브룩 BRUKER X선 연사기 XRD D6

브룩 BRUKER X선 연사기 XRD

D6 PHASER는

브룩 BRUKER X선 연사기 XRD D6PHASER는X선 분말 연사 반사 및 투사 기하학, 스며드는 연사 및 반사법 박막 분석 및 블록체 샘플 응력 및 직구 분석에 사용되는 데스크탑 연사기 플랫폼입니다.매우 강력한 시스템을 갖추고 있으며 발생기 출력은 1200W에 달한다; 3개의 발생기와 탐지기, 8개의 샘플대, 최대 9개의 응용에 적용된다;동적 빔 최적화(DBO) 기술을 사용하여 샘플대를 교체하는 경우에도 0.01°의 각도 편차보다 피크 위치가 우수하도록 설계되고 사용하기 쉬운 소프트웨어로 사용자가 우수한 데이터를 쉽게 얻을 수 있도록 도와줍니다.

D6 PHASER는 활용성과 유연성을 모두 갖춘 혁신적인 데스크탑 X선 회절 플랫폼입니다.D6 PHASER는 기존 데스크탑 회절기와 달리 분말 회절을 능가하는 * 분석 방법을 제공합니다.

D6 PHASER는 강력하고 다기능적이며 사용하기 쉽고 분말, 블록 및 박막 분석의 다양한 응용을 지원하며 변화하는 분석 요구 사항과 새로운 과학 연구에 적합한 새로운 액세서리를 추가할 수 있습니다.

강력한 성능

브룩 BRUKER X선 연사기 XRD D6PHASER는데스크탑 회절기 시장에서 비교적 높은 X선 소스 출력, 작은 반경의 각도 측정기, 성숙한 LYNXEYE 시리즈 탐지기, 그리고 맞춤형 X선 빔 광학 부품을 갖추어 그 전체 성능이 많은 착지식 회절기를 능가한다.

· 내부 냉각 시스템을 포함하여 최대 1.2kW 전원 공급 장치

· 검증된 각도 측정기

· LYNXEYE XE-T 에너지 분별 탐지기

· 옵션 배전동 광학 부품

다기능 데스크탑 엑스선 회절기

D6 PHASER의 상징적인 특징 중 하나는 기본 분말 회절 이외의 다양한 측정 유형을 구현하여 다양한 실험에 실제로 적용 가능한 범용 플랫폼으로 만들 수 있다는 것입니다.

· 반사 및 투사

· 비환경 회절

· 약입사연사(GID), X선 반사율(XRR), 응력, 패브릭

자동 샘플링기는 기기를 켜지 않고 외부에서 샘플을 적재할 수 있도록 한다.또한 컨베이어 벨트 인터페이스를 통해 샘플 링을 자동으로 마운트하고 마운트할 수 있습니다.

간편한 사용

사용자는 교육을 받을 필요가 없습니다.브룩의 간단하고 사용하기 쉬운 소프트웨어와 XRD 분석 방법에 대한 광범위한 이해, 합리적인 가격의 자동화 액세서리를 바탕으로 D6 PHASER는 직관적인 방식으로 사용자가 이러한 분석 방법을 구현할 수 있도록 지도할 수 있다.

· 동적 빔 최적화(DBO)

· 터치 패널 작업

· 견본대 및 광학 부품 전환

D6 PHASER는이점 - 성능 향상

브룩은 D6 PHASER가 다양한 샘플과 실험에 적용될 수 있도록 여러 샘플대와 광학 부품뿐만 아니라 새로운 기계와 전기 연결 인터페이스를 설계했다.이를 통해 D6 PHASER가 기본 분말 회절 이외의 다양한 측정 유형에 적응할 수 있도록 사용자가 직접 시료 테이블을 추가하고 전환할 수 있습니다.

· 고정밀 기계 적재 인터페이스

· 분산 전자 제어 장치 (사전 설치된 전기 커넥터 포함)

· DaVinci 모듈은 사용자가 전환을 완료하도록 유도합니다.

· 재조정 후 2 × 각도 정밀도는 ± 0.01 ° 이내로 보장된다

정교한 기계식 커넥터 및 보관이 편리한 전기 연결

D6 PHASER는이점 - 적합한 2D 솔루션

전통적인 2차원 X선 회절 솔루션은 일반적으로 비교적 큰 탐지기를 사용하여 샘플의 작은 영역을 스캔하는데, 이는 공간이 넓은 대형 회절기에 매우 적합하다.탁상용 연사기에서 2차원 X선 연사는 샘플의 형태 상태를 평가하여 샘플 제조 상황을 통찰하고 반사 법물 상감별에 사용된다.D6 PHASER는 풀 사이즈 빔과 LYNXEYE 시리즈 탐지기의 멤버를 결합하여 2D 회절 이미지를 생성하는 두 가지 형태의 2D 회절인 PHI1D와 RAGG2D를 수행할 수 있습니다.D6 PHASER의 모든 구성은 탐지기, 좁은 틈 발산, 공기 산란 방지 액세서리 또는 샘플 테이블과 관계없이 이 모드를 지원합니다.

· 특별한 요구 사항 없음: LYNXYE 시리즈 탐지기의 모든 구성원과 호환

· 풀 사이즈 빔을 사용하여 고강도 고속 스캔

· 더 큰 빔 크기는 전체 샘플 제조 품질을 적절하게 평가하는 데 도움이됩니다.

· 기존 2D 탐지기 및 소형 빔 사용 시 동일한 정보 제공

분말 연사에 사용할 굵은 입도 샘플을 충분히 제조하지 못했다.빠른 연속 검색 (5분)

D6 PHASER는이점 - 단일 장비뿐만 아니라 실험용 플랫폼

D6 PHASER의 플랫폼화된 디자인은 사용자가 앞으로 여러 해 동안 더 많은 도구와 액세서리를 이용하여 데스크탑 개념을 확장할 수 있도록 한다.새로운 기술이 등장함에 따라 사용자는 D6 PHASER를 확장하기 위해 D6의 기본 시스템을 기반으로 새로운 첨부 파일을 만들 수 있습니다.

반사에서 투사에 이르기까지, 평면에서 포일에 이르기까지, 블록에서 박막에 이르기까지, 상온 상압에서 비환경에 이르기까지 다양한 실험에 적용되는 범용 샘플대.

일련의 고정 및 전동 협봉, 솔라 협봉 및 공기 산란 방지 스크린을 통해 빔 최적화를 쉽게 할 수 있습니다.

D6 PHASER는이점 - 각 결과에 대한 신뢰도 자동 검증

· 전면적인 지도와 우호적인 인터페이스는 사용자가 부품 교체에 대한 자신감을 가지도록 도와줌으로써 기기를 최적화하여 기기를 비교적 큰 한도로 사용할 수 있도록 한다.

· 인증 시작: 이 계측기는 시작할 때 인증 상태를 알 수 없음을 나타내는 노란색 질문 아이콘을 표시합니다.

· 터치스크린 인터페이스: 이 기기는 사용자가 전용 버튼 메커니즘을 사용하여 검증 프로세스를 시작할 수 있도록 편리한 터치스크린 인터페이스를 제공합니다.

· 평가 매개 변수: 검증 과정에서 이 측정 기구는 전체 측정 범위 내의 네 개의 연사 봉의 봉위, 상대 강도와 반 고폭을 평가한다.

· 보고서 및 아이콘 생성: 검증 프로세스가 완료되면 시스템 준비 상태를 시각적으로 보여주는 포괄적인 보고서와 해당 아이콘이 생성됩니다.

· 준비 상태 표시등: 녹색 웃는 얼굴 아이콘은 시스템이 준비되었음을 나타내고 빨간색 눈살 아이콘은 새 참조 값을 입력해야 함을 나타냅니다.빨간색 눈살 찌푸림 아이콘이 표시되면 [교정 및 확인] 버튼을 누르기만 하면 됩니다.이 경우 각도 측정기 축에 대한 교정 절차가 실행됩니다.시스템이 현재 사양 범위 내에 있는지 확인하면 녹색 웃는 얼굴 아이콘이 표시됩니다.

간편한 성능 검증

D6 PHASER는이점 - 자동 분말 회절

X선 회절 측면에서 D6 PHASER 자동 샘플링은 재료의 물상 감정 및 구조 정량 분석에 더 가치 있는 솔루션을 제공합니다.이러한 빠르고 신뢰할 수 있는 측정 결과를 얻는 것이 빅 데이터 계획에 이상적입니다.샘플의 마운트, 측정, 마운트 해제 및 후속 데이터 평가는 자동화되어 테스트 및 분석 시스템과 운영자가 서로 독립적입니다.

DIFFRAC.SUITE 소프트웨어를 통한 계획, 측정 및 분석

브룩의 X선 회절 소프트웨어 솔루션은'계획, 측정, 분석'이라는 개념을 중심으로 사용자에게 빈틈없고 직관적인 사용 경험을 제공하기 위한 것이다.브룩은 X선 회절 분석 방법에 대한 자신의 광범위한 이해를 이용하여 사용자가 분석 과정을 완성하도록 지도하는 데 도움을 주었다.

포괄적이고 안정적인 품질의 DIFFRAC.SUITE 패키지는 사용자가 측정 방법을 쉽게 작성하고 강력하고 정확한 분석 결과를 얻을 수 있도록 효과적으로 지원합니다.

DIFFRAC.SUITE MEASUREMENT CENTER 측정 소프트웨어, 일반 데이터 평가를 위한 DIFFRAC.EVA 소프트웨어, 물상 감별을 위한 COD 데이터베이스를 무작위로 가지고 있으며 소프트웨어 사용 허가 2개(산업 사용자용) 및 소프트웨어 사용 허가 10개(학술 사용자용)를 제공합니다.

D6 PHASER는응용

다양한 샘플 적용: D6 PHASER는 샘플이 어떤 유형에 속하든 평판 반사에서 투사, 블록 샘플에서 필름 및 도금에 이르기까지 해당 액세서리를 조합하여 측정을 완료할 수 있습니다.

분말뿐만 아니라 D6 PHASER 연사기는 물상 감정, 정량 분석, 결정도, 구조 해석 및 정교화, 제자리 분석, 결정 입자 크기, 미시적 응변 분석, 대분포 함수 (PDF), 직조, 잔여 응력, 약입사 연사 (GID), X선 반사율 (XRR) 등에도 사용할 수 있다.