디지털 소스 테이블 USM3301

디지털 소스 테이블 USM3301사상한 작업을 지원하여 격려원으로 대외에 전력을 공급할 수 있을 뿐만 아니라 부하 흡수 전기에너지도 충당할 수 있다;와이드 스레드, 고해상도, 저소음의 특징을 갖추고 I-V 곡선 스캐닝 등의 기능을 실현할 수 있다;한 대면 여러 종류의 전통 전기학 기기를 대체할 수 있다.반도체 (예: 집적회로/광부품 광모듈/분리부품), 재료과학, 에너지저장, 태양광, 사물인터넷 등 여러 분야의 연구개발 및 생산테스트에 광범위하게 응용된다。

디지털 소스 테이블USM3301은기술 매개 변수:

해상도: 6½ 소스 + 6½ 테이블
기본 테스트 정밀도: 0.012%
최소 프로그래밍 및 측정 해상도: 10fA/10nV
최대 샘플링 속도: 50kS/s
최대 출력: 300V/1A/30W

6기합일의 일체화 설계

육기합일
전압원, 전류원, 전자부하, 전압계, 전류계, 저항계 등 6대 핵심기능을 집적한다.
전체 장면 덮어쓰기
전원 출력, 로드 시뮬레이션, 다중 매개변수 측정 등의 테스트 요구 사항을 한 대로 충족할 수 있습니다.
비용 절감 효과

테스트 프로세스를 간소화하고 공간과 비용을 절감하며 연구 개발, 생산, 품질 검사를 위한 원스톱 솔루션입니다.

만능 4사분면 덮어쓰기 다중 장면 테스트
전능사상한
±300V/±1A, 소스, 함정, 측정 3합일.
1기 통측
전원 출력, 로드 시뮬레이션, 다중 매개변수 측정 전체 프로세스 오버레이
효율성 및 정확성

전자 개발 및 생산 라인 테스트를 위한 통합 솔루션

3가지 전문 검색 모드
다중 테스트 요구 사항 전체 적용
- 선형 스캐닝: 일반 부품 IV 특성 분석에 적합한 균일한 단계 테스트를 기다립니다.
- 대수 스캐닝: 넓은 범위의 비선형 스캐닝으로 고저 저항, 넓은 전압 등 다량 스캐닝 장면을 정확하게 커버합니다.
- 목록 스캔: 임의의 테스트 지점을 사용자 정의하고 복잡한 작업 상황을 유연하게 시뮬레이션하여 맞춤형 요구 사항을 충족합니다.

연구 개발, 품질 검사를 위한 * 스캔 테스트 기능 제공

3중 핵심 수학 연산 기능 내장
삼중 핵심 수학 연산, 계기 로컬에서 세 가지 데이터의 실시간 변환을 진행할 수 있다
Percent 퍼센트 연산: Pass/Fail 판정을 빠르게 완료하여 테스트 결과를 직관적으로 렌더링합니다.
Reciprocal 카운트다운 연산: 저항 R에서 전도 G(G=1/R)로 직접 변환합니다.
mx+b 선형 변환: 전압 (U) 에서 온도 (℃ / F) 로의 정확한 환산을 실현합니다.

내장 알고리즘은 추가 계산 없이 한 번에 데이터를 처리합니다.

인간적인 상호 작용 환경
직관적이고 편리한 -5형 HD 터치스크린
- 2U 표준 섀시 높이, 캐비닛 통합에 적합
- 전면 및 후면 패널 듀얼 출력, 전면 바나나 헤드 적합 빠른 테스트, 후면 3동축 고정밀 측정 요구 사항 충족
- USB, LAN, 디지털 I/O, GPIB와 같은 다양한 인터페이스
- 자동화된 테스트와 시스템 통합을 위한 SCPI 표준 프로토콜 호환

수동 조작의 편리성과 자동화 테스트의 확장성을 동시에 고려하여 연구 개발과 생산 라인의 다원적 테스트 수요를 만족시킨다.

1 호스트 + 6 슬레이브 동기식 트리거 지원
하나의 호스트는 6개의 슬레이브를 통일적으로 관리 통제하여 시간 동기화, 신호 동기화, 테스트 동기화를 실현할 수 있다.
간편한 멀티 채널 병렬 테스트 시스템 구축
다중 부품, 다중 작업 공간의 대량 테스트 효율을 대폭 향상시키다
자동화 생산 라인과 다중 채널 병행 테스트 장면에 적합하다.