채사삼 좌표

새로운 ZEISS SPECTRUM 3 좌표 측정기의 * 기술은 더 높은 품질을 제공합니다.또한 ZEISS VAST XXT의 스캔 기술은 동그라미 오차 측정을 가능하게 하여 향상된 품질 및 생산성 요구에 이상적일 것입니다.

측량 기술

측정 결과를 위한 데이터 품질 향상
스캔 기능은 효율과 신뢰할 수 있는 측정에 중점을 둔다. 가공소재의 대량의 고품질 데이터를 신속하게 측정할 수 있다.단일 측정 지점으로 인한 측정 오차를 제거하여 신뢰성과 반복성을 향상시킵니다.

고해상도 장애 감지.

측정 작업의 유연성 향상
유연성이 크게 향상되고 측정 작업 시간이 단축됩니다.또한 더 복잡한 가공소재에 대한 광범위한 측정 작업을 생성할 수 있습니다.

시간과 비용을 절감할 수 있습니다.효율성 향상

비용 효율성
CAA(계산 보조 정밀도)가 있는 RDS에는 약 5천184개의 가능한 각도의 위치 확인 보간이 있습니다.프로브 회전에 더 많은 위치를 제공하여 교정 시간을 단축하고 작업 시간을 크게 늘릴 수 있습니다.스캔 센서는 CAA 기능도 갖추고 있으며 감정 시간을 평소보다 12배 빠르게 단축할 수 있습니다. 감정은 약 12분, 재감정은 5분입니다.

안정.견고하다.믿음직하다.

실제 상황에서의 기능
견고한 제조 품질로 정밀:

• 견고한 베이스와 진정한 삼각대 구조

• 사방 친환경 공기 베어링의 구조

• 지진 보호 시스템 통합

• 얻은 유리 세라믹 래스터 자는 온도 팽창이 거의 없다

  
  

부지 면적이 작다.

더 많은 측정 환경에 적합한 특수 설계
특수한 디자인의 배낭식 컨트롤 캐비닛은 설치 공간을 더욱 작게 합니다.ZEISS SPECTRUM은 패시브 감진 시스템과 지진 보호 외에도 신뢰할 수 있는 측정 결과를 보장하는 뛰어난 하드웨어를 포함하고 있습니다.