매체 상수 및 매체 손실 측정기

협상 가능업데이트05/06

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개요

STD-B 매전 상수 및 매체 손실 측정기는 고주파 Q 테이블, S916 테스트 장치 (클램프), 데이터 수집 및 tan 델타 자동 측정 컨트롤, LKI-1형 센서 그룹, 액체 컵 (옵션, 액체 재료 테스트용) 으로 구성되어 있다.국가 표준 GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, 미국 표준 ASTM D150 및 국제 전기 공학 위원회 IEC60250의 규정에 따라 설계 제작되었습니다.시스템은 절연재료의 고주파 매체 손실각 탄젠트(tan 델타)와 유전체 상수(ε) 자동 측정 솔루션을 제공한다.

제품 정보

STD-B는매체 상수 및 매체 손실 측정기고주파 Q 테이블, S916 테스트 장치 (클램프), 데이터 수집 및 tan 델타 자동 측정 컨트롤, LKI-1형 센서 그룹, 액체 컵 (옵션, 액체 재료 테스트용) 으로 구성되어 있다.국가 표준 GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, 미국 표준 ASTM D150 및 국제 전기 공학 위원회 IEC60250의 규정에 따라 설계 제작되었습니다.시스템은 절연재료의 고주파 매체 손실각 탄젠트(tan 델타)와 유전체 상수(ε) 자동 측정 솔루션을 제공한다.

STD-B는매체 상수 및 매체 손실 측정기주요 기술 지표

호스트	STD-B 고주파Q표
테스트 장치	S916
LKI-1은유형 센서 그룹 (9개)	√
액체 컵	√

1. STD-B는호스트 매개 변수:

기능 이름:	STD-B는
신호원 범위DDS는디지털 합성 신호	10KHZ-110MHz의
신호원 주파수 커버리지	11000:1
신호원 주파수 정밀도 6비트 유효 수	3×10-5 ±1단어
Q측정 범위	1-1000자동/수동 스레드
Q해상도	해상도0.1，4비트 유효 수
Q측정 작업 오차	<5%
샘플링 정밀도	11비트
감전 측정 4비트 유효 수,해상도0.1nH의	1nH-8.4H,해상도0.1nH의
전감 측정 오차	<5%
튜닝 커패시터	메인 커패시터30-540pF
커패시터직접 측정 범위	1pF는～2.5uF
튜닝 용량 오차,해상도	±1pF는또는<1% ,0.1pF
공명점 검색	자동 검색
Q합격 사전 설정 범위	5-1000사운드 라이트 힌트
Q스레드 전환	자동/수동
LCD는매개변수 표시	F，L，C，Q，Lt，Ct는기다리다
자체 잔여 감지와 지시선 감지의 자동 공제 기능	있다
큰 커패시터 값 직접 측정 디스플레이 기능	최대 측정값2.5uF
매체 손실 계수	정밀도 만분의 3
최소 미디어 손실	만분의 일
개전 상수	정밀도 천분의 일
재료 테스트 두께	0.1mm-10mm

2. 매체 상수 및 매체 손실 테스트 클램프S916：

a)4비트 명시적 조절 마이크로스틱;고정장치 손실 탄젠트 ≤4×10^－4 （1MHz의）。

b)극판 크기≧38mm; 극좌표 간격 조정 가능 범위: ≥15mm;고정장치 플러그 간격:38mm±0.01mm;고정장치 손실 탄젠트: ≤4×10－4 （1MHz의）；마이크로핀 해상도: ≤0.001mm。

c)액체 컵:직경48mm깊이7mm,가능S916하극편 교환 사용.

3. 센서 그룹LKI-1은：5mH의,2.5mH의,1mH, 250μH,100μH,25μH, 10μH,2.5μH,0.5μH.

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