300N & 2kN 수직 3포인트 및 4포인트 벤드

300N & 2kN수직3점 및4점 벤드, 사용SEM

MICROTEST3 점 벤드 및 밀어내기/압축 모듈은 스캐닝 렌즈 또는 광학 현미경에서 샘플의 고응력 영역을 관찰하기 위해 특별히 설계되었습니다.Windows소프트웨어는 제어 매개변수를 설정하고PC화면에 실시간으로 응력 응변 곡선이 표시됩니다.75N도착2kN의하중력 센서대부분의 애플리케이션을 덮어씁니다.변위 속도0.05mm/min도착5mm/min。특수한 버전은 고객의 요구에 따라사용자 정의.모든 모듈은 마이크로 테스트 스트레치 테스트 소프트웨어에 의해 제어됩니다.。

및 모든Deben테스트 모듈과 마찬가지로 제어는 컴퓨터를 통해 사용됨MICROTEST소프트웨어를 테스트하다.

전통적인 세 가지 굽힘에서 시료는 두 개의 바깥쪽에 지탱되고 세 번째 중심점을 아래로 구동하여 변형됩니다.스캐닝 렌즈의 응용에 대해 우리는 이미 역방향 기술을 가지고 있다.

샘플은 중심 고정점에 위치하며 두 외부 점은 아래로 구동됩니다.두 가지 이점이 있습니다. 고응변 관심 영역은 상단에 위치해 있어 쉽게 볼 수 있고 초점이 유지됩니다. 높이가 변하지 않기 때문입니다.

표준 기기의 최대 하중은300N, 변위 속도 부터0.05mm/min도착5mm/min. 높은 하중 버전도 사용 가능2KN다음 하중.표준 샘플 너비는40밀리미터.상단과 하단 펜치 (점) 는 압흔 연구 또는 4 점 구부림 허용과 같은 다양한 샘플 구성을 쉽게 변경할 수 있습니다.

이 모듈은 수직 3점 벤드만 사용하도록 설계되었으며, 수평 3점 벤드의 경우 3점 또는 4점 벤드 클램프를 선택할 수 있는 스트레치를 사용하는 것이 좋습니다.

권장 애플리케이션:

스캔 전자 현미경 (SEM), 광학현미경 및 원자력현미경 등

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