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소주시 오중구 목독진 장강로 98호 34동 1호 3층
1. 하드웨어 구성 높이: 7인치 TFT 순수 컬러 커패시터 터치스크린;오목 래스터;
2. 듀얼 어레이 256 픽셀 CMOS 탐지기;고수명 안정 풀 스펙트럼 LED/자외선 LED;
3. 샘플 반사, 투사 스펙트럼을 측정하고 Lab 데이터가 정확하여 배색과 정확한 색상 전달에 사용할 수 있다;
4. 구경 자동 식별, Φ25.4/8/4mm 세 가지 구경을 임의로 전환하는 동시에 고객의 특수한 수요를 고려한다;
5. 온도 모니터링 및 보상, 내장 온도 센서, 테스트 환경을 모니터링하고 보상하여 측정 결과가 더욱 정확하도록 보장한다;
6. 테스트 파장 범위 360~780nm, 동시에 내장 400nm 마감, 테스트 UV가 더 전문적이다;
7. 독립적인 광원 탐지기, 시시각각 광원 변화를 모니터링하여 광원의 신뢰성을 확보한다;
8. 다양한 측정 모드: 품질 튜브 모드, 샘플 모드, 더 많은 고객의 요구에 적응;
9, 다양한 옵션 부품: 반사 샘플 클립 도구, 투사 고정 프레임, 마이크로 구멍 4mm 투사 클램프, 기기 거꾸로 테스트 클램프, 더 많은 작업 상황을 적용한다;
10. 대용량 저장 공간, 저장 기록 최대 20000개;
11. 내장 카메라 촬영 위치;
12.PC측 소프트웨어에는 *의 확장 기능이 있습니다.
데스크탑 분광 측정 분광기 | ||
제품 모델 |
YS6010은 |
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조명 방식 |
반사:D/8은(漫射照明,8° 방향 수신); |
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특성 |
플라스틱 전자, 페인트 잉크, 방직 의류 날염, 인쇄 등 업계 반사 샘플, 투명 샘플 색상 전달 및 품질 제어 방면. |
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포인트 볼 크기 |
Φ154mm의 |
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照明光源 |
360~780nm조합LED는광원,400nm마감 광원 |
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분광 방식 |
오목 래스터 |
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센서 |
256픽셀 이중 어레이CMOS는이미지 센서 |
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파장 범위 측정 |
360~780nm |
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파장 간격 |
10nm |
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절반 대역폭 |
10nm |
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반사율 측정 범위 |
0~200% |
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구경을 재다 |
반사: Φ30mm/Φ25.4mm,Φ10mm/Φ8mm,Φ6mmΦ4mm; |
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광택 함유 방식 |
반사SCI/SCE는, 투사SCI/SCE는 |
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색상 공간 |
CIE 실험실, XYZ, Yxy, LCh, CIE LUV, Musell, s RGB, HunterLab,βxy의 DIN Lab99 |
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색차 공식 |
ΔE*ab,ΔE * uv,ΔE*94,ΔE*cmc (2:1),ΔE*cmc (1:1),ΔE*00의 DINΔE99,ΔE(Hunter) |
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기타 색상 지표 |
WI (ASTM E313),CIE/ISO, AATCC, 사냥사), |
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관찰자 각도 |
2°/10° |
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관측광원 |
D65, A, C, D50, D55, D75, F1, F2, F3, F4,F5는,F6, F7, F8, F9,F10,F11,F12 |
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표시 |
스펙트럼 도/데이터, 샘플 색도 값, 색차 값/그림, 색상 도표, 색상 모방, 합격/불합격 결과, 색상 편향 |
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측정 시간 |
약2.4s(동시 테스트SCI/SCE는약5S) |
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반복성 |
분광 반사율: Φ25.4mm/SCI,표준 편차0.05%내부 (400~700nm:0.04%이내): |
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테이블 간 차이 |
Φ25.4mm/SCI,ΔE * ab 0.15내부 (BCRA는시리즈 Ⅱ 12블록 팔레트 측정 평균) |
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치수 |
길다X넓다X높은=370X300X200mm |
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무게 |
약9.6kg |
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전원 공급 방식 |
직류24V, 3A전원 어댑터 전원 공급 |
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조명 광원 수명 |
5년 이상300만차 측량 |
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디스플레이 |
TFT는진채7 인치, 접점식 터치스크린 |
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인터페이스 |
USB, 직렬 인쇄 |
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데이터 저장 |
표본2000막대, 샘플20000막대 (SCI/SCE는데이터 계산) |
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언어 |
중국어 간체, 중국어 번체영어, |
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작동 온도 범위 |
0~40℃(32~104°F) |
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저장 온도 범위 |
-20~50℃(-4~122°F) |
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표준 액세서리 |
전원 어댑터, 설명서, 품질 관리 소프트웨어(다운로드), 데이터 케이블, 표준 보정 보드, 블랙 보정 박스, 투사 블랙 베젤, 샘플 고정 브래킷,25.4구경,8구경,4구경 |
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옵션 액세서리 |
미니 프린터, 투과 테스트 고정장치 구성 요소, 마이크로홀(4mm)투사 테스트 클램프 어셈블리, 계측 거꾸로 테스트 클램프 |
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참고: |
예고 없이 변경될 수 있음 |
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