보미과학기술은 여러가지 영상시험설비를 휴대하고 CIOE 중국광박회에 모습을 드러냈다
이번 CIOE 전시회 현장에는 보미테크놀로지가 멀티스펙트럼 램프박스, 내시경 테스트 시스템 BOMI-TSECIT, 표준 QC 램프 BM03QC 등의 제품을 가지고 전시회에 참가하여 카메라 기술 및 응용 분야에서 이미지 품질 테스트 방면의 축적을 보여주었다.화웨이 기술자와 우리 회사는 개전 상수 구매 항목을 소통하여 구매하였는데, 2개월에 걸친 소통을 거쳐 마침내 확정되었다

LJD 저주파절연 재료개전기 상수 매개체품질 손실 테스트 시스템은S916 테스트 장치(클램프),LJD는유형개전 상수 테스트 호스트, 구성국가 표준에 의거하다.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、미국 표준 ASTM D150 및 국제 전기 공학 위원회 IEC60250의 규정 설계 제작.시스템은 절연재료의 고주파 매체 손실각 탄젠트(tan 델타)와 유전체 상수(ε)를 자동으로 측정하는 솔루션을 제공한다.
일 이 장치에 적용되는 표준
1GBT 1409-2006 전기 절연 재료의 공정 주파수, 오디오, 고주파(미터파 파장 메모리 포함)에서의 커패시터 및 미디어 손실 인수를 측정하는 권장 방법
2GBT 1693-2007 황화고무 매개전기 상수 및 매체 손실각 정절값 측정방법
3 ASTM-D150 - 개전 상수 측정 방법
4GB9622.9-88/SKT 11043-1996 전자유리 고주파 매체 손실 및 매체 상수 측정 방법












