엑스선 발사 분광기(XES) 화학 분석에서 높은 원소 감도와 화학 상태 분별력을 바탕으로 물질의 구성, 구조 및 반응 메커니즘을 연구하는 핵심 도구가되었습니다.

　　엑스선 발사 분광기화학 상태 분석 및 미세 영역 분석:

화학적 분별력

XES는 피쳐 X선의 화학적 변위 (즉, 스펙트럼 피크 오프셋) 를 측정하여 동일한 요소의 다른 산화 상태 또는 배위 환경을 구분합니다.예:

철의 산화 상태: Fe²⁺(예: FeO)와 Fe³⁺(예: Fe₂O등)의 Kα 발사선 에너지 차이는 약 1~2eV이며, XES는 명확하게 분별할 수 있다.

황의 가격: S²⁻(황산화물)과 SO₄²⁻(황산염)의 SKα선은 에너지 차이가 현저하여 환경오염물 소원에 사용된다.

미세 영역 및 무손실 분석

XES는 스캔 전자현미경(SEM) 또는 투과 전자현미경(TEM)과 결합해 마이크로미터에서 나노미터급 영역까지 화학적 매핑을 구현해 재료의 불균등성을 드러낸다.

복잡한 샘플 제조가 필요하지 않으며 아삭아삭하거나 이질 재료 (예: 도자기, 생체 조직) 의 무손실 분석에 적용됩니다.