다기능 엑스선 흡수 스펙트럼(XAFS/XES) 는 X선과 물질의 상호작용을 기반으로 하는 첨단 분석 기기로, X선 에너지를 세밀하게 조절하여 샘플 중 특정 원소의 전자 약진을 자극하고, X선을 발사하는 에너지와 강도를 측정하여 원소의 가격, 배위 환경, 화학 키 유형 및 국부 전자 구조 등 핵심 정보를 획득한다.

X선이 시료를 통과할 때 특정 에너지의 방사선은 원자에 흡수되어 전자의 약진을 유발하고 특정 파장의 X선을 발사한다.이 발사된 X선은 시료의 원자 구조와 전자 상태 정보를 가지고 있다.흡수 스펙트럼 선의 모양, 위치 및 강도를 분석하여 원자 척도에서 물질의 구조적 특성을 밝혀낼 수 있습니다.XAFS 스펙트럼은 주로 두 부분으로 구성됩니다.

X선 흡수 근접 구조 (XANES): 흡수 변 앞 약 10 eV에서 흡수 변 뒤 약 50 eV의 범위를 포함하며, 주로 내부 하우징 광전자가 주변 원자와 흡수 원자 사이의 단일 전자 다중 산란 효과에서 유래하며 원소의 화학 상태와 가격을 분석하는 데 사용됩니다.

확장 X선 흡수 정밀 구조 (EXAFS): 에너지 범위는 흡수 모서리 후 50eV에서 1000eV로 내부 광전자가 주변 원자와 흡수 원자 사이의 단일 전자 단일 산란 효과에서 유래하여 원자 주변 국부 환경의 배위 구조를 분석하는 데 사용된다.

　　다기능 엑스선 흡수 스펙트럼특징:

다중 모드 지원: 투과/형광 모드 흡수 스펙트럼, 발사 스펙트럼을 지원하여 고체, 액체, 가스와 같은 다양한 샘플 유형 및 테스트 요구에 적합합니다.

근접 스캔 기능: XANES 데이터를 신속하게 검색하여 테스트 효율성을 향상시킵니다.

다중 샘플 자동 채집: 맞춤형 다중 샘플 자동 샘플링 시스템, 인공 조작을 줄이고 통량을 향상시킵니다.

샘플 데이터베이스 및 데이터 해석 지침: 표준 샘플 데이터베이스를 제공하여 사용자 분석 프로세스를 간소화합니다.기본 시나리오 사용자 정의를 지원하고 전문 데이터 분석 지침을 제공합니다.

제자리 테스트 능력: 고온, 고압, 저온, 저압 및 각종 분위기 조건에서의 샘플 풀을 배합하여 반응 과정의 제자리 관찰을 실현할 수 있다.