브룩 스캐닝 렌즈 전용 제자리 나노역학 시스템 PI 89

브룩 스캐닝 렌즈 전용 제자리 나노역학 시스템 PI 89, 전자현미경(SEM, FIB/SEM)을 스캔하는 이미징 능력을 이용하여 이미징과 동시에 정량 나노역학 테스트를 진행할 수 있다.이 새로운 시스템은 Bruker의 커패시터 센싱 기술을 탑재하여 초기 상업화 된 원래 SEM 나노역학 플랫폼의 우수한 기능을 계승합니다.

브룩은 국제적으로 영향력이 있는 분석기기회사로서 브룩나노표면기기부는 그 산하사업부로서 줄곧 새로운 표면계량, 검측방법과 도구를 연구개발하는데 착안하여 부동한 차원의 표면표징테스트의 여러가지 응용방안을 제공해왔다.우리의 핵심 제품은 원자력 현미경, 탐침식 윤곽계, 나노 스크래치, 3차원 광학 윤곽계, 마찰 마모 측정기,、SEM/TEM 제자리 역학봉 등.이 장비는 대학 연구소에서 산업 분야에 이르기까지 재료, 화학, 생명 과학, 물리,LED、태양광, 터치스크린, 반도체, 통신 및 데이터 저장 등 분야에서 과학 연구, 제품 개발, 품질 제어 및 실효 분석의 정확하고 효율적인 분석 테스트의 요구를 진행하여 우리 고객이 각자의 표면 측정 테스트 응용에서 직면한 문제를 해결하고 기술과 공정 수준을 향상시키며 연구 개발 효율을 높일 수 있도록 돕는다.