스펙트럼 계

실시간 전자 이미지 및 요소 분포 이미지 렌더링

u전자 이미지 및 요소 분포도 동시 렌더링 (둘 다 자주 전환할 필요 없음)

유연한 기록

u샘플을 빠르게 스캔할 때 잠시 멈추면 고품질 요소 분포도를 얻을 수 있다

경로 레코드

u위치 정보와 해당 위치의 요소 정보를 자동으로 기록하여 관심 있는 피쳐를 빠뜨리지 않음

u서로 다른 밝기로 요소 함량의 분포 상황을 나타내어 일목요연하다

u관심 있는 위치를 선택하고 클릭 한 번으로 돌아가기

Ultim@Max하드웨어 지원

u대면적 스펙트럼 효율 효과가 좋으며, 원소면 분포도를 실시간으로 얻을 수 있는 하드웨어 보증이다

Ultim® 맥스 프로브는 더 큰 SDD 결정체와 고감도 Extreme 집적 회로를 채택했다

u더 큰 결정 유효 면적(40mm²,65mm²,100 mm²,170mm²) 모든 경우의 높은 계수율 보장

u저소음X선 탐지는 최대 400kcps의 계수율에서 가장 정확한 결과를 제공합니다.

u정성 분석 계수율이 높음1000 Kbps

결정 면적이 결과에 미치는 영향이 뚜렷하다

u와10mm²동일한 조건에서 동일한 영역을 분석하는 프로브보다170mm²탐지기:

u시간을 원래대로 단축하다1/17

u번들 민감한 샘플에 대해 번들은 원래6%, 샘플 손상 감소，샘플 탄소 오염 감소

어려운 샘플의 분석을 단순화

u저전압 성능: 나노 재료, 비전도 샘플, 더 적은 샘플 손상

u고감도: 경량 및 나노 소재

u향상SEM-EDS는 경량 요소 및 나노 재료의 분석 능력

uUltim Extreme 창 없는 스펙트럼은 저전압 하부 저에너지 X선 민감성을 가지고 있다

다양한 영역, 동일한 에너지 해상도

u모든Ultim@ Max 탐측기는 모두 같은 에너지 해상도를 가지고 있다

un Ka 에너지 해상도 보장 127eV @130000cpsFKa 에너지 해상도 보장64eV@130,000cps

uCKa 에너지 해상도 보장56eV@130,000cps