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Shanghai Jinyu Scientific Instrument Co., Ltd
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국산 FIB 전체 텅스텐 샘플링 핀

협상 가능업데이트05/07
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin

개요

국산 FIB 전체 텅스텐 샘플링 바늘, 상품 번호: 【W-36-0.5-200】, $r$n 규격: 1개/박스;2개 / 상자,5개 / 상자;10개 / 박스.$r$n 국산 FIB 전체 텅스텐 샘플링 바늘 【W-36-0.5-200】 매개 변수는 다음과 같다: $r$n 텅스텐 바늘 총 길이: 36mm; $r$n 바늘 손잡이 지름: 0.5mm; $r$n 바늘 끝 곡률 반지름: 200nm; $r$n 송곳 각도: 5#176;-10#176;;$r$n 핀팁 길이: 6mm; $r$n 적용 가능한 나노 로봇 손: Omniprobe, EasyLift, Kleindiek 등.

제품 정보

국산 FIB 전체 텅스텐 샘플링 핀, 상품번호: 【W-36-0.5-200】

제공 가능한 사양: 1개 / 박스 2개 / 박스 5개 / 박스 10개 / 박스

국산 FIB 전체 텅스텐 샘플링 핀[W-36-0.5-200] 매개변수는 다음과 같습니다.

총 텅스텐 바늘 길이: 36mm;

핀의 지름은 0.5mm입니다.

핀 끝 곡률 반지름: 200nm;

테이퍼 각도: 5 ° - 10 °;

핀팁 길이: 6mm;


국산 FIB 텅스텐 바늘 [W-36-0.5-200]에 적용되는 나노 로봇 손: Omniprobe, EasyLift, Kleindiek 등.


국산 FIB 텅스텐 바늘 [W-36-0.5-200] 실물도:


국산 FIB 텅스텐 바늘 [W-36-0.5-200] 전경도, 곡률 반경 142nm:

国产FIB全钨取样针


또한 다음과 같은 SEM, TEM, AFM, FIB 등의 소모품을 제공할 수 있습니다.


1, Zeiss Chies, Tescan Tescon, JEOL 일본 전자, Hitachi 히타치 등 선글라스 SEM을 스캔하는 텅스텐 필라멘트

2. SEM 견본대, 견본대 저장함, 클립 견본대 핀셋

3. 탄소 전도성 테이프, 구리 전도성 테이프, 액체 전도성 탄소 접착제, 액체 전도성 은 접착제, 탄소 접착제 희석액, 은 접착제 희석액

4, EBSD 샘플 테이블, 샘플 클립

5. 렌즈 TEM 캐리어, 탄소 지원 필름, 작은 구멍 마이크로 게이트, 큰 구멍 마이크로 게이트, 초박형 탄소 필름, Quantifoil 캐리어, 캐리어 샘플 박스

6, FIB 프로브 Omniprobe 전체 텅스텐 프로브, 국산 FIB 프로브, FIB 삼치 동망, 사치 동망, 오치 동망, 삼치 몰리브덴망, 사치 몰리브덴망, 적재망 저장함, FIB 샘플대

7, 원자력 현미경 AFM 프로브, 시료대, 핀셋, 구름 모판, 금속 원판 등

8, 생물 샘플링 키트 매판, 포장 수지

9, SEM, EDS, TEM 샘플

10, 분금기, 분탄기의 사출 표적재, 탄소봉

11, 일반 도구: 직선 핀셋, 엘보우 핀셋, 자체 잠금 핀셋, 먼지 없는 천, 장갑, 진공 흡필, 실리콘 조각, 열 용접 접착제 등