고품질 표징과 샘플 제조의 새로운 선택, 차이스 Crossbeam 330 FIB-SEM 공식 발표!

포커스 빔 제품은"경험 기반" 에서 "데이터 기반" 으로 전환하는 핵심 도구, 에서재료 과학, 생명 과학, 산업 검사,반도체실효 분석 등 분야대체할 수 없는 역할을 발휘하고 있다，그리고고품질 표징, 샘플 제조 및 3차원 재구성정그 광범위하고 핵심적인 응용 장면이다。

채사는 현지화전략을 지속적으로 심화하여 중국시장에서 출발하여 과학연구의 현지화수요를 만족시키기 위해 새로운 초점이온빔스캐닝선글라스 Crossbeam 330을 내놓았다.Crossbeam 330은 고품질 표징, 샘플 제조 등 핵심 장면을 위해 특별히 제작되었습니다.전자렌즈와 이온렌즈를 심층적으로 통합하여 고품질의 영상/단면 분석, TEM 샘플 제조,미나 가공、3D 표징과 같은 응용 수요.특별히 설계된 무누출 자기 렌즈와 렌즈 내 가감속 기술은 자기, 무전도 등 복잡한 샘플에 쉽게 적응할 수 있으며, 복잡한 사전 처리가 필요 없으며, 가공 과정에서 실시간으로 모니터링할 수 있어 고해상도 표징과 정밀 가공을 실현할 수 있다.

삼대특기：

01

“강하다” 표징：고전적인 Gemini 전자 광학 시스템이 제공하는 고품질 이미징 및 포괄적인 샘플 호환성을 통해 FIB에서 우수한 품질을 얻을 수 있습니다.SEM의 이미징 환경

02

"빠른" 제조：양호한 표징 능력과 높은 통량의 이온총을 배합하면 아표면 구조의 빠른 단면 샘플 제조와 고품질 표징을 실현할 수 있다

03

"이용" TEM: 비범하다의 이온 빔 성능은 고품질의 TEM 슬라이버 샘플을 쉽게 제조할 수 있도록 보장합니다.새롭게 개발된 자동화 프로세스와 사용 편의성 소프트웨어를 탑재하면 TEM 슬라이버 샘플 제조의 도전을 크게 줄일 수 있다.

거시적인 전체 분석에서 미시적 기리의 심도 있는 탐구에 이르기까지, 최전방 연구는 척도, 다차원적인 방향으로 비약적으로 발전하고 있으며, 복잡하고 체계적인 표징 수요는 이미 과학 연구 돌파와 공업 혁신에서의 핵심 특징이 되었고, 데이터 분리, 다중 설비 조작 번거로움, 분석 프로세스 파편화 등 현실적 도전을 가져왔다.

Crossbeam은 330은 채사의 다척도, 다모태종합표징해결방안에 빈틈없이 융합될수 있으며 심층련동광학현미경, X선현미경 등 부동한 설비의 독특한 표징우세를 자동화하여 센치메터척도에서 나노척도에 이르는ROI를연속 표현 및 다중 모드 분석，설비 간의 기술 장벽을 허물다.，복잡한 연구 요구를 체계적으로 해결하다.

다중 스케일 연구에 원활하게 통합되어 복잡한 연구 요구 사항을 체계적으로 해결합니다.

X선 현미경 및 초점 이온 빔 스캐닝 렌즈 (XRM-FIB) 관련 프로세스를 통해 배터리 오염 물질의 위치, 노출, 표징 및 분석을 실현합니다.

새로운 차이즈 포커스 이온 빔 스캐닝 렌즈 Crossbeam 330은 우수한 이미징 및 샘플 제조 능력, 더 지능화된 조작 프로세스 및 다중 모드 통합 플랫폼으로신소재, 금속, 신에너지, 지구과학, 전자반도체, 생명과학 등최첨단 분야는 효율적이고 신뢰할 수 있는 원스톱 표징과 가공 솔루션을 제공하여 당신이 더 높은 수준의 과학 연구 돌파와 산업 업그레이드를 실현할 수 있도록 돕습니다.