재료과학 분야의 핵심 도구인 정치금상현미경의 조명 기술은 영상의 질과 분석 효율에 직접적인 영향을 미친다.현재 주류 조명 기술은 명장 조명, 암장 조명, 편광 조명 및 미분 간섭 (DIC) 조명을 포함하며, 각 기술은 독특한 광로 설계를 통해 특정 분석 수요를 실현한다.

명장조명은 정치현미경의 기초모식으로서 광선이 집광경을 거쳐 집결된후 수직으로 견본을 비추고 반사광선이 물경을 통해 밝은 시각을 형성한다.이 기술은 광택 후 침식된 금속 시료를 관찰하는 데 적용되며, 결정계, 상계 등의 구조를 선명하게 나타낼 수 있다.공경 광맹을 조절하여 광속의 공경각을 제어함으로써 해상도와 경심의 균형을 최적화할 수 있다.

암장 조명은 고리형 광맹을 통해 빛을 사선으로 샘플을 발사하고, 산란광만 물경에 들어가 높은 대비도의 어두운 배경 이미지를 형성한다.이 기술은 표면 결함, 미세 석출물 검사에 강점이 있는데, 예를 들어 알루미늄 합금에서 직경 1μm 미만의 혼합물을 선명하게 관찰할 수 있다.암장 모드에서는 시야 광맹을 닫아 잡산광 방해를 줄여야 한다.

편광 조명은 기편경과 검편경을 삽입하여 결정체의 이중 굴절 특성을 이용하여 재료를 분석하여 구성한다.강철재료연구에서 편광기술은 철소체, 오씨체 등 각방향의 이성상을 구분할수 있으며 각도회전측정과 결부하여 정량계산비례를 계산할수 있다.

미분간섭조명(DIC)은 오라스톤 프리즘을 통해 빔을 편광 두 다발로 나누어 시료가 반사되면 위상차가 발생해 부조 효과 이미지를 형성한다.이 기술은 표면 형태에 민감해 반도체 웨이퍼 검사에서 0.1μm 단계의 계단 높이 변화를 식별할 수 있다.

사용 설명서:

기초관찰은 명장모식을 우선적으로 선택하고 5X-100X 물경과 배합하여 거시로부터 미시에 이르는 련속적인 관측을 실현한다.

결함 감지를 어두운 모드로 전환하여 낮은 명암비 결함의 가시도를 높입니다.

크리스털 분석은 편광 장치를 활성화하고 회전 캐리어와 결합하여 상호 감정을 완료합니다.

표면 형태는 3D 재구성 기능을 통해 표면의 거친 정도를 계량화하는 DIC 기술을 사용한다.

실제 사용 시 주의: 콜러 조명 교정은 시야의 균일성을 확보할 수 있다;필터 선택 (예: 녹색 필터) 은 특정 구조의 대비를 향상시킵니다.정기적으로 스폿 렌즈와 광맹 구성 요소를 청소하면 시스템 성능을 유지할 수 있습니다.다중모드조명조합을 통해 정치금상현미경은 기초연구에서 공업품질검사에 이르는 다원화수요를 만족시킬수 있다.