전압 피측 부품 커패시터 C의 범위

1000 V C < 2 µF

√ 2/C V 2 µF ≤ C

보충 정보

설명

콘덴서는 알 수 없는 단자나 테스트 클램프에 연결하기 전에

기기를 손상시키지 않도록 방전하다.

그림 8.최대 방전 내성 전압

———

0

200

400

600

800

1000

1200

1.E–15 1.E–13 1.E–11 1.E–09 1.E–07 1.E–05 1.E–03

전압 [V]

커패시터 [F]

정의

메커니즘 손 인터페이스에서 시작과 측정 끝(EOM) 출력 사이의 시간입니다.

조건

표 54는 다음 조건을 충족하는 측정 시간을 보여줍니다.

- Ls-Rdc, Lp-Rdc, Vdc-Idc 이외의 일반 임피던스 측정

- 임피던스 메트릭 모드: 메트릭 모드 유지

– 직류 편향 전압 레벨 모니터링: 끄기

- 직류 편향 전류 레벨 모니터링: 끄기

– 트리거 지연: 0 s

– 단계 지연 시간: 0 s

– 데이터 보정: 끄기

- 표시 모드: 공백

표 54.E4980A 측정 시간 [ms](DC 오프셋: 끄기)

측정 시간

패턴

테스트 빈도

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

1 LONG 480 300 240 230 220 220 220

2 MED 380 180 110 92 89 88 88

3 SHORT 330 100 20 7.7 5.7 5.6 5.6

그림 9.측정 시간(E4980A, DC 오프셋: 끄기)

20 100 1k 10k 100k 1M 2M

0.01

0.001

0.1

1

10

테스트 빈도 [Hz]

측정 시간 [초]

1. 길다

2.중

3. 짧음

E4980A-005 측정 시간 [ms](직류 오프셋: 끄기)

측정 시간 모드 테스트 빈도

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

1 LONG 1190 650 590 580 570 570 570

2 MED 1150 380 200 180 180 180 180

3 SHORT 1040 240 37 25 23 23 23

그림 10.측정 시간(DC 오프셋: 끄기, E4980A-005)

표56.E4980AL 측정 시간 [ms]

측정 시간 모드 테스트 빈도

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz

1 LONG 729 423 363 353 343 343

2 MED 650 250 140 122 119 118

3 SHORT 579 149 26 14 12 12

그림 11.측정 시간(E4980AL)

20 100 1k 10k 100k 1M 2M

0.01

0.001

0.1

1

10

테스트 빈도 [Hz]

측정 시간 [초]

1. 길다

2.중

3. 짧음

20 100 1k 10k 100k 1M 2M

0.01

0.001

0.1

1

10

테스트 빈도 [Hz]

측정 시간 [초]

1. 길다

2.중

3. 짧음

설명

E4980A-005는 비활성화되어 더 이상 주문할 수 없습니다.

DC 오프셋이 켜지면 다음 시간이 증가합니다.

표57.직류 편향 켜기 시 시간 증가 [ms]

테스트 빈도

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

30 30 10 13 2 0.5 0.5

평균이 증가하면 측정 시간 누름 계산

방정식 17: MeasTime + (Ave – 1) × AveTime

MeasTime 53 및 54 테이블을 기준으로 측정 시간 계산

Ave 평균

AveTime 참조 표 56

표 58.평균을 구할 때 증가하는 시간 [ms]

측정

시간 모드

테스트 빈도

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

SHORT 51 11 2.4 2.3 2.3 2.2 2.2

MED 110 81 88 87 85 84 84

LONG 210 210 220 220 220 210 210

표 59.Vdc-Idc 선택 시 측정 시간 [ms]

측정 시간 모드 테스트 빈도

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

SHORT 210 46 14 14 14 14 14

MED 210 170 170 170 170 170 170

LONG 410 410 410 410 410 410 410

평균 1회 이상, 동일한 테스트 시간 증가

Vdc 및 Idc 모니터링 기능이 켜져 있을 때 측정 시간이 증가합니다.

표 59에서 SHORT 모드를 추가합니다.Vdc 또는 Idc만 사용하는 경우 표 59에서 Short 모드의 절반을 추가할 때

간.

표60.Ls-Rdc 또는 Lp-Rdc 선택 시 측정 시간 [ms]

측정 시간 모드 테스트 빈도

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

SHORT 910 230 43 24 22 22 22

MED 1100 450 300 280 270 270 270

LONG 1400 820 700 670 660 650 650

증가표 58에서 증가된 시간의 3배를 초과할 때마다 평균

빈 페이지를 표시하는 경우를 제외하고 각 페이지를 업데이트하는 데 필요한 시간 (표시 시간) 은 다음과 같습니다.변경 중

화면을 표시할 때 드로잉 시간과 전환 시간이 증가합니다.측정 결과는 약 100ms마다 업데이트됩니다.

표61.표시 시간

항목은 Vdc, Idc

모니터링 종료 시

Vdc, Idc의 경우

모니터링 시작 시

MEAS DISPLAY 시트 드로잉 시간 10 ms 13 ms

MEAS DISPLAY 시트(대규모) 드로잉 시간 10ms 13ms

BIN No. DISPLAY 시트 드로잉 시간 10 ms 13 ms

BIN COUNT DISPLAY 시트 드로잉 시간 10 ms 13 ms

LIST SWEEP DISPLAY 시트 드로잉 시간 40 ms -

측정 디스플레이 전환 시간 35ms -

데이터 전송 시간 측정

이 테이블에는 다음 조건에 따른 측정 데이터 전송 시간이 표시됩니다.측정 조건 및 컴퓨터에 따라 데이터 전송 시간 측정

다르다.

표62.다음 조건에서 전송 시간을 측정합니다.

호스트 컴퓨터: HP Z420 워크스테이션, Xeon CPU ES-1620 0 @3.60GHz

디스플레이: 끄기

임피던스 범위 모드: AUTO(과부하가 발생하지 않았습니다.）

회로 / 단락 / 로드 보정: 끄기

테스트 신호 전압 모니터링: 끄기

표63.데이터 전송 시간 측정 [ms]

인터페이스 데이터

전송 형식

사용처: FETC?명령

(단일 점 측정)

데이터 버퍼 스토리지 사용

(목록 스캔 측정)

비교기 켜기 비교기 끄기 10점 51점 128점 201점

GPIB ASCII 2 2 4 13 28 43

ASCII 긴 2 2 5 15 34 53

이진수 2 2 4 10 21 36

USB ASCII 2 2 3 8 16 23

ASCII 긴 2 2 4 9 19 28

이진수 2 2 3 5 9 13

LAN ASCII 3 4 5 12 24 36

ASCII 긴 3 3 5 13 29 44

이진 3 3 5 9 18 26

(1.5V/2.0V): 출력 전류: 최대 20mA

옵션 001(전원 및 DC 오프셋 향상):

DC 편향 전압: 측정된 부품에 적용되는 DC 편향 전압 누름 계산:

방정식 18: Vdut = Vb – 100 × Ib

Vdut [V] 직류 편향 전압

Vb [V] DC 오프셋 설정 전압

Ib [A] 직류 편향 전류

직류 편향 전류: 측정된 부품의 직류 편향 전류를 입력하여 계산합니다.

방정식 19: Idut = Vb/(100 + Rdc)

Idut [A] 직류 편향 전류

Vb [V] DC 오프셋 설정 전류

Rdc [Ω] 피측 부품의 직류 저항

최대 직류 편향 전류

표 64.일반 측정이 가능한 경우 최대 직류 편향 전류.

임피던스 범위

[Ω]

편향 전류 격리

켜기 끄기

테스트 신호 전압 ≤ 2 Vrms 테스트 신호 전압 > 2 Vrms

0.1 자동 스레드 모드:

100 mA의

스레드 유지 모드:

이 스레드에 적용되는 값입니다.

20 mA 100 mA

1 20 mA 100 mA

10 20 mA 100 mA

100 20 mA 100 mA

300 2 mA 100 mA

1 k 2 mA 20 mA

3 k 200 µA 20 mA

10 k 200 µA 2 mA

30 k 20 µA 2 mA

100 k 20 µA 200 µA

피측 부품에 직류 편향을 적용할 때

측정 장치에 DC 오프셋을 적용하면 절대 정밀도 Ab가 다음 값을 증가시킵니다.

표65.Fm <10kHz 및 <Vdc<> 5V인 경우에만

SHORT MED 및 LONG

0.05% × (100 mV/Vs) × (1 + √ (100/Fm)) 0.01% × (100 mV/Vs) × (1 + √ (100/Fm))

Fm [Hz] 테스트 빈도

Vs [V] 테스트 신호 전압

DC 오프셋 격리가 켜짐으로 설정되면 오프셋 Yo가 다음 값을 증가시킵니다.

방정식 20:Yo_DCI1 × (1 + 1 / (Vs)) × (1 + √ (500 / Fm)) + Yo_DCI2

Zm [Ω] 피측 부품 임피던스

Fm [Hz] 테스트 빈도

Vs [V] 테스트 신호 전압

Yo_DCI1,2[S] 표 61 및 62를 사용하여 이 값을 계산합니다.

Idc [A] 직류 오프셋 격리 전류

표66.Yo_DCI1 값

직류 편향 전류 범위 측정 시간 모드

SHORT MED 및 LONG

20 µA 0 S 0 S

200 µA 0.25 nS 0.05 nS

2 mA 2.5 nS 0.5 nS

20 mA 25 nS 5 nS

100 mA 250 nS 50 nS

표67.Yo_DCI2 값

직류 편향 전류

범위

측정 시간 모드

≤ 100 Ω 300 Ω, 1 k Ω 3 k Ω, 10 k Ω 30 k Ω, 100 k Ω

20 µA 0 S 0 S 0 S 0 S

200 µA 0 S 0 S 0 S 0 S

2 mA 0 S 0 S 0 S 3 nS

20 mA 0 S 0 S 30 nS 30 nS

100 mA 0 S 300 nS 300 nS 300 nS

직류 편향 설정 시간

DC 오프셋을 켜기로 설정하면 설정 시간이 다음 값으로 증가합니다.

표68.직류 편향 설정 시간

편향 설정 시간

1 표준 피측 부품 커패시터 × 100 × loge (2/1.8m) + 3 m

2 옵션 001 피측 부품 커패시터 × 100 × loge (40/1.8m) + 3 m

1 µF 10 µF 100 µF 1 mF 10 mF 100 mF

피측 부품 용량

그림 설정 시간

12. 직류 편향 설정 시간